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基于一体式双偏振分光组件的外差激光干涉仪及测量方法技术

技术编号:40417988 阅读:6 留言:0更新日期:2024-02-20 22:35
基于一体式双偏振分光组件的外差激光干涉仪及测量方法,属于激光应用技术领域。本发明专利技术解决了现有的空间分离式外差激光干涉仪难以同时满足传感测头体积小、易于集成、热稳定性好及亚纳米级周期非线性误差需求的问题。技术要点:一体式双偏振分光组件的第一偏振分光棱镜和第二偏振分光棱镜并列设置,第一偏振分光棱镜上贴附有第一偏振片、第三偏振片、第一四分之一波片;第二偏振分光棱镜上贴附有第二偏振片、第四偏振片、第二四分之一波片;第一四分之一波片和第二四分之一波片的输出光路上目标反射镜,第三四分之一波片和第四四分之一波片的输出光路上设置有光电探测器。本发明专利技术设计装调更加灵活并降低了加工难度和加工误差。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种外差激光干涉仪及测量方法,具体涉及一种基于一体式双偏振分光组件的外差激光干涉仪及测量方法,属于激光应用。


技术介绍

1、外差干涉仪具有较大的动态范围、高精度、高信噪比和抗干扰强等优点。目前,在微机电系统、大型集成电路制造装备等许多领域都需要进行高精度和高稳定性的测量,外差干涉仪是最常见且测量精度最高的测试仪器。随着高端装备工程的不断发展,制造技术和精密工程对外差干涉仪提出了到亚纳米深亚纳米级位移测量分辨率测量精度需求。

2、传统外差干涉仪的亚纳米性能受到纳米级周期非线性误差的限制,周期非线性源于干涉光路中的光学混叠,为了减少周期性误差,国内外学者相继研发了不同类型的空间分离式外差干涉仪,相比传统的外差激光干涉仪,它们的周期非线性误差降低,但考虑到高度集成性、小体积传感测量等需求,目前外差干涉仪都存在一定的局限性。

3、美国学者steven r.gillmer等研制的外差激光干涉仪(development of a novelfiber-coupled three degree-of-freedom displacement interferometer.universityof rochester master thesis,2013)结构简单,光路对称且热稳定性良好,但仅将周期非线性误差降低至0.5nm,并没有显著领先于传统外差干涉仪。

4、德国学者christoph weichert等设计的外差激光干涉仪(a heterodyneinterferometer with periodic nonlinearities smaller than±10pm.meas.sci.technol.,2012,23(9):094005-094011)周期非线性误差小于10pm,但其结构复杂、元件定制和集成装配难度大,并且各光学元件分离或集成后导致该外差激光干涉仪的体积增大,并且降低了热稳定性。

5、清华大学的赵世杰等设计的外差激光干涉仪(green laser interferometricmetrology system with sub-nanometer periodic nonlinearity[j].applied optics,2016,55(11):3006-3011)将周期非线性降低至0.1nm,虽然其各干涉测量组件集成到一个棱镜上,但体积较大,而且光学面设计加工复杂,热稳定性差

6、此外,哈尔滨工业大学学者胡鹏程等在专利cn111442715b中提出了一种空间分离式外差激光干涉仪,显著降低了周期非线性误差且热稳定性良好,但诸如角锥棱镜等复杂光学元件较多,不易集成,不适用于小体积传感测量需求。

7、综上所述,现有的空间分离式外差激光干涉仪均难以同时满足传感测头体积小、易于集成、热稳定性好及亚纳米级周期非线性误差的需求,外差激光干涉仪的综合测量能力受严重限制。


技术实现思路

1、本专利技术为了克服上述现有的空间分离式外差激光干涉仪均难以同时满足传感测头体积小、易于集成、热稳定性好及亚纳米级周期非线性误差需求的问题,提供了一种基于一体式双偏振分光组件的外差激光干涉仪及测量方法,在下文中给出了关于本专利技术的简要概述,以便提供关于本专利技术的某些方面的基本理解。应当理解,这个概述并不是关于本专利技术的穷举性概述。它并不是意图确定本专利技术的关键或重要部分,也不是意图限定本专利技术的范围。

2、本专利技术的技术方案一:

3、基于一体式双偏振分光组件的外差激光干涉仪,包括:

