光学拾取装置及其聚焦控制方法制造方法及图纸

提供了一种光学拾取装置及其聚焦控制方法，其能够确定由聚焦误差信号的串扰导致的ＤＣ偏移，基于该确定来消除该ＤＣ偏移，纠正由副光束的干涉导致的主光束的聚焦误差信号中的误差，从而能够执行最佳的聚焦跟踪。为此，该光学拾取装置包括：至少一个或多个光源；衍射光学元件，用于将来自所述光源的光衍射为多束光束；物镜，用于会聚由衍射光学元件衍射的所述多束光束；光电检测器，用于检测从盘反射的所述多束光束；和辅助光电检测器，用于检测从盘反射的所述多束光束，以执行由所述光电检测器获得的聚焦误差检测信号的误差纠正。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种光学拾取装置。更具体地讲，本专利技术涉及将由副光束(sidebeam)的干涉导致的聚焦误差信号的检测误差最小化的一种光学拾取装置和一种聚焦控制方法。
技术介绍
光学拾取装置安装在光学记录和/或再现设备中，从而该光学拾取装置将信息记录在光学信息记录介质中或从该光学信息记录介质再现信息。光学拾取装置当将信息记录在光学信息记录介质中或从该光学信息记录介质再现信息时还执行聚焦误差信号和寻轨(tracking)误差信号的检测。即，光学拾取装置通过基于聚焦误差信号的检测的聚焦伺服和基于寻轨误差信号的检测的寻轨伺服，来准确地将信息记录在光学信息记录介质中或从该光学信息记录介质再现信息。因此，光学记录和/或再现设备的提高的性能取决于如何实现聚焦伺服和寻轨伺服。通常，光学拾取装置包括光源；物镜，用于将来自光源的光束会聚到光学信息记录介质的记录面上；和接收光学元件，用于从被光学信息记录介质反射并经过物镜的光束检测信息信号和误差信号。在光学拾取装置中执行聚焦伺服，以获得如图1所示的光束的各种形状。光束形状根据伺服驱动而改变。光学拾取装置包括光栅，其将来自光源的光束分为三束光束，以将光学信息记录在诸如CD、CD-RW和DVD等的光学信息记录介质中，或者从该光学信息记录介质再现光学信息。如图2A和图2B所示，三个光电检测器接收该三束分离的光束。因此，三个光电检测器根据形成在其上的光束形状来检测聚焦误差信号。通常，如图3所示，当图2的被分离的三束光束仅在各自相应的光电检测器内被接收到时，在来自光电检测器的信号中不存在DC偏移。但是，如果由副光电检测器2和4接收到的副光束的一部分被主光电检测器1接收到，如图2B所示，那么副光束会干涉主光束。具体地讲，如图2B所示，来自主光束的信号将具有DC偏移，该DC偏移由副光束干涉产生的串扰的量5所导致。这导致聚焦误差信号的误差。因此，如果发生副光束干涉，那么由于聚焦误差信号的误差而使光学拾取装置不能准确地执行聚焦操作，由此降低光学记录/再现设备的性能。因此，需要这样一种改进的光学拾取装置，其通过使用辅助光电检测器，来将聚焦误差信号中的串扰所产生的DC偏移最小化，该串扰由在使用三束光束的光学拾取器中快速改变光束大小而导致。
技术实现思路
本专利技术的一方面在于解决至少以上问题和/或缺点，并提供至少下面描述的优点。因此，本专利技术的一方面在于提供一种，其能够确定由聚焦误差信号的串扰导致的DC偏移，并且基于该确定来执行DC偏移的消除以将DC偏移最小化。本专利技术的另一方面在于提供一种，其能够纠正由副光束的干涉导致的主光束的聚焦误差信号中的误差，从而能够执行最佳的聚焦跟踪。根据本专利技术的实施例，可通过提供一种光学拾取装置来实现以上和/或其它方面，该光学拾取装置包括至少一个或多个光源；衍射光学元件，用于将来自所述光源的光衍射为多束光束；物镜，用于会聚由衍射光学元件衍射的所述多束光束；光电检测器，用于检测从盘反射的所述多束光束；和辅助光电检测器，用于检测从盘反射的所述多束光束，以执行由所述光电检测器获得的聚焦误差检测信号的误差纠正。最好，光电检测器可包括主光电检测器以及位于所述主光电检测器的两端的第一和第二副光电检测器。最好，主光电检测器以及第一和第二副光电检测器每个被形成为四分结构。最好，辅助光电检测器可位于光电检测器的一端，其中，光电检测器的所述一端位于所述多束光束没有被衍射的位置。最好，辅助光电检测器可位于主光电检测器以及第一和第二副光电检测器的一端。最好，辅助光电检测器与主光电检测器以及第一和第二副光电检测器的所述一端隔开预定距离，所述预定距离与主光电检测器和第一或第二副光电检测器之间的距离相等。最好，所述多束光束包括主光束以及第一和第二副光束。最好，如果辅助光电检测器位于第一和第二副光电检测器的一端，那么通过从聚焦误差检测信号中减去辅助光电检测器检测的光的量的两倍，来执行聚焦误差检测信号的误差纠正，其中，从光电检测器检测的光的量获得所述聚焦误差检测信号。最好，如果辅助光电检测器位于主光电检测器的一端，那么通过从聚焦误差检测信号中减去由预定常量相乘的辅助光电检测器检测的光的量，来执行聚焦误差检测信号的误差纠正，其中，从光电检测器检测的光的量获得所述聚焦误差检测信号。根据本专利技术的一方面，提供一种光学拾取装置的聚焦控制方法，其包括以下步骤将来自光源的光分为主光束以及第一和第二副光束；将主光束以及第一和第二副光束照射到盘上；使用光电检测器和辅助光电检测器来检测从盘反射的主光束以及第一和第二副光束；使用由辅助光电检测器检测的光的量来执行光电检测器的聚焦误差检测信号的误差纠正。最好，光电检测器包括主光电检测器以及位于所述主光电检测器的两端的第一和第二副光电检测器。最好，辅助光电检测器位于主光电检测器以及第一和第二副光电检测器的一端。最好，辅助光电检测器与主光电检测器以及第一和第二副光电检测器的所述一端隔开预定距离，所述预定距离与主光电检测器和第一或第二副光电检测器之间的距离相等。最好，如果辅助光电检测器位于第一和第二副光电检测器的一端，那么通过从聚焦误差检测信号中减去辅助光电检测器检测的光的量的两倍，来执行聚焦误差检测信号的误差纠正，其中，从光电检测器检测的光的量获得所述聚焦误差检测信号。最好，如果辅助光电检测器位于主光电检测器的一端，那么通过从聚焦误差检测信号中减去由预定常量相乘的辅助光电检测器检测的光的量，来执行聚焦误差检测信号的误差纠正，其中，从光电检测器检测的光的量获得所述聚焦误差检测信号。从下面详细的描述中，本专利技术的其它目的、优点和显著的特点对于本利领域的技术人员是明显的，下面详细的描述结合附图公开了本专利技术的示例性 附图说明通过结合附图，从下面的描述中，本专利技术特定实施例的以上和其它目的、特点及优点将会变得清楚，其中图1是示出基于聚焦信号的产生的光束形状的视图；图2A和图2B是示出由光电检测器检测的传统的光束图样的视图；图3是分别根据图2A和图2B的光束图样的聚焦误差信号的视图；图4是示出根据本专利技术示例性实施例的光学拾取装置的视图；图5是示出根据本专利技术示例性实施例的光电检测器的视图；和图6A和图6B是描述使用图5中的光电检测器来检测聚焦误差信号的视图。在整个附图中，应该理解，相同的附图标号表示相同的部件、特征和结构。具体实施例方式在描述中所定义的事物如详细结构或部件被提供以有助于对本专利技术的实施例进行全面地理解。因此，本领域的普通技术人员应该认识到，在不脱离本专利技术的范围和精神的情况下，可以对在此描述的实施例进行各种变化和修改。另外，为了清楚和简明，省略了对公知的功能或结构的描述。图4是示出根据本专利技术示例性实施例的光学拾取装置的视图，该光学拾取装置使用具有不同厚度的第一光盘10a和第二光盘10b。该光学拾取装置包括辐射波长不同的第一光源54和第二光源64。例如，第一光源54可被设置有发出大约650nm的光的激光二极管，第二光源64可被设置有发出大约780nm的光的激光二极管。从第一光源54和第二光源64发出的光相应地施加到第一光盘10a和第二光盘10b。这里，第一光盘10a是DVD光盘系列，第二光盘10b是CD光盘系列。更具体地讲，从第一光源54发出的光通过作为执行光透射和反射的光路转换器的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学拾取装置，包括：至少一个或多个光源；衍射光学元件，用于将来自所述光源的光衍射为多束光束；物镜，用于将由衍射光学元件衍射的所述多束光束会聚到盘上；光电检测器，用于检测从盘反射的所述多束光束；和辅助光电检测器，用于检测从盘反射的所述多束光束，以执行由所述光电检测器获得的聚焦误差检测信号的误差纠正。

