【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片研发领域，特别是涉及一种芯片测试需求分析方法、装置及介质。
技术介绍
1、芯片系统测试是对已经集成好的硬件和固件系统进行彻底的测试，以验证芯片系统的正确性和性能等满足其规约所指定的要求，检测其行为和输出是否正确。测试需求分析是在产品开发过程中，根据用户需求和系统设计，帮助测试团队明确测试的质量目标、测试对象范围、测试分析方法和策略并输出测试点，为测试设计和执行提供指导和依据。测试需求分析是软件测试的基础，它决定了测试的质量和效率。
2、目前，通常是依赖测试人员的经验来确定芯片的测试需求列表，较为容易出现考虑不全面的问题；或者是若存在芯片需求列表，则将芯片需求列表分析转为测试需求列表，如果芯片需求列表本身不全面或者部分是行业内默认的隐性标准在需求列表未体现，也导致测试对象遗漏从而影响测试质量，因此，对测试需要分析不全面，则无法保证测试需求分析的质量。
3、由此可见，如何解决对测试需求分析不全面的问题，是本领域人员亟待解决的技术问题。
技术实现思路
1...
【技术保护点】
1.一种芯片测试需求分析方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的芯片测试需求分析方法，其特征在于，所述生成所述待测试芯片的测试需求矩阵之后，还包括：
3.根据权利要求1所述的芯片测试需求分析方法，其特征在于，所述根据通用测试对象模板得到待测试芯片的基础测试对象模板，包括：
4.根据权利要求2所述的芯片测试需求分析方法，其特征在于，所述对所述芯片测试对象模板中包含的每个质量目标对应的测试方法进行测试分析，得到所述质量目标对应的关键词及描述词，生成关键词测试分析模板，包括：
5.根据权利要求4所述的芯片测试需求分析...
【技术特征摘要】
1.一种芯片测试需求分析方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的芯片测试需求分析方法，其特征在于，所述生成所述待测试芯片的测试需求矩阵之后，还包括：
3.根据权利要求1所述的芯片测试需求分析方法，其特征在于，所述根据通用测试对象模板得到待测试芯片的基础测试对象模板，包括：
4.根据权利要求2所述的芯片测试需求分析方法，其特征在于，所述对所述芯片测试对象模板中包含的每个质量目标对应的测试方法进行测试分析，得到所述质量目标对应的关键词及描述词，生成关键词测试分析模板，包括：
5.根据权利要求4所述的芯片测试需求分析方法，其特征在于，所述关键词包括：分析关键词、分析关键词子类；
6.根据权利要...
【专利技术属性】
技术研发人员：周敏敏，任明刚，张鹏，任鹏飞，
申请(专利权)人：山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司，
类型：发明
国别省市：
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