System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 具有催化活性的复合抛光磨粒及其制备方法技术_技高网
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具有催化活性的复合抛光磨粒及其制备方法技术

技术编号:40319349 阅读:8 留言:0更新日期:2024-02-07 21:02
本发明专利技术属于化学机械抛光领域,提出了一种具有催化活性的复合抛光磨粒及其制备方法,该复合抛光磨粒包括二氧化硅磨粒以及负载在所述二氧化硅磨粒上的活性组分,所述活性组分用于提供所述二氧化硅磨粒的催化活性,所述二氧化硅磨粒为实心磨粒或介孔磨粒,且所述复合抛光磨粒的直径为10 nm‑150 nm,比表面积为40 m<supgt;2</supgt;/g‑450 m<supgt;2</supgt;/g。本发明专利技术的具有催化活性的复合抛光磨粒,其自身具有催化活性,其在承担机械作用的同时又起到催化的作用,使得抛光过程无需外加催化剂,可以避免在金属表面引入外来污染,减少了抛光成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及化学机械抛光领域,具体地,涉及一种具有催化活性的复合抛光磨粒及其制备方法


技术介绍

1、化学机械抛光过程中同时存在化学腐蚀作用和机械磨削作用。具体地,通过化学腐蚀作用,抛光液与抛光表面反应形成容易去除的软质层,然后再通过机械磨削的方式将软质层去除,从而提升抛光速率。在抛光过程中,通常需要使用氧化剂先将待抛光样品表面氧化,形成质地柔软的氧化膜,再通过磨粒的机械去除作用将氧化膜层去除。为达到较佳的抛光效果,还会添加催化剂以增强氧化过程。

2、然而,在目前的抛光液中,所使用的催化剂通常为离子型催化剂或固体催化剂,这些催化剂存在如下缺陷:离子型催化剂会在金属材料表面残留,且对抛光液的ph有要求,通常为2~4;而固体催化剂较易对带抛光样品表面带来划痕。

3、因此,目前的抛光技术仍有待改进。


技术实现思路

1、本专利技术旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。

2、在本专利技术的一个方面,本专利技术提供一种具有催化活性的复合抛光磨粒,包括二氧化硅磨粒以及负载在所述二氧化硅磨粒上的活性组分,所述活性组分用于提供所述二氧化硅磨粒的催化活性,所述二氧化硅磨粒为实心磨粒或介孔磨粒,且所述复合抛光磨粒的直径为10 nm-150 nm,比表面积为40 m2/g-450 m2/g。

3、本专利技术的复合抛光磨粒具有催化活性,在承担机械抛光作用的同时又能够起到催化作用,使得抛光过程无需外加催化剂,可以避免在金属表面引入外来污染,并降低抛光成本。具体地,通过在二氧化硅上负载活性组分,使得二氧化硅表面呈现酸性,这些酸性位点可以通过加速抛光过程中物质的吸附以及电子传递过程,从而起到促进化学反应的作用,使得复合抛光磨粒具有良好的机械去除作用和催化效果,提高抛光速率并减少被抛光样品表面的划痕。此外,由于复合抛光磨粒本身具有较强的酸性,无需较低ph就能达到促进化学腐蚀作用,还可以适应较宽ph范围的抛光液,如ph为4-11的抛光液。

4、根据本专利技术的实施例,所述活性组分包括al、fe、ga、ge、zr、sb、bi、w、mo、zr、nb、mn、ti和cu中的至少一种。由此,活性组分中的阳离子能够为二氧化硅带来酸性,且在抛光过程中不给抛光样品带来二次污染。

5、根据本专利技术的实施例,以所述复合抛光磨粒的总质量为基准,所述活性组分的质量含量为0.3%-16%。由此,可进一步提升复合抛光磨粒的催化活性和粒径均一性。

6、根据本专利技术的实施例,所述复合抛光磨粒的直径为10 nm-150nm。由此,有利于在提高抛光速率的同时,降低被抛光样品表面被划伤的风险和表面粗糙度。

7、根据本专利技术的实施例,所述复合抛光磨粒的比表面积为40 m2/g-450 m2/g。由此,在负载活性组分的同时,确保复合抛光磨粒的机械性能。

8、根据本专利技术的实施例,所述二氧化硅磨粒为实心磨粒,所述复合抛光磨粒的比表面积为40 m2/g-80 m2/g。由此,在负载活性组分的同时,确保复合抛光磨粒的机械性能。

