【技术实现步骤摘要】
本技术属于光学元件检测，特别涉及一种光学元件检测装置。
技术介绍
1、光学元件是光学系统的基本组成单元，也叫光学零件，这种元器件经常可以起到成像的作用，如透镜、棱镜、反射镜等，光学元件生产过程中往往需要对光学元件的侧边平整度进行检测和打磨，使光学元件符合使用需求。
2、经检索，现有技术中，中国申请号：cn202120987869.5，申请日：2021-05-11，公开了一种光学元件外观检测装置，包括底座、夹具固定座、夹具定位装置、夹具移动装置、光学显微镜和显微镜调节装置；所述的底座上设置夹具移动装置；所述的夹具固定座安装于所述的夹具移动装置上；所述的夹具固定座上设置夹具定位装置；所述的夹具固定座的上方设置有光学显微镜；所述的光学显微镜通过显微镜调节装置安装于所述的底座上。本技术机构紧凑，将装有光学元件的装夹通过夹具定位装置3固定安装到夹具固定座内，然后夹具移动装置驱动，通过上方的光学显微镜进行检测，既可以进行光学元件的外观检测。
3、但该装置仍存在以下缺陷：虽然可以进行光学元件的外观检测，但是该装置无法对光学元件的侧边进行平整度检测。
技术实现思路
1、针对上述问题，本技术提供了一种光学元件检测装置，包括工作台，所述工作台上固定连接有第一固定架，所述第一固定架的另一侧转动连接有第一转盘，所述第一转盘上固定连接有第一电动推杆，所述第一电动推杆位于第一转盘的中轴线中心处，所述第一电动推杆的输出端传动连接有第一夹持块，所述工作台上固定连接有第二固定架，所述第二固定
2、所述第一固定架与第二固定架之间设置有电动滑台，所述电动滑台的输出端传动连接有第二电动推杆，所述第二电动推杆的输出端传动连接有安装架，所述安装架上安装有检测机构与打磨机构，所述检测机构与打磨机构分别位于安装架的两端。
3、进一步的，所述第一固定架的一侧安装有第一电机，所述第一转盘的中轴线中心处与第一电机的输出端传动连接。
4、进一步的，所述检测机构包括箱体与若干组检测球，所述箱体的内部开设有若干组检测孔。
5、进一步的，若干组所述检测孔的内壁顶端均固定连接有压力传感器，若干组所述检测球分别与若干组检测孔的内壁滑动贴合。
6、进一步的，若干组所述检测球与压力传感器之间均设置有弹簧，若干组所述检测球的外壁底端与光学元件的侧边活动贴合。
7、进一步的，所述打磨机构包括支架，所述支架的一侧固定连接有第二电机，所述支架上转动连接有转轴。
8、进一步的，所述转轴的端部与第二电机的输出端传动连接，所述转轴上固定连接有打磨轮，所述转轴贯穿打磨轮的中轴线中心处。
9、本技术的有益效果是：
10、1、通过第一电动推杆带动第一夹持块向第二夹持块移动，使光学元件夹持在第一夹持块与第二夹持块之间，通过电动滑台带动第二电动推杆移动，使检测机构调整到光学元件的正上方，通过第二电动推杆带动安装架移动，使检测机构接触到光学元件的侧边表面，对光学元件进行平整度的检测，通过第一电机带动第一转盘转动，使光学元件进行旋转，使检测机构对光学元件侧边的不同位置进行平整度检测。
11、2、通过使检测机构接触光学元件的侧边表面，使检测球与光学元件的侧边表面活动贴合，当检测球接触到光学元件的凸起位置时，检测球向上移动，对弹簧产生抵触作用力，使弹簧对压力传感器产生抵触作用力，并传递压力值信号，通过控制器关闭第一电机，并通过电动滑台带动安装架移动，使打磨机构接触到光学元件侧边的表面，通过第二电机带动打磨轮旋转，使打磨轮对光学元件的侧边凸起处进行打磨，使该装置可对光学元件侧边平整度进行检测同时，能对光学元件侧边进行打磨，使光学元件的侧边满足平整度的标准。
12、本技术的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本技术而了解。本技术的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所指出的结构来实现和获得。
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1.一种光学元件检测装置，包括工作台(1)，其特征在于：所述工作台(1)上固定连接有第一固定架(2)，所述第一固定架(2)的另一侧转动连接有第一转盘(5)，所述第一转盘(5)上固定连接有第一电动推杆(6)，所述第一电动推杆(6)位于第一转盘(5)的中轴线中心处，所述第一电动推杆(6)的输出端传动连接有第一夹持块(7)，所述工作台(1)上固定连接有第二固定架(3)，所述第二固定架(3)的一侧转动连接有第二转盘(8)，所述第二转盘(8)的中轴线中心处固定连接有支撑杆(9)，所述支撑杆(9)的另一端固定连接有第二夹持块(10)，所述第二夹持块(10)与第一夹持块(7)之间活动卡接有光学元件；
2.根据权利要求1所述的一种光学元件检测装置，其特征在于：所述第一固定架(2)的一侧安装有第一电机(4)，所述第一转盘(5)的中轴线中心处与第一电机(4)的输出端传动连接。
3.根据权利要求1所述的一种光学元件检测装置，其特征在于：所述打磨机构(15)包括支架(151)，所述支架(151)的一侧固定连接有第二电机(152)，所述支架(151)上转动连接有转轴(153)。p>
4.根据权利要求3所述的一种光学元件检测装置，其特征在于：所述转轴(153)的端部与第二电机(152)的输出端传动连接，所述转轴(153)上固定连接有打磨轮(154)，所述转轴(153)贯穿打磨轮(154)的中轴线中心处。
...【技术特征摘要】
1.一种光学元件检测装置，包括工作台(1)，其特征在于：所述工作台(1)上固定连接有第一固定架(2)，所述第一固定架(2)的另一侧转动连接有第一转盘(5)，所述第一转盘(5)上固定连接有第一电动推杆(6)，所述第一电动推杆(6)位于第一转盘(5)的中轴线中心处，所述第一电动推杆(6)的输出端传动连接有第一夹持块(7)，所述工作台(1)上固定连接有第二固定架(3)，所述第二固定架(3)的一侧转动连接有第二转盘(8)，所述第二转盘(8)的中轴线中心处固定连接有支撑杆(9)，所述支撑杆(9)的另一端固定连接有第二夹持块(10)，所述第二夹持块(10)与第一夹持块(7)之间活动卡接有光学元件；
2.根据...
【专利技术属性】
技术研发人员：雷茸粮，谢强，胡廷辉，
申请(专利权)人：成都同力精密光电仪器制造有限公司，
类型：新型
国别省市：
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