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本发明提供一种Ｘ射线检查装置，其具有多个判断基准，能够基于多个判断基准进行异物判断。在该Ｘ射线检查装置（１００）中，用Ｘ射线照射装置（２００）及线性传感器（３００）检测物品（６００）的状态，用控制部（３５０）基于级别１～级别５的检测级别判断...
该专利属于株式会社石田所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社石田授权不得商用。

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