9、根据本专利技术的实施例,所述二氧化硅磨粒为介孔磨粒,所述复合抛光磨粒的比表面积为175 m2/g-450 m2/g。由此,介孔结构能够负载更多的活性组分,进一步提高催化性能。

10、根据本专利技术的实施例,所述复合抛光磨粒的pdi为0.1-0.2。由此,该复合抛光磨粒的形貌均一性较好,可以提升抛光速率,降低因形貌差异性较大而造成的抛光重复性差。

11、在本专利技术的另一个方面,本专利技术提供一种制备前述具有催化活性的复合抛光磨粒的方法,包括:

12、(1)将含活性组分源的a溶液与含二氧化硅的b溶液混合并进行第一反应,以获得含活性组分前驱体改性的二氧化硅的固液混合物;

13、(2)将所述固液混合物经分离、洗涤、干燥和焙烧后,得到所述复合抛光磨粒。

14、本专利技术的制备方法操作简单,通过在二氧化硅磨粒上负载活性组分,可提高二氧化硅磨粒的酸性,使得复合抛光磨粒具有良好的催化活性。

15、根据本专利技术的实施例,所述活性组分源包括异丙醇铝、九水硝酸铝、偏铝酸盐、硫酸铝盐、六水氯化铝、硝酸锆、硫酸锆、二水钨酸钠、偏钨酸铵、仲钨酸铵、六氯化钨、钛酸正丁酯、四氯化钛、铌酸铵草酸盐水合物、钼酸铵、乙酸锰、氯化铁、硫酸铜和硝酸铋中的至少一种。

16、根据本专利技术的实施例,所述第一反应的温度为50-90℃,时间为5-10h。由此,有利于第一反应的顺利进行。

17、根据本专利技术的实施例,所述活性组分源和二氧化硅的用量,使形成的复合抛光磨粒中活性组分的质量含量为0.3%-16%。由此,可进一步提升复合抛光磨粒的催化活性和粒径均一性。

18、根据本专利技术的实施例,所述b溶液由包括以下步骤的方法制得:s1:提供碱性溶剂:将水和醇按体积比为(0.1-0.5)∶1混合,得到混合溶剂,用碱性介质调节混合溶剂的ph为9-12;s2-1:将硅源滴加到所述碱性溶剂中进行第二反应,得到含实心二氧化硅的b溶液;或者s2-2:将模板剂加入到所述碱性溶剂中搅拌均匀,再向其中滴加硅源进行第二反应,得到含介孔二氧化硅的b溶液。由此,可以获得粒径均一的二氧化硅。

19、根据本专利技术的实施例,所述硅源包括正硅酸甲酯、正硅酸乙酯、正硅酸丙酯和正硅酸丁酯中的至少之一。

20、根据本专利技术的实施例,所述模板剂包括十六烷基三甲基溴化铵、十二烷基三甲基氯化铵、十六烷基三甲基氯化铵、十二烷基氢氧化铵和十八烷基三甲基氯化铵中的至少之一。

21、根据本专利技术的实施例,步骤s2-1和步骤s2-2中,相对于100 ml的混合溶剂,所述硅源的用量分别独立地为15 g-30 g;所述硅源的滴加速率为0.1 g/min-0.5 g/min。由此,以使硅源缓慢水解,降低团聚的发生。

22、根据本专利技术的实施例,步骤s2-1和步骤s2-2中,所述第二反应在搅拌条件下进行,第二反应的温度为50 ℃-90 ℃。由此,有利于第二反应的顺利进行。

23、根据本专利技术的实施例,步骤s2-2中,所述模板剂与硅源用量的质量比为(0.1-0.5)∶1。由此,有利于获得比表面积适中的介孔二氧化硅。

24、根据本专利技术的实施例,步骤(2)中,所述焙烧的温度为500 ℃-700 ℃,焙烧时间为2 h-8 h。由此,可以促使活性组分进入二氧化硅骨架或者与之形成化学键,还可去除模板剂形成介孔二氧化硅。

