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本申请公开了一种芯片测试需求分析方法、装置及介质；涉及芯片研发领域，解决对测试需求分析不全面的问题，首先在基础测试对象模板的基础上结合待测试芯片的具体信息得到具有针对性的芯片测试对象模板，避免了测试对象的遗漏；另外，对质量目标进行关键测试分...该专利属于山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司授权不得商用。