【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片测试设备，特别涉及一种芯片测试座自动清洁装置。
技术介绍
1、半导体芯片是现代电子设备的核心组件，它们具有高速、高密度、低功耗等优点。为了保证芯片的性能和可靠性，芯片在出厂前需要进行各种测试，如功能测试、老化测试等。这些测试需要用到专门的测试座，随着测试座的使用时间增加，以及重复使用，其内部会产生很多污染物，如灰尘、污垢、油脂等。若不及时清洁测试座并将污染物带出测试座，则会影响芯片测试的良率，降低芯片生产效率。因此，及时清洁芯片测试座十分重要。
技术实现思路
1、本专利技术提供了一种芯片测试座自动清洁装置，旨在提高芯片测试座的清洁效果，以提高芯片测试的良率和芯片生产效率。
2、为了实现上述的目的，本专利技术采用了如下的技术方案：
3、一种芯片测试座自动清洁装置，包括：
4、测试座，其顶面设有凹槽，所述凹槽的底部设有多个探针，所述凹槽的侧壁上设有至少一水平设置的条形孔，所述测试座的外壁设有至少一气孔，所述气孔和多个所述条形孔一一对应连通；
5、清洁头，位于所述测试座的上方，用于对所述凹槽和所述探针进行清洁。
6、在一些实施例中，所述测试座内设有至少一气流通道，所述气孔经所述气流通道连通所述条形孔。
7、在一些实施例中，所述气流通道设于所述条形孔的一侧且沿着所述条形孔的长度方向延伸，所述条形孔的内端贯穿所述气流通道的内壁。
8、在一些实施例中，所述至少一个气流通道为抽气气流通道。>
9、在一些实施例中，所述条形孔的数量设置两个，两个所述条形孔位于所述凹槽的两个相对的侧壁上，并且两个所述条形孔正对。
10、在一些实施例中，所述凹槽靠近其槽口的一段为导向段，所述导向段的横截面积由上向下逐渐减小。
11、在一些实施例中，所述测试座包括承载块和安装块，所述凹槽设于所述承载块，所述安装块设于所述承载块的下方，多个所述探针设于所述安装块的顶侧，所述探针的顶端低于所述条形孔。
12、在一些实施例中，所述凹槽的底部设有多个可供所述探针穿过的通孔，多个所述探针与多个所述通孔一一对应。
13、在一些实施例中，所述测试座自动清洁装置还包括运动模组，所述运动模组与所述清洁头连接，用于驱动所述清洁头对所述测试座进行清洁。
14、在一些实施例中，所述清洁头包括安装板、连接轴和刷头，所述连接轴的一端与所述安装板连接，另一端与所述刷头连接，所述安装板用于与所述运动模组连接。
15、本专利技术的技术方案中，测试座的凹槽的侧壁上设置至少一个条形孔，测试座的外壁设置至少一个气孔，气孔与条形孔连通，气孔可连接外部抽气装置，形成抽气气路，在清洁头对凹槽的内壁和探针进行清洁时，抽气气路对凹槽抽气，及时将清洁过程中的污染物带出测试座，避免污染物影响芯片测试的准确率，从而提升了芯片测试的良率和芯片生产效率。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种芯片测试座自动清洁装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的芯片测试座自动清洁装置，其特征在于，所述测试座内设有至少一气流通道，所述气孔经所述气流通道连通所述条形孔。
3.根据权利要求2所述的芯片测试座自动清洁装置，其特征在于，所述气流通道设于所述条形孔的一侧且沿着所述条形孔的长度方向延伸，所述条形孔的内端贯穿所述气流通道的内壁。
4.根据权利要求2所述的芯片测试座自动清洁装置，其特征在于，所述至少一个气流通道为抽气气流通道。
5.根据权利要求1所述的芯片测试座自动清洁装置，其特征在于，所述条形孔的数量设置两个，两个所述条形孔位于所述凹槽的两个相对的侧壁上，并且两个所述条形孔正对。
6.根据权利要求1所述的芯片测试座自动清洁装置，其特征在于，所述凹槽靠近其槽口的一段为导向段，所述导向段的横截面积由上向下逐渐减小。
7.根据权利要求1所述的芯片测试座自动清洁装置，其特征在于，所述测试座包括承载块和安装块，所述凹槽设于所述承载块，所述安装块设于所述承载块的下方，多个所述探针设于所述安装块的顶侧，所
8.根据权利要求7所述的芯片测试座自动清洁装置，其特征在于，所述凹槽的底部设有多个可供所述探针穿过的通孔，多个所述探针与多个所述通孔一一对应。
9.根据权利要求1所述的芯片测试座自动清洁装置，其特征在于，还包括运动模组，所述运动模组与所述清洁头连接，用于驱动所述清洁头对所述测试座进行清洁。
10.根据权利要求9所述的芯片测试座自动清洁装置，其特征在于，所述清洁头包括安装板、连接轴和刷头，所述连接轴的一端与所述安装板连接，另一端与所述刷头连接，所述安装板用于与所述运动模组连接。
...【技术特征摘要】
1.一种芯片测试座自动清洁装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的芯片测试座自动清洁装置，其特征在于，所述测试座内设有至少一气流通道，所述气孔经所述气流通道连通所述条形孔。
3.根据权利要求2所述的芯片测试座自动清洁装置，其特征在于，所述气流通道设于所述条形孔的一侧且沿着所述条形孔的长度方向延伸，所述条形孔的内端贯穿所述气流通道的内壁。
4.根据权利要求2所述的芯片测试座自动清洁装置，其特征在于，所述至少一个气流通道为抽气气流通道。
5.根据权利要求1所述的芯片测试座自动清洁装置，其特征在于，所述条形孔的数量设置两个，两个所述条形孔位于所述凹槽的两个相对的侧壁上，并且两个所述条形孔正对。
6.根据权利要求1所述的芯片测试座自动清洁装置，其特征在于，所述凹槽靠近其槽口的一段为导向段，所述导向段...
【专利技术属性】
技术研发人员：徐永刚，彭瑞，童炜，孙成思，何瀚，王灿，
申请(专利权)人：成都态坦测试科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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