System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 硅片的加工方法技术_技高网

硅片的加工方法技术

技术编号:40198147 阅读:5 留言:0更新日期:2024-01-27 00:02
本申请提供一种硅片的加工方法,包括:在硅片原料相对的两侧表面分别形成至少一层保护层;对具有保护层的硅片原料进行机械切割加工;去除保护层后得到硅片成品。本申请在切割加工之前对硅片原料的表面包覆保护层,从而减少碎屑以及搬运过程中对硅片表面产生划伤,而且减少应力集中出现的情况,有效降低了加工过程中崩边及锯齿的产生,提高加工产品良率,降低了加工要求。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及硅片加工,特别是涉及一种硅片的加工方法


技术介绍

1、单晶硅被广泛应用于半导体芯片、光伏、医疗、航空航天、国防和工业自动化等领域。目前,单晶硅片尺寸按其直径分为6英寸、8英寸、12英寸(300mm)以及18英寸(450mm)。而将其制成所需的器件,则需将其切割为5.4mm~6.7mm圆片,传统做法如下:先在cnc治具表面均匀点上适量胶水,然后将硅片原材直接贴合在cnc治具表面,使用cnc将其切割为所需尺寸的硅片,最后清洗除胶,包装,该硅片加工方法效率高、操作简单。

2、但是由于硅片内部存在较大的应力,将硅片原材紧密贴合于治具表面进行加工时,加工刀具高速旋转极易形成砂崩或崩边;硅片砂崩后,其细小颗粒与硅片表面接触摩擦后,易造成划伤;加工切割后,硅片表面残留胶水,不易去除;崩边与划伤将会影响硅片强度;良率较低,造成原材浪费。

3、因此,如何提供一种提高硅片加工良率的方法,成为目前迫切需要解决的技术问题。


技术实现思路

1、基于此,有必要提供一种能够提高硅片加工良率的硅片加工方法。

2、第一方面,本申请提供一种硅片的加工方法,所述硅片的加工方法包括:

3、在硅片原料相对的两侧表面分别形成至少一层保护层;

4、对具有所述保护层的所述硅片原料进行机械切割加工;

5、去除所述保护层后得到硅片成品。

6、在一些实施方式中,所述保护层的形成方法包括:通过辊印机在所述硅片原料的两对侧面辊印浆料后形成保护层。

7、在一些实施方式中,所述保护层采用辊印的形成方法包括:

8、在所述硅片原料的表面通过辊印机按照预设辊筒转速辊印浆料;

9、辊印浆料后的所述硅片原料在第一固化能量下进行固化,然后在第一温度下烘烤得到所述保护层。

10、所述保护层的形成方法包括:通过丝印机在所述硅片原料的两对侧面丝印浆料后保护层。

11、在一些实施方式中,所述保护层采用丝印的形成方法包括:

12、将所述硅片原料贴合在丝印机上,在预设丝印参数情况下在所述硅片原料的表面上丝网印刷浆料;

13、印刷有浆料的所述硅片原料在第二固化能量下进行固化,然后在第二温度下烘烤得到所述保护层。

14、在一些实施方式中,所述浆料的粘度为4500mpa·s~ 24600mpa·s。

15、在一些实施方式中,所述浆料的ph为6~7。

16、在一些实施方式中,所述保护层包括水褪型保护油墨。

17、所述水褪型保护油墨的制备原料包括水性聚氨酯丙烯酸树脂、水性聚酯丙烯酸树脂和活性单体。

18、在一些实施方式中,按照质量百分比计,所述水褪型保护油墨的原料包括:

19、水性聚氨酯丙烯酸树脂    30%~40%;

20、水性聚酯丙烯酸树脂      20%~30%;及

21、活性单体                15%~25%。

22、在一些实施方式中,位于所述硅片原料一侧表面的所述保护层的总厚度为6μm~20μm。

23、与传统技术相比,本申请至少具有以下有益效果:

24、本申请在硅片原料的两侧表面形成保护层,在对硅片原料进行切割加工时,可以减少碎屑以及搬运过程中对硅片表面产生划伤,而且还可以减少应力集中出现的情况,有效降低加工过程中崩边及锯齿产生的概率,提高加工产品良率;此外,通过保护层的设置,能够降低对机械切割设备的稳定性要求,降低了硅片原料的加工要求。

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【技术保护点】

1.一种硅片的加工方法,其特征在于,所述硅片的加工方法包括:

2.如权利要求1所述的硅片的加工方法,其特征在于,所述保护层的形成方法包括:通过辊印机在所述硅片原料的两对侧面辊印浆料后形成保护层。

3.如权利要求2所述的硅片的加工方法,其特征在于,所述保护层采用辊印的形成方法包括:

4.如权利要求1所述的硅片的加工方法,其特征在于,所述保护层的形成方法包括:通过丝印机在所述硅片原料的两对侧面丝印浆料后形成保护层。

5.如权利要求4所述的硅片的加工方法,其特征在于,所述保护层采用丝印的形成方法包括:

6.如权利要求2或4所述的硅片的加工方法,其特征在于,所述浆料的粘度为4500mPa·s~ 24600mPa·s。

7.如权利要求2或4所述的硅片的加工方法,其特征在于,所述浆料的pH为6~7。

8.如权利要求1所述的硅片的加工方法,其特征在于,所述保护层包括水褪型保护油墨;

9.如权利要求8所述的硅片的加工方法,其特征在于,按照质量百分比计,所述水褪型保护油墨的原料包括:

10.如权利要求1所述的硅片的加工方法,其特征在于,位于所述硅片原料一侧表面的所述保护层的总厚度为6μm~20μm。

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【技术特征摘要】

1.一种硅片的加工方法,其特征在于,所述硅片的加工方法包括:

2.如权利要求1所述的硅片的加工方法,其特征在于,所述保护层的形成方法包括:通过辊印机在所述硅片原料的两对侧面辊印浆料后形成保护层。

3.如权利要求2所述的硅片的加工方法,其特征在于,所述保护层采用辊印的形成方法包括:

4.如权利要求1所述的硅片的加工方法,其特征在于,所述保护层的形成方法包括:通过丝印机在所述硅片原料的两对侧面丝印浆料后形成保护层。

5.如权利要求4所述的硅片的加工方法,其特征在于,所述保护层采用丝印的形成方法包括:

【专利技术属性】
技术研发人员:韩宗保肖永军赵青松袁继运金文俊罗勇
申请(专利权)人:维达力科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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