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测试装置及测试方法制造方法及图纸
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文档序号:4017021
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一种测试装置及测试方法,用于测试包括存储器单元的存储器器件。该测试装置包括内存和控制器。该内存存储第一数值。该控制器在给定定时执行以下操作:确定第二数值,以基于存储器单元的输出而正确读出存储器单元的数据,其中所述第二数值是阈限值;计算所述第...
该专利属于富士通株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过富士通株式会社授权不得商用。
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