Ｘ射线检查装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种Ｘ射线检查装置，其具有多个判断基准，能够基于多个判断基准进行异物判断。在该Ｘ射线检查装置（１００）中，用Ｘ射线照射装置（２００）及线性传感器（３００）检测物品（６００）的状态，用控制部（３５０）基于级别１～级别５的检测级别判断物品（６００）的状态，用输出部（３５５）输出该判断结果。另外，在检测级别为级别１的情形下设定成为控制部（３５０）的判断基准的第一阈值（７７１ａ、７７１ｂ）。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种对物品照射X射线、检测物品内的异物的X射线检查装置。
技术介绍
目前，人们使用X射线检查装置等来检测物品内的异物。关于这些X射线检查装 置，人们正在夜以继日地进行研究开发。例如，专利文献1中公开了一种对连续输送的物品进行检查的X射线检查装置，其 为容易识别检查结果的装置。专利文献1记载的X射线检查装置是使用X射线对所输送的物品的状态进行检查 的X射线检查装置，其具备用X射线检测物品的状态的X射线检测单元、基于X射线检测 单元检测出的检测级别(level)对物品的状态进行判断的判断单元、输出判断单元的判断 结果的输出单元、存储作为判断单元的判断基准的阈值的存储部、将基于检测级别的值以 与该值相对应的面积进行显示的第一显示部、使阈值及基于检测级别的值在第一显示部进 行显示的显示控制单元。作为现有技术文献具有专利文献1 日本特开2002-098653号公报。在专利文献1记载的X射线检查装置中，在第一显示部显示基于作为判断对象的 检测级别的值和作为判断基准的阈值。在该第一显示部，将基于检测级别的值以与该值相 对应的面积加以显示。因此，装置的使用者比较容易识别基于检测级别的值是接近阈值还 是远离阈值。尤其是由于第一显示部以相应的面积显示基于检测级别的值，使用者不必读 取数值就能凭感觉识别判断的容限。但是，对于X射线检查装置等来说，在物品中混入了异物的情况下，当该异物为粉 尘时、和当该异物为生产线上的一零部件时，处理有所不同。S卩，在该异物为粉尘等的情况下，应将该异物从生产线排出，而在该异物为生产线 上的一零部件的情况下，必须停止生产线，并对上游(前面工序)的装置进行检查。但是，对于在生产线上进行大量生产的物品来说，在混入了异物的情况下，使生产 线经常停止会降低生产效率。另外，即使能够进行有无异物的判断，经常判断该异物是粉尘 还是生产线上的一零部件，对使用者来说也是非常困难的。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种X射线检查装置，该X射线检查装置具有多个判断基 准、能够基于多个判断基准进行异物判断。本专利技术的目的在于提供一种X射线检查装置，该X射线检查装置具有多个判断基 准、能够基于多个判断基准判断所存在的异物是否是对生产线有影响的异物。(1)本专利技术提供一种X射线检查装置，其用X射线检查被输送物品的状态，该X射 线检查装置包括检测通过物品的X射线的级别X射线检测单元、基于X射线检测单元检 测出的检测级别对物品的状态加以判断的判断单元、和输出判断单元的判断结果的输出单元，判断单元对于每个判断基准使用包括第一阈值和第二阈值的多个阈值。本专利技术的X射线检查装置用X射线检测单元检测通过物品的X射线的级别，用判 断单元基于该检测级别判断物品的状态，用输出单元输出该判定结果。这种情况下，由于判断单元对于每个判断基准使用包括第一阈值和第二阈值的多 个阈值，所以，判断单元能够根据X射线检测单元检测出的检测级别进行多个判断。因而， 在物品的状态显著偏离判断基准的情况下，能够辨认显著偏离的情况，而在物品的状态偏 离判断基准不大的情况下，也能够辨认微小偏离的情况。另外，输出单元能够根据判断单元 的判断而从进行相应的输出。(2)所述判断单元根据用于判断物品是否有缺陷的多个判断基准来判断所述物品 的状态，且对于每个判断基准分别设定多个阈值。这种情况下，由于具备多个判断单元，对于物品的状态，能够进行针对小的异物的 不合格判断及针对大的异物的不合格判断。例如，能够进行是否是对生产线带来影响的异 物的判断。(3)判断单元将第二阈值设定为与第一阈值成比例。