【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于控制器测试，更具体地，涉及一种嵌入式控制器测试方法及系统。
技术介绍
1、外设接口通用型嵌入式控制器是一种针对监测类电气设备专门研制的核心控制器件，为了保证嵌入式控制器的质量和性能，需要对其进行全面可靠的测试。
2、传统的嵌入式控制器测试方法通常是人工对产品所有接口通道逐一手动进行硬件测试的方式，存在量大耗时测试效率低、多人配合操作测试成本高、方法不当使得测试结果不准确等问题，且在产品批产阶段传统人工手动测试问题更加凸显。
技术实现思路
1、针对现有技术的缺陷，本专利技术的目的在于提供一种嵌入式控制器测试方法及系统，旨在解决传统的嵌入式控制器测试方法存在的测试效率低、测试成本高、结果不准确等问题。
2、为实现上述目的，第一方面，本专利技术提供了一种嵌入式控制器测试方法，包括以下步骤：
3、步骤s101，在测试界面中显示用户可选的嵌入式控制器的多个型号和多个测试项目；
4、步骤s102，接收用户在测试界面所选型号和所选测试项目，并响应于用户的命令发送请求，基于所选测试项目确定对应的测试命令数据；
5、步骤s103，将所述测试命令数据进行打包，将打包后的测试命令数据发送给所选型号的嵌入式控制器，以供嵌入式控制器基于测试命令数据进行测试，并返回测试结果数据；
6、步骤s104，解析测试结果数据，将解析后的测试结果数据显示在所述测试界面中。
7、在一个可选的示例中，所述多个测试项目包括数字量输
8、在一个可选的示例中，在所选测试项目为数字量输入测试或数字量输出测试的情况下，测试结果数据包括电压；在所选测试项目为模拟量输入测试的情况下，测试结果数据包括电流、采样频率和精度；在所选测试项目为多模光口测试的情况下，测试结果数据包括波长、发光强度和接收灵敏度；在所选测试项目为嵌入式网口测试的情况下，测试结果数据包括响应时间和生存时间。
9、在一个可选的示例中，步骤s104中将解析后的测试结果数据显示在所述测试界面中，具体包括：
10、根据报文协议获取数据长度；
11、从解析后的测试结果数据中获取数据长度的测试结果数据；
12、根据报文协议获取校验码；
13、对测试结果数据通过校验码进行校验，若校验通过则将测试结果数据显示在所述测试界面中。
14、在一个可选的示例中，步骤s104之后还包括：
15、在预设时段内，对测试结果数据的稳定性进行测试，获得性能测试结果；
16、将所述性能测试结果显示在所述测试界面中。
17、在一个可选的示例中，所述测试界面具体通过qt框架构建。
18、第二方面，本专利技术提供一种嵌入式控制器测试系统，包括：
19、测试界面模块，用于在测试界面中显示用户可选的嵌入式控制器的多个型号和多个测试项目；
20、发送命令数据模块，用于接收用户在测试界面所选型号和所选测试项目，并响应于用户的命令发送请求，基于所选测试项目确定对应的测试命令数据；将所述测试命令数据进行打包，将打包后的测试命令数据发送给所选型号的嵌入式控制器，以供嵌入式控制器基于测试命令数据进行测试，并返回测试结果数据；
21、解析结果数据模块，用于解析测试结果数据，将解析后的测试结果数据显示在所述测试界面中。
22、在一个可选的示例中，所述测试界面模块中多个测试项目包括数字量输入测试、数字量输出测试、模拟量输入测试、多模光口测试和嵌入式网口测试。
23、在一个可选的示例中，所述解析结果数据模块具体用于：
24、根据报文协议获取数据长度；
25、从解析后的测试结果数据中获取数据长度的测试结果数据；
26、根据报文协议获取校验码；
27、对测试结果数据通过校验码进行校验，若校验通过则将测试结果数据显示在所述测试界面中。
28、在一个可选的示例中，所述测试界面模块具体通过qt框架构建。
29、总体而言，通过本专利技术所构思的以上技术方案与现有技术相比，具有以下有益效果：
30、本专利技术提供一种嵌入式控制器测试方法及系统，通过在测试界面上集成多种嵌入式控制器型号以及测试项目供用户选择，提高了测试的灵活性，实现了在服务端界面发送命令数据和接收、解析控制器回传的数据并进行显示的功能，相对传统的纯人工硬件测试而言，界面操作简易且使用省时省力，能够长时间运行和测试嵌入式控制器的稳定性能，具有易用性、可靠性和普适性的特点，可以降低测试人力和时间成本，提高测试效率，保证测试结果的准确性和连续性，可以帮助测试人员高效和准确完成嵌入式控制器的测试任务。
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1.一种嵌入式控制器测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述多个测试项目包括数字量输入测试、数字量输出测试、模拟量输入测试、多模光口测试和嵌入式网口测试。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在所选测试项目为数字量输入测试或数字量输出测试的情况下，测试结果数据包括电压；在所选测试项目为模拟量输入测试的情况下，测试结果数据包括电流、采样频率和精度；在所选测试项目为多模光口测试的情况下，测试结果数据包括波长、发光强度和接收灵敏度；在所选测试项目为嵌入式网口测试的情况下，测试结果数据包括响应时间和生存时间。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤S104中将解析后的测试结果数据显示在所述测试界面中，具体包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，步骤S104之后还包括：
6.根据权利要求1至5任一项所述的方法，其特征在于，所述测试界面具体通过QT框架构建。
7.一种嵌入式控制器测试系统，其特征在于，包括：
8.根据权利要求7所述的系统，其特
9.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述解析结果数据模块具体用于：
10.根据权利要求7至9任一项所述的系统，其特征在于，所述测试界面模块具体通过QT框架构建。
...【技术特征摘要】
1.一种嵌入式控制器测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述多个测试项目包括数字量输入测试、数字量输出测试、模拟量输入测试、多模光口测试和嵌入式网口测试。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在所选测试项目为数字量输入测试或数字量输出测试的情况下，测试结果数据包括电压；在所选测试项目为模拟量输入测试的情况下，测试结果数据包括电流、采样频率和精度；在所选测试项目为多模光口测试的情况下，测试结果数据包括波长、发光强度和接收灵敏度；在所选测试项目为嵌入式网口测试的情况下，测试结果数据包括响应时间和生存时间。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤s104中将解...
【专利技术属性】
技术研发人员：韦爱俐，顾阳，李存雪，
申请(专利权)人：湖北三江航天万峰科技发展有限公司，
类型：发明
国别省市：
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