测试装置及测试方法制造方法及图纸

一种测试装置及测试方法，用于测试包括存储器单元的存储器器件。该测试装置包括内存和控制器。该内存存储第一数值。该控制器在给定定时执行以下操作：确定第二数值，以基于存储器单元的输出而正确读出存储器单元的数据，其中所述第二数值是阈限值；计算所述第一数值与所述第二数值之间的差值；基于所述第一数值与所述第二数值之间的差值，输出恶化信息；以及将存储在该内存中的所述第一数值更新为所述第二数值。本发明专利技术可在比正常操作的环境更严格的环境中测试存储器，有效排除仅有很小的操作偏差的存储器的位，并适当保证存储器的操作。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术在此讨论的实施例涉及一种，用于进行存储器测试。
技术介绍
按照常规，通过进行存储器操作测试以检查错误位以及通过排除错误位，可以确 保存储器的操作。这样的存储器操作测试是在针对逐个存储器单元装载(ship)所述存储 器之前完成的。具体而言，连接至所述存储器的存储器控制装置生成预定的测试模式，根据所生 成的测试模式来操作存储器，并进行多个测试项目。当存储器已经通过所述测试项目时，则 装载已通过测试项目的存储器并将其安装到信息处理系统。下面将参照图15对现有的存储器测试的实例进行具体描述。图15是解释现有技 术的视图。如图15所示，所述存储器控制装置生成预定的测试模式并将数据写入地址(图 15中示出为“ADD”)、用于写入指示的命令(图15中示出为“COM”)和写入数据传输至待 测试的所述存储器器件。此后，所述存储器器件将读出数据传输至该存储器控制装置。当接收到读出数据时，该存储器控制装置检查所述读出数据是否正确，并确定是 否通过了测试。结果，当确定被测试存储器通过了所述测试时，装载被测试的存储器。日本专利特开No. 2008-269669和日本专利特开No. 2008-84425是现有技术的实 例。在上述现有技术中，存储器操作测试是通过使用预定的测试模式针对逐个存储器 单元进行的。因此，尽管在该测试的测试结果中存储器没有错误，但在装载所述存储器后还 是可能出现错误。换言之，因为进行该测试的操作环境和实际使用该存储器的操作环境有 差别，所以即使在该测试结果中没有错误，但在产品装载之后仍可能会出现错误。因此，会 出现所述存储器的操作可能得不到适当保证的问题
技术实现思路
据此，在本实施例的一个方面中，其目的是提供一种可确保所述存储器的操作的 测试装置。根据本实施例的一个方面，测试装置用于测试包括存储器单元的存储器器件。该 测试装置包括内存(storage)和控制器。该内存存储第一数值。该控制器在给定定时执行 以下操作确定第二数值，以基于存储器单元的输出而正确读出存储器单元的数据，其中所 述第二数值是阈限值(threshold limitvalue)；计算所述第一数值与所述第二数值之间的 差值；基于所述第一数值与所述第二数值之间的差值，输出恶化信息；以及将存储在该内 存中的所述第一数值更新为所述第二数值。根据本实施例的另一个方面，测试方法用于测试包括存储器单元的存储器器件， 该测试方法包括以下步骤在内存中存储第一数值；以及在给定定时执行以下操作确定 第二数值，所述第二数值是阈限值，用于基于所述存储器单元的输出而正确读出所述存储器单元的数据；计算所述第一数值与所述第二数值之间的差值；基于所述第一数值与所述 第二数值之间的差值，输出恶化信息；以及将存储在该内存中的所述第一数值更新为所述第二数值。本专利技术可在比正常操作的环境更严格的环境中测试存储器，有效排除仅有很小的 操作偏差(margin)的存储器的位，并适当保证存储器的操作。附图说明图1是方框图，示出根据第一实施例的存储器控制装置的配置。图2是方框图，示出根据第二实施例的信息处理系统的配置。图3是示意图，用于解释根据第二实施例的信息处理系统中的存储器控制装置和 存储器器件的测试处理。图4是示意图，示出测试模式的测试实例。图5是示意图，示出测试模式的测试实例。图6是示意图，示出测试模式的测试实例。图7是示意图，示出测试模式的测试实例。图8是示意图，示出测试模式的测试实例。图9是示意图，示出测试模式的测试实例。图10是方框图，示出根据第二实施例的存储器控制装置的电路配置。图11是流程图，示出根据第二实施例的存储器控制装置的处理操作。