X射线检查装置制造方法及图纸

X射线检查装置，在具备两个线传感器的X射线检查装置中，在线传感器的安装位置产生偏差时能够取得正确的检查结果，可靠性高。X射线检查装置(10)具备输送物品的传送带单元、X射线照射器(13)、第一线传感器(14)、第二线传感器(15)、检测部(22ca)和校正图像生成部(22d)。X射线照射器向传送带单元输送的物品照射X射线。第一线传感器检测透过物品的低能量带的X射线。第二线传感器检测透过物品的高能量带的X射线。检测部检测第二线传感器相对第一线传感器在水平及垂直方向位置的偏差。校正图像生成部基于检测部的检测结果生成对基于第二线传感器检测结果得到的物品第二X射线图像进行了校正的校正第二X射线图像。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术关于一种X射线检查装置，特别是关于一种具备两个线传感器的X射线检查装置。
技术介绍
已知一种X射线检查装置，具备两个线传感器，通过各线传感器取得能量带不同的X射线图像，利用取得的两个X射线图像的差分图像进行各种检查(例如，专利文献1(日本特开2012-078254号公报))。在这种X射线检查装置中，为了从由两个线传感器取得的X射线图像取得适当的差分图像，换言之，在从两个线传感器的检测结果得到的两个X射线图像中，为了对基于透过检查对象物的同一位置的X射线的检测结果的像素之间进行差分处理，以能够正确地对应两个X射线图像的方式设计两个线传感器的安装位置。
技术实现思路
专利技术所要解决的课题但是，由于线传感器的安装要求高精度，因此，线传感器的实际安装位置有时会偏离所设计的预定位置。这种情况下，即使原样使用取得的两个X射线图像也无法取得正确的差分图像，X射线检查装置的检查精度下降。为了防止这种问题，考虑严格管理X射线检查装置的组装工序这种对应方式。但是，如果严格管理组装工序，虽然能够抑制发生线传感器的安装位置的偏差，但是，由于要求组装工序的严格的管理，也会产生组装工作量增加等的问题。本专利技术的目的在于提供一种高可靠性的X射线检查装置，在具备两个线传感器的X射线检查装置中，在线传感器的安装位置产生偏差的情况下，也能够取得正确的检查结果。解决课题的技术方案本专利技术的第一方面涉及的X射线检查装置，具备：输送单元、X射线源、第一线传感器、第二线传感器、检测部和校正图像生成部。输送单元输送物品。X射线源向由输送单元输送的物品照射X射线。第一线传感器检测透过物品的第一能量带的X射线。第二线传感器检测透过物品的与第一能量带不同的第二能量带的X射线。检测部检测第二线传感器相对于第一线传感器在水平方向和垂直方向上的位置偏差的至少一个。校正图像生成部基于检测部的检测结果生成校正第二X射线图像，该校正第二X射线图像是对基于第二线传感器的检测结果得到的物品的第二X射线图像进行校正的图像。在第一方面涉及的X射线检查装置中，检测第二线传感器相对于第一线传感器在水平方向及/或垂直方向上的位置的偏差，基于偏差对从第二线传感器的检测结果得到的第二X射线图像进行校正。因此，在线传感器的安装位置产生偏差的情况下，也能够得到正确的检查结果。也就是说，在此能够实现一种与相对于第一线传感器的第二线传感器的安装位置的偏差无关的、能够得到正确的检查结果的可靠性高的X射线检查装置。本专利技术的第二方面涉及的X射线检查装置，在第一方面涉及的X射线检查装置中，第二线传感器配置于第一线传感器的下方。第二能量带是比第一能量带高的能量带。在第二方面涉及的X射线检查装置中，由于第一线传感器配置于第二线传感器的上方，因此，在从X射线源到达第一线传感器之前X射线透过的物体(障碍物)比在从X射线源到达第二线传感器之前X射线透过的物体少。因此，第一X射线图像是比第二X射线图像清晰的图像。在此，由于将比第二X射线图像清晰的第一X射线图像作为基准使用，因此，能够容易地正确掌握第二线传感器相对于第一线传感器的位置的偏差。本专利技术的第三方面涉及的X射线检查装置，在第一方面或者第二方面涉及的X射线检查装置中，检测部基于从X射线源向由输送单元输送的已知形状的样品照射X射线并由第一线传感器及第二线传感器检测出透过样品的X射线的结果，预先检测第二线传感器相对于第一线传感器的位置偏差。在第三方面涉及的X射线检查装置中，通过使用已知形状的样品的X射线图像检测第二线传感器相对于第一线传感器的位置的偏差，能够更为正确地检测。本专利技术的第四方面涉及的X射线检查装置，在第一方面至第三方面中的任一方面涉及的X射线检查装置中，检测部检测第二线传感器相对于第一线传感器的水平方向上的倾斜。校正图像生成部通过使第二X射线图像旋转而生成校正第二X射线图像。在此，在产生了第二线传感器相对于第一线传感器的水平方向的倾斜(水平方向的位置的旋转偏差)的情况下，也能够生成通过图像处理校正了第二X射线图像的校正第二X射线图像，从而能够得到正确的检查结果。本专利技术的第五方面涉及的X射线检查装置，在第一方面至第三方面中的任一方面涉及的X射线检查装置中，检测部检测第二线传感器相对于第一线传感器向输送单元的输送方向的上游侧或者下游侧的偏差。校正图像生成部，通过使第二X射线图像向与输送方向的上游侧或者下游侧相对应的方向移动，生成校正第二X射线图像。