一种RFID芯片防撞击测试装置制造方法及图纸

技术编号:40239392 阅读:6 留言:0更新日期:2024-02-02 22:38
本技术公开了一种RFID芯片防撞击测试装置,包括封闭机箱、芯片放置台、弧形撞击槽、芯片定位槽、撞击块、电磁铁吸附槽、距离感应器和电动升降臂。本技术能够使装置通过电动升降臂配合电磁铁吸附槽对撞击块进行定位吸附输送到指定高度,然后通过撞击块自由落体测试FID芯片的防撞击性能,同时还能够对撞击块进行自动磁力吸附回收,通过水平伸缩杆配合高清夜视摄像头对RFID芯片撞击面进行观察,操作方便,测量结果准确,测试误差小,操作安全性高。

【技术实现步骤摘要】

【】本技术涉及rfid标签生产设备的,特别是一种rfid芯片防撞击测试装置的。


技术介绍

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技术介绍

1、rfid标签是一种非接触式的自动识别标签,rfid标签识别速度快,并且具有很好的防伪性能,具有很好的应用前景,随着消费者对商品防伪溯源意识的增强,现在市面上许多商品都提供防伪溯源标签。常见的防伪溯源标签包括二维码标签、条形码标签和rfid标签,其中二维码标签和条形码标签的复制成本低,因此二维码标签和条形码标签的防伪溯源可靠性差;而rfid标签采用射频识别技术,实现无接触信息传递并通过所传递的信息达到识别目的,每个rfid标签均具有全球唯一标示id,rfid标签具有安全可靠的优点。

2、在rfid标签的生产过程中,为了确保rfid标签符合使用要求,对rfid芯片的抗撞击测试是一个很重要的环节。目前对rfid芯片的抗撞击测试很多都是人工操作,由于人工测试的主观性,测试结果会有偏差,而且测试效率较低。


技术实现思路

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技术实现思路

1、本技术的目的就是解决现有技术中的问题,提出一种rfid芯片防撞击测试装置,能够使装置通过电动升降臂配合电磁铁吸附槽对撞击块进行定位吸附输送到指定高度,然后通过撞击块自由落体测试fid芯片的防撞击性能,同时还能够对撞击块进行自动磁力吸附回收,通过水平伸缩杆配合高清夜视摄像头对rfid芯片撞击面进行观察,操作方便,测量结果准确,测试误差小,操作安全性高。

2、为实现上述目的,本技术提出了一种rfid芯片防撞击测试装置,包括封闭机箱、芯片放置台、弧形撞击槽、芯片定位槽、撞击块、电磁铁吸附槽、距离感应器和电动升降臂,所述封闭机箱的底部中心位置设置有芯片放置台,所述芯片放置台的顶部设置有弧形撞击槽,所述弧形撞击槽的底部中心位置设置有芯片定位槽,所述芯片定位槽内安装有测试芯片,所述芯片定位槽的正上方设置有撞击块,所述撞击块磁力吸附在电磁铁吸附槽内,所述电磁铁吸附槽底部正对芯片定位槽位置设置有距离感应器,所述电磁铁吸附槽的顶部通过电动升降臂安装在封闭机箱的顶部,所述电动升降臂与距离感应器相连。

3、作为优选,所述封闭机箱为不锈钢机箱,所述封闭机箱的侧面开设有钢化玻璃观察门。

4、作为优选,所述撞击块为球形铁块,所述电磁铁吸附槽为半球形凹槽,所述撞击块的最大直径小于芯片定位槽的开口宽度。

5、作为优选,所述封闭机箱的侧壁上设置有水平伸缩杆,所述水平伸缩杆的末端朝向芯片定位槽位置设置有高清夜视摄像头。

6、作为优选,所述弧形撞击槽的顶部开口宽度大于电磁铁吸附槽的最大外径。

7、作为优选,所述电动升降臂为竖直电动伸缩臂,所述电动升降臂的顶部通过固定钢架安装在封闭机箱顶部。

8、本技术的有益效果:本技术通过将封闭机箱、芯片放置台、弧形撞击槽、芯片定位槽、撞击块、电磁铁吸附槽、距离感应器和电动升降臂结合在一起,经过试验优化,能够使装置通过电动升降臂配合电磁铁吸附槽对撞击块进行定位吸附输送到指定高度,然后通过撞击块自由落体测试fid芯片的防撞击性能,同时还能够对撞击块进行自动磁力吸附回收,通过水平伸缩杆配合高清夜视摄像头对rfid芯片撞击面进行观察,操作方便,测量结果准确,测试误差小,操作安全性高。