【技术特征摘要】
KR 2005-1-17 10-2005-00043291.一种光学拾取装置，包括至少一个或多个光源；衍射光学元件，用于将来自所述光源的光衍射为多束光束；物镜，用于将由衍射光学元件衍射的所述多束光束会聚到盘上；光电检测器，用于检测从盘反射的所述多束光束；和辅助光电检测器，用于检测从盘反射的所述多束光束，以执行由所述光电检测器获得的聚焦误差检测信号的误差纠正。2.根据权利要求1所述的光学拾取装置，其中，所述光电检测器包括主光电检测器以及位于所述主光电检测器的两端的第一和第二副光电检测器。3.根据权利要求2所述的光学拾取装置，其中，主光电检测器以及第一和第二副光电检测器每个被形成为四分结构。4.根据权利要求1所述的光学拾取装置，其中，辅助光电检测器位于光电检测器的一端，其中，光电检测器的所述一端位于所述多束光束没有被衍射的位置。5.根据权利要求2所述的光学拾取装置，其中，辅助光电检测器位于主光电检测器以及第一和第二副光电检测器的一端。6.根据权利要求5所述的光学拾取装置，其中，辅助光电检测器与主光电检测器以及第一和第二副光电检测器的所述一端隔开预定距离，所述预定距离与主光电检测器和第一或第二副光电检测器之间的距离相等。7.根据权利要求6所述的光学拾取装置，其中，所述多束光束包括主光束以及第一和第二副光束。8.根据权利要求7所述的光学拾取装置，其中，如果辅助光电检测器位于第一和第二副光电检测器的一端，那么通过从聚焦误差检测信号中减去由辅助光电检测器检测的光的量的两倍，来执行聚焦误差检测信号的误差纠正，其中，从光电检测器检测的光的量获得所述聚焦误差检测信号。9.根据权利要求7所述的光学拾取装置，其中，如果辅助光电检测器位于主光电检测器的一端，那么通过从聚焦误差检测信号中减去由预定常量相乘的辅助光电检测器检测的光的量，来执行聚焦误差检测信号...

【专利技术属性】
技术研发人员：朴城秀，安荣万，刘长勋，洪政佑，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：KR[]