图12是流程图，示出根据第二实施例的存储器控制装置的处理操作。图13是流程图，示出根据第二实施例的存储器控制装置的处理操作。图14是示意图，用于解释根据第三实施例的信息处理系统中的所述存储器控制 装置和存储器器件的测试处理。图15是示意图，用于解释现有技术。具体实施例方式下面将参照图具体描述存储器测试控制装置和存储器测试控制方法。在下面描述的实施例中，将描述根据第一实施例的存储器控制装置的配置和处 理，并在最后描述该第一实施例的优点。首先，下面将参照图1描述根据第一实施例的存贮器控制装置的配置。图1是方 框图，示出根据第一实施例的存储器控制装置的配置。如图1所示，信息处理系统1包括存 储器控制装置100、存储器200和未在图1示出的诸如CPU等外围组件。该信息处理系统1 可以是个人计算机等设备。该第一实施例的存储器控制装置100控制所述存储器200的读出/写入，启动在 系统水平的测试模式以进行存储器测试，并且该存储器控制装置100具体包括设置切换部 2和测试部3。当对安装在所述信息处理装置1中的存储器200进行测试时，所述设置切换部2 将操作条件的设置切换到比第一操作条件更严格的第二操作条件，其中该第一操作条件是实际操作环境下的操作条件。在被设置切换部2切换后的第二操作条件下，所述测试部3 测试存储器200。如上所述，当进行所述存储器测试时，该存储器控制装置100将所述操作条件的 设置切换到比第一操作条件更严格的第二操作条件，其中该第一操作条件是实际操作环境 下的操作条件，并在被切换后的第二操作条件下测试所述存储器。因此，所述存储器控制装置100可在比正常操作的环境更严格的环境下测试存储 器，有效排除仅有很小的操作偏差(margin)的存储器的位，并适当保证存储器的操作。由于所述存储器控制装置100对存储器的测试是在将存储器200安装在所述信息 处理系统1中的同时进行的，该存储器控制装置100在进行存储器测试时可考虑到外围组 件的操作影响(例如，在操作环境下的热应力和来自电源的系统噪声)。结果，存储器的操 作可得到适当保证。在下文中，将描述根据第二实施例的存储器控制装置的配置和处理流程，并在最 后描述该第二实施例的优点。下一步，将参照图2描述包括存储器控制装置10的信息处理装置1的配置。图2 是方框图，示出根据第二实施例的信息处理装置1的配置。如图2所示，所述信息处理系统 1包括存储器控制装置10，其中该存储器控制装置10进行存储器装置20的测试，包括对多 个测试对象装置20A至20C进行测试。信息处理装置1包括以下作为外围设备的部件中央处理器(CPU)30、图形卡 (graphics) 40, PCI 插槽 50、LAN 60、芯片集 70、硬盘 80、USB 连接器 90、ISA 插槽 100、系统 I/O 110、X总线(X-Bus)缓冲器120和BI0SR0M 130，这些部件通过总线等相互连接。下面 将描述对上述部件的处理。所述存储器装置10控制着所述存储器器件20A至20C的读出/写入，并启动在系 统水平的测试模式以进行存储器器件的测试。具体而言，当进行安装在信息处理装置1中 的存储器器件20A至20C的测试时，该存储器控制装置10将所述操作条件的设置切换到比 第一操作条件更严格的第二操作条件，其中第一操作条件是实际操作环境下的操作条件。 该存储器控制装置10在切换后的第二操作条件下测试存储器器件20A至20C。所述存储器器件20A至20C分别来自不同的销售商，并通过共用接口接收来自所 述存储器控制装置10的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试装置，用于测试包括存储器单元的存储器器件，该测试装置包括：内存，用以存储第一数值；以及控制器，用以在给定定时执行以下操作；确定第二数值，以基于所述存储器单元的输出而正确读出所述存储器单元的数据，其中所述第二数值是阈限值；计算所述第一数值与所述第二数值之间的差值；基于所述第一数值与所述第二数值之间的差值而输出恶化信息；以及将存储在该内存中的所述第一数值更新为所述第二数值。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：中野力藏，石桥修，宫崎贞夫，
申请(专利权)人：富士通株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]