在此，在产生了第二线传感器相对于第一线传感器的向输送方向的上游侧或者下游侧的偏差的情况下，也能够生成通过图像处理校正了第二X射线图像的校正第二X射线图像，从而能够得到正确的检查结果。本专利技术的第六方面涉及的X射线检查装置，在第一方面至第三方面中的任一方面涉及的X射线检查装置中，检测部检测俯视下的第二线传感器相对于第一线传感器在与所述输送单元的输送方向正交的方向上的偏差。校正图像生成部，通过使第二X射线图像向与输送方向正交的方向相对应的方向移动，生成校正第二X射线图像。在此，在产生了第二线传感器相对于第一线传感器的向与输送方向垂直的左右方向的偏差的情况下，也能够生成通过图像处理校正了第二X射线图像的校正第二X射线图像，从而能够得到正确的检查结果。本专利技术的第七方面涉及的X射线检查装置，在第一方面至第三方面中的任一方面涉及的X射线检查装置中，检测部检测第二线传感器相对于第一线传感器在垂直方向上的倾斜。校正图像生成部通过使第二X射线图像在与第二线传感器的倾斜方向相对应的方向上的一端侧放大，在另一端侧缩小，生成校正第二X射线图像。在此，在第二线传感器相对于第一线传感器向垂直方向倾斜的情况下，也能够生成通过图像处理校正了第二X射线图像的校正第二X射线图像，从而能够得到正确的检查结果。本专利技术的第八方面涉及的X射线检查装置，在第一方面至第三方面中的任一方面涉及的X射线检查装置中，检测部检测第二线传感器相对于第一线传感器在垂直方向上的倾斜。校正图像生成部通过使第二X射线图像在与第二线传感器的倾斜方向相对应的方向上放大或者缩小，生成校正第二X射线图像。在此，在第二线传感器相对于第一线传感器向垂直方向倾斜的情况下，也能够生成通过图像处理校正了第二X射线图像的校正第二X射线图像，从而能够得到正确的检查结果。本专利技术的第九方面涉及的X射线检查装置，在第一方面至第三方面中的任一方面涉及的X射线检查装置中，检测部检测第二线传感器相对于第一线传感器在垂直方向上的偏差。校正图像生成部通过使第二X射线图像放大或者缩小，生成校正第二X射线图像。在此，在第二线传感器相对于第一线传感器在上下方向上产生位置偏差的情况下，也能够生成通过图像处理校正了第二X射线图像的校正第二X射线图像，从而能够得到正确的检查结果。专利技术效果在本专利技术涉及的X射线检查装置中，检测第二线传感器相对于第一线传感器的在水平方向及/或垂直方向上的位置的偏差，基于偏差进行从第二线传感器的检测结果得到的第二X射线图像的校正。因此，在线传感器的安装位置产生偏差的情况下，也能够得到正确的检查结果。也就是说，在此能够实现一种与第二线传感器的相对于第一线传感器的安装位置的偏差无关而能够得到正确的检查结果的可靠性高的X射线检查装置。附图说明图1是包括本专利技术的一实施方式涉及的X射线检查装本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种X射线检查装置，其特征在于，具备：输送单元，输送物品；X射线源，向由所述输送单元输送的所述物品照射X射线；第一线传感器，检测透过所述物品的第一能量带的X射线；第二线传感器，检测透过所述物品的与所述第一能量带不同的第二能量带的X射线；检测部，检测所述第二线传感器相对于所述第一线传感器在水平方向和垂直方向上的位置偏差的至少一个；以及校正图像生成部，基于所述检测部的检测结果生成校正第二X射线图像，所述校正第二X射线图像是对基于所述第二线传感器的检测结果得到的所述物品的第二X射线图像进行校正的图像。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.08.11 JP 2014-1639681.一种X射线检查装置，其特征在于，具备：输送单元，输送物品；X射线源，向由所述输送单元输送的所述物品照射X射线；第一线传感器，检测透过所述物品的第一能量带的X射线；第二线传感器，检测透过所述物品的与所述第一能量带不同的第二能量带的X射线；检测部，检测所述第二线传感器相对于所述第一线传感器在水平方向和垂直方向上的位置偏差的至少一个；以及校正图像生成部，基于所述检测部的检测结果生成校正第二X射线图像，所述校正第二X射线图像是对基于所述第二线传感器的检测结果得到的所述物品的第二X射线图像进行校正的图像。2.根据权利要求1所述的X射线检查装置，其特征在于，所述第二线传感器配置于所述第一线传感器的下方，所述第二能量带是比所述第一能量带高的能量带。3.根据权利要求1或2所述的X射线检查装置，其特征在于，所述检测部基于从所述X射线源向由所述输送单元输送的已知形状的样品照射X射线并由所述第一线传感器以及所述第二线传感器检测出透过所述样品的X射线的结果，预先检测所述第二线传感器相对于所述第一线传感器的位置偏差。4.根据权利要求1至3中任一项所述的X射线检查装置，其特征在于，所述检测部检测所述第二线传感器相对于所述第一线传感器在水平方向上的倾斜，所述校正图像生成部通过使所述第二X射线图像旋转而生成所述校正第二X射线图像。5.根据权利要求1至3中任一项所述的X射线检查装置，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：杉本一幸，广濑修，
申请(专利权)人：株式会社石田，
类型：发明
国别省市：日本;JP