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【技术保护点】

1.一种具有催化活性的复合抛光磨粒,其特征在于,包含二氧化硅磨粒以及负载在所述二氧化硅磨粒上的活性组分,所述活性组分用于提供所述二氧化硅磨粒的催化活性,所述二氧化硅磨粒为实心磨粒或介孔磨粒,且所述复合抛光磨粒的直径为10 nm-150 nm,比表面积为40 m2/g-450 m2/g。

2.根据权利要求1所述的复合抛光磨粒,其特征在于,所述活性组分选自Al、Fe、Ga、Ge、Sb、Bi、W、Mo、Zr、Nb、Mn、Ti和Cu中的至少一种。

3.根据权利要求1所述的复合抛光磨粒,其特征在于,以所述复合抛光磨粒的总质量为基准,所述活性组分的质量含量为0.3%-16%。

4.根据权利要求1-3任一项所述的复合抛光磨粒,其特征在于,所述二氧化硅磨粒为实心磨粒,所述复合抛光磨粒的比表面积为40 m2/g-80 m2/g。

5.根据权利要求1-3任一项所述的复合抛光磨粒,其特征在于,所述二氧化硅磨粒为介孔磨粒,所述复合抛光磨粒的比表面积为175 m2/g-450 m2/g。

6.根据权利要求1-3任一项所述的复合抛光磨粒,其特征在于,所述复合抛光磨粒的PDI为0.1-0.2。

7.一种权利要求1-6任一项所述具有催化活性的复合抛光磨粒的制备方法,其特征在于,包括:

8.根据权利要求7所述的制备方法,其特征在于,步骤(1)满足以下条件中的至少一者:

9.根据权利要求7所述的制备方法,其特征在于,所述B溶液由包括以下步骤的方法制得:

10.根据权利要求9所述的制备方法,其特征在于,所述硅源包括正硅酸甲酯、正硅酸乙酯、正硅酸丙酯和正硅酸丁酯中的至少之一;和/或

11.根据权利要求9所述的制备方法,其特征在于,步骤S2-1和步骤S2-2中,相对于100mL的混合溶剂,所述硅源的用量分别独立地为15 g-30g。

12.根据权利要求9所述的制备方法,其特征在于,步骤S2-1和步骤S2-2中,所述第二反应在搅拌条件下进行,第二反应的温度为50 ℃-90 ℃。

13.根据权利要求9所述的制备方法,其特征在于,步骤S2-1和步骤S2-2中,所述硅源的滴加速率为0.1 g/min-0.5 g/min。

14.根据权利要求9所述的制备方法,其特征在于,步骤S2-2中,所述模板剂与硅源用量的质量比为(0.1-0.5)∶1。

15.根据权利要求7所述的制备方法,其特征在于,步骤(2)中,所述焙烧的温度为500℃-700 ℃,焙烧时间为2 h-8 h。

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【技术特征摘要】

1.一种具有催化活性的复合抛光磨粒,其特征在于,包含二氧化硅磨粒以及负载在所述二氧化硅磨粒上的活性组分,所述活性组分用于提供所述二氧化硅磨粒的催化活性,所述二氧化硅磨粒为实心磨粒或介孔磨粒,且所述复合抛光磨粒的直径为10 nm-150 nm,比表面积为40 m2/g-450 m2/g。

2.根据权利要求1所述的复合抛光磨粒,其特征在于,所述活性组分选自al、fe、ga、ge、sb、bi、w、mo、zr、nb、mn、ti和cu中的至少一种。

3.根据权利要求1所述的复合抛光磨粒,其特征在于,以所述复合抛光磨粒的总质量为基准,所述活性组分的质量含量为0.3%-16%。

4.根据权利要求1-3任一项所述的复合抛光磨粒,其特征在于,所述二氧化硅磨粒为实心磨粒,所述复合抛光磨粒的比表面积为40 m2/g-80 m2/g。

5.根据权利要求1-3任一项所述的复合抛光磨粒,其特征在于,所述二氧化硅磨粒为介孔磨粒,所述复合抛光磨粒的比表面积为175 m2/g-450 m2/g。

6.根据权利要求1-3任一项所述的复合抛光磨粒,其特征在于,所述复合抛光磨粒的pdi为0.1-0.2。

7.一种权利要求1-6任一项所述具有催化活性的复合抛光磨粒...

【专利技术属性】
技术研发人员:苏宏久李正玲徐翰琦王卓杰
申请(专利权)人:甬江实验室
类型:发明
国别省市:

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