9、本技术的特征及优点将通过实施例结合附图进行详细说明。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种RFID芯片防撞击测试装置,其特征在于:包括封闭机箱(1)、芯片放置台(2)、弧形撞击槽(3)、芯片定位槽(4)、撞击块(5)、电磁铁吸附槽(6)、距离感应器(7)和电动升降臂(8),所述封闭机箱(1)的底部中心位置设置有芯片放置台(2),所述芯片放置台(2)的顶部设置有弧形撞击槽(3),所述弧形撞击槽(3)的底部中心位置设置有芯片定位槽(4),所述芯片定位槽(4)内安装有测试芯片,所述芯片定位槽(4)的正上方设置有撞击块(5),所述撞击块(5)磁力吸附在电磁铁吸附槽(6)内,所述电磁铁吸附槽(6)底部正对芯片定位槽(4)位置设置有距离感应器(7),所述电磁铁吸附槽(6)的顶部通过电动升降臂(8)安装在封闭机箱(1)的顶部,所述电动升降臂(8)与距离感应器(7)相连。

2.如权利要求1所述的一种RFID芯片防撞击测试装置,其特征在于:所述封闭机箱(1)为不锈钢机箱,所述封闭机箱(1)的侧面开设有钢化玻璃观察门。

3.如权利要求1所述的一种RFID芯片防撞击测试装置,其特征在于:所述撞击块(5)为球形铁块,所述电磁铁吸附槽(6)为半球形凹槽,所述撞击块(5)的最大直径小于芯片定位槽(4)的开口宽度。

4.如权利要求1所述的一种RFID芯片防撞击测试装置,其特征在于:所述封闭机箱(1)的侧壁上设置有水平伸缩杆(9),所述水平伸缩杆(9)的末端朝向芯片定位槽(4)位置设置有高清夜视摄像头(10)。

5.如权利要求1所述的一种RFID芯片防撞击测试装置,其特征在于:所述弧形撞击槽(3)的顶部开口宽度大于电磁铁吸附槽(6)的最大外径。

6.如权利要求1所述的一种RFID芯片防撞击测试装置,其特征在于:所述电动升降臂(8)为竖直电动伸缩臂,所述电动升降臂(8)的顶部通过固定钢架(11)安装在封闭机箱(1)顶部。

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【技术特征摘要】

1.一种rfid芯片防撞击测试装置,其特征在于:包括封闭机箱(1)、芯片放置台(2)、弧形撞击槽(3)、芯片定位槽(4)、撞击块(5)、电磁铁吸附槽(6)、距离感应器(7)和电动升降臂(8),所述封闭机箱(1)的底部中心位置设置有芯片放置台(2),所述芯片放置台(2)的顶部设置有弧形撞击槽(3),所述弧形撞击槽(3)的底部中心位置设置有芯片定位槽(4),所述芯片定位槽(4)内安装有测试芯片,所述芯片定位槽(4)的正上方设置有撞击块(5),所述撞击块(5)磁力吸附在电磁铁吸附槽(6)内,所述电磁铁吸附槽(6)底部正对芯片定位槽(4)位置设置有距离感应器(7),所述电磁铁吸附槽(6)的顶部通过电动升降臂(8)安装在封闭机箱(1)的顶部,所述电动升降臂(8)与距离感应器(7)相连。

2.如权利要求1所述的一种rfid芯片防撞击测试装置,其特征在于:所述封闭机箱(1)为不锈钢机箱,...

【专利技术属性】
技术研发人员:秦建凯李小忠
申请(专利权)人:宁波理德科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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