4、激光光源,用于提供两束不同频率的空间分离光束;两束不同频率的空间分离光束分别定义频率为f1的第一输入光束、频率为f2的第二输入光束;所述第一输入光束和第二输入光束不必是偏振光;

5、所述激光光源的输出光路上设置有一体式双偏振分光组件,所述第一输入光束入射至一体式双偏振分光组件后被分成第一测量光束和第一参考光束;第二输入光束入射至一体式双偏振分光组件后被分成第二测量光束和第二参考光束;

6、所述一体式双偏振分光组件包括第一偏振分光棱镜、第二偏振分光棱镜、第一四分之一波片、第二四分之一波片、第三四分之一波片、第四四分之一波片、二分之一波片、第一偏振片、第二偏振片、第三偏振片、第四偏振片;

7、所述第一偏振分光棱镜和第二偏振分光棱镜左右并列设置,且相邻端面间安装有二分之一波片;

8、所述第一偏振分光棱镜的前端面上贴附有第一偏振片,左端面上贴附有第三偏振片,后端面上贴附有第一四分之一波片;第三偏振片上贴附有第三四分之一波片,

9、所述第二偏振分光棱镜的前端面上贴附有第二偏振片,右端面上贴附有第四偏振片,后端面上贴附有第二四分之一波片;第四偏振片上贴附第四四分之一波片;

10、所述第一四分之一波片的输出光路上设置有第一目标反射镜;

11、所述第二四分之一波片的输出光路上设置有第二目标反射镜;

12、所述第三四分之一波片的输出光路上设置有第一光电探测器;

13、所述第四四分之一波片的输出光路上设置有第二光电探测器。

14、进一步的:所述第一偏振片和第二偏振片的偏振轴方向均为不水平且不铅垂的方向,所述第三偏振片和第四偏振片的偏振轴方向均为水平方向;所述第一四分之一波片和第二四分之一波片的快轴方向平行,且和第一偏振分光棱镜或第二偏振分光棱镜的水平透射偏振方向为不平行且不垂直关系。

15、进一步地:所述第一偏振分光棱镜和第二偏振分光棱镜尺寸相同且关于二分之一波片镜像对称设置。

16、进一步地:所述第一测量光束和第二参考光束以及第二测量光束和第一参考光束均在一体式双偏振分光组件中的行进路径长度相等。

17、进一步地:所述的第一目标反射镜包括:平面镜、后向反射器,第二目标反射镜包括:平面镜、后向反射器、镀反射膜;第一目标反射镜和第二目标反射镜保持静止或运动。

18、本专利技术的技术方案二:

19、基于一体式双偏振分光组件的外差激光干涉仪的测量方法,所述外差激光干涉仪为技术方案一所述的基于一体式双偏振分光组件的外差激光干涉仪;

20、测量方法包括以下步骤:

21、所述第一输入光束透射第一偏振片变为水平偏振光,所述第二输入光束透射第二偏振片变为水平偏振光;

22、所述第一输入光束入射至第一偏振分光棱镜后其透射光束形成第一测量光束,其反射光束形成第一参考光束;

23、所述第二输入光束入射至第二偏振分光棱镜后其透射光束形成第二测量光束,其反射光束形成第二参考光束;

24、所述第一测量光束均继续透射在第一四分之一波片的偏振态变换作用下接触第一目标反射镜,随后携带多普勒频移在第一偏振分光棱镜反射输出;

25、所述第二测量光束均继续透射在第二四分之一波片的偏振态变换作用下接触第二目标反射镜,随后携带多普勒频移在第二偏振分光棱镜反射输出;<本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.基于一体式双偏振分光组件的外差激光干涉仪,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的基于一体式双偏振分光组件的外差激光干涉仪,其特征在于:所述第一偏振片(POL1)和第二偏振片(POL2)的偏振轴方向均为不水平且不铅垂的方向,所述第三偏振片(POL3)和第四偏振片(POL4)的偏振轴方向均为水平方向;所述第一四分之一波片(QWP1)和第二四分之一波片(QWP2)的快轴方向平行,且和第一偏振分光棱镜(PBS1)或第二偏振分光棱镜(PBS2)的水平透射偏振方向为不平行且不垂直关系。