这种情况下，由于第二阈值相对于第一阈值按比例地被确定，所以，能够通过设定 第一阈值而自动地设定第二阈值。因而，用户能够容易地设定多个阈值。(4)判断单元分别单独地设定第一阈值和第二阈值。这种情况下，由于第一阈值能够独立于第二阈值而被确定，所以，用户能够分别自 由地设定第一阈值及第二阈值。(5)判断单元使用第一阈值和第二阈值来判断所述物品的不同状态。。这种情况下，由于利用判断单元对X射线检测单元的检测级别超越多个阈值中的 某一阈值的情况、和X射线检测单元的检测级别超越多个阈值中的其他阈值的情况加以区 别，所以，能够从输出单元输出不同的结果。在本专利技术的X射线检查装置中，判断单元能够根据物品的状态的检测级别进行多 个判断。因而，当物品的状态显著偏离判断基准时，能够识别该显著偏离的情况。具体地说， 能够可靠且容易地判断是否是对生产线带来影响的异物。另外，输出单元能够根据判断单 元的各个判断而从进行相应的输出。附图说明图1是表示本专利技术的X射线检查装置的一示例的示意性外观图；图2是表示本专利技术的X射线检查装置的内部结构的一示例的示意图；图3是用于对检查的原理进行说明的示意图；图4是表示X射线检查装置的内部控制结构的一示例的示意性方框图；图5是用于对X射线检查装置的前面工序和后面工序进行说明的示意性平面图；图6是表示触摸面板的一示例的示意图；图7是用于说明对阈值进行设定的一示例的示意图；图8是用于说明图7的设定例的概要的说明图；图9是表示图8中的级别条的显示例的示意图；图10是表示图8中的级别条的显示例的示意图11是表示图8中的级别条的显示例的示意图；图12是用于说明图7的其它设定例的概要的说明图。附图标记说明100X射线检查装置；300线性传感器；350控制部；370分拣装置； 700触摸面板；771a第一阈值；771b第二阈值；800带式传输机。具体实施例方式下面，使用附图对本专利技术的实施方式进行说明。(一实施方式)图1是表示本专利技术的X射线检查装置100的一示例的示意性外观图；图2是表示 本专利技术的X射线检查装置100的内部结构的一示例的示意图。如图1所示，X射线检查装置100内置有X射线照射装置200。另外，X射线检查 装置100通过将作为检查物的物品600放在带式传输机800上进行输送，进行有无异物混 入的X射线检查。如图1所示，X射线检查装置100的带式传输机800以向X射线检查装置100的外 部突出的方式形成，在该突出附近设有多个X射线防漏帘850。另外，操作者通过操作触摸 面板700使X射线检查装置100得以驱动。关于触摸面板700的详细情况将在后面叙述。 下面，对X射线检查装置100的内部结构进行说明。如图2所示，本专利技术的X射线检查装置100主要由X射线照射装置200、线性传感 器300及带式传输机800构成。图2的带式传输机800是环形带卷挂在一对辊子810、811 上，用带式传输机801表示去路，用带式传输机802表示回路。另外，线性传感器300由闪烁 体(scintillator)及光电二极管阵列(PDA)构成，线性传感器300配设于带式传输机801、 802之间，X射线照射装置200配设在带式传输机801的上方。带式传输机801沿箭头Ll的方向输送物品600，带式传输机802向与箭头Ll相 反的方向移动。即，在本实施方式中，设置X射线Sl以使X射线Sl的衰减只受皮带传输机 801的影响而与皮带传输机802无关。接着，图3是用于对X射线检查的原理进行说明的示意图。纵轴表示来自线性传 感器300 (PDA OUTPUT :PDA输出)的电信号输出，横轴表示经过的时间。如本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种Ｘ射线检查装置，包括：　　Ｘ射线检测单元，其检测通过物品的Ｘ射线的级别；　　判断单元，其基于所述Ｘ射线检测单元检测到的Ｘ射线的检测级别来判断所述物品的状态，所述Ｘ射线检测单元对于每个判断基准使用包括第一阈值和第二阈值的多个阈值；和　　输出单元，其输出由所述判断单元做出的判断的结果。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：岛田征浩，
申请(专利权)人：株式会社石田，
类型：发明
国别省市：JP[日本]