3.根据权利要求1所述的基于一体式双偏振分光组件的外差激光干涉仪,其特征在于:所述第一偏振分光棱镜(PBS1)和第二偏振分光棱镜(PBS2)尺寸相同且关于二分之一波片(HWP)镜像对称设置。

4.根据权利要求1所述的基于一体式双偏振分光组件的外差激光干涉仪,其特征在于:所述第一测量光束和第二参考光束以及第二测量光束和第一参考光束均在一体式双偏振分光组件中的行进路径长度相等。

5.根据权利要求1所述的基于一体式双偏振分光组件的外差激光干涉仪,其特征在于:所述的第一目标反射镜(M1)包括:平面镜、后向反射器,第二目标反射镜(M2)包括:平面镜、后向反射器、镀反射膜;第一目标反射镜(M1)和第二目标反射镜(M2)保持静止或运动。

6.基于一体式双偏振分光组件的外差激光干涉仪的测量方法,其特征在于:所述外差激光干涉仪为权利要求1-5任一项所述的基于一体式双偏振分光组件的外差激光干涉仪;

7.基于一体式双偏振分光组件的外差激光干涉仪,其特征在于,包括:

8.根据权利要求7所述的基于一体式双偏振分光组件的外差激光干涉仪,其特征在于:所述第三偏振片(POL3)和第四偏振片(POL4)的偏振轴方向均为不水平且不铅垂的方向;所述第一四分之一波片(QWP1)和第二四分之一波片(QWP2)的快轴方向平行,且和第一偏振分光棱镜(PBS1)或第二偏振分光棱镜(PBS2)的水平透射偏振方向为不平行且不垂直关系。

9.根据权利要求7所述的基于一体式双偏振分光组件的外差激光干涉仪,其特征在于:所述第一偏振分光棱镜(PBS1)和第二偏振分光棱镜(PBS2)尺寸相同且关于二分之一波片(HWP)镜像对称设置;所述第一测量光束和第二参考光束以及第二测量光束和第一参考光束均在一体式双偏振分光组件中的行进路径长度相等;所述的第一目标反射镜(M1)包括:平面镜、后向反射器,第二目标反射镜(M2)包括:平面镜、后向反射器、镀反射膜;第一目标反射镜(M1)和第二目标反射镜(M2)保持静止或运动。

10.基于一体式双偏振分光组件的外差激光干涉仪的测量方法,其特征在于:所述外差激光干涉仪为权利要求7-9任一项所述的基于一体式双偏振分光组件的外差激光干涉仪;

...

【技术特征摘要】

1.基于一体式双偏振分光组件的外差激光干涉仪,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的基于一体式双偏振分光组件的外差激光干涉仪,其特征在于:所述第一偏振片(pol1)和第二偏振片(pol2)的偏振轴方向均为不水平且不铅垂的方向,所述第三偏振片(pol3)和第四偏振片(pol4)的偏振轴方向均为水平方向;所述第一四分之一波片(qwp1)和第二四分之一波片(qwp2)的快轴方向平行,且和第一偏振分光棱镜(pbs1)或第二偏振分光棱镜(pbs2)的水平透射偏振方向为不平行且不垂直关系。

3.根据权利要求1所述的基于一体式双偏振分光组件的外差激光干涉仪,其特征在于:所述第一偏振分光棱镜(pbs1)和第二偏振分光棱镜(pbs2)尺寸相同且关于二分之一波片(hwp)镜像对称设置。

4.根据权利要求1所述的基于一体式双偏振分光组件的外差激光干涉仪,其特征在于:所述第一测量光束和第二参考光束以及第二测量光束和第一参考光束均在一体式双偏振分光组件中的行进路径长度相等。

5.根据权利要求1所述的基于一体式双偏振分光组件的外差激光干涉仪,其特征在于:所述的第一目标反射镜(m1)包括:平面镜、后向反射器,第二目标反射镜(m2)包括:平面镜、后向反射器、镀反射膜;第一目标反射镜(m1)和第二目标反射镜(m2)保持静止或运动。

6.基于一体式双偏振分光组件的外差...

【专利技术属性】
技术研发人员:付海金苏晓博于亮胡鹏程刘熙正杨欣
申请(专利权)人:哈尔滨工业大学
类型:发明
国别省市:

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