金标试纸条检测装置制造方法及图纸

技术编号:4017015 阅读:465 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术公开了一种金标试纸条检测装置,包括壳体1,嵌入式控制板2,检测架3,图像传感器4,初级处理板5,面光源6,微型打印机7,触摸屏液晶显示器8,滑道9,金标试纸条10,质控线11,检测线12,壳体1左上部设有触摸屏液晶显示器8,壳体1的右上部设有微型打印机7,金标试纸条检测装置内设有嵌入式控制板2,嵌入式控制板2位于壳体1的左下部,壳体1右下侧设检测架3,检测架3下部设有滑道9,检测架3左右侧上方各设一个面光源6,检测架3顶部设有图像传感器4和初级处理板5。本实用新型专利技术在进行检测时可以避免人为引入误差,有较高的采集精度,可以进行半定量或定量检测。(*该技术在2020年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术属于一种检测装置,具体涉及一种金标试纸条检测装置
技术介绍
目前,公知的金标法均采用通过肉眼判断金标试纸条在质控线有效时,观察检测 线和对照线判断阴性还是阳性。这样会引入人为误差,目前较好的方法是采用发光二极管 作光源,光电池作接受元件,其精度低,而且无法很好的进行定量检测。
技术实现思路
本技术提供一种金标试纸条检测装置,可以进行半定量或高精度的定量检 测,解决现有金标试纸条检测装置存在的肉眼判断金标检测试纸条阴性还是阳性的不足, 克服由人为引入的误差。本技术采用以下技术方案,一种金标试纸条检测装置,包括壳体1,嵌入式控 制板2,检测架3,图像传感器4,初级处理板5,面光源6,微型打印机7,触摸屏液晶显示器 8,滑道9,金标试纸条10,质控线11,检测线12,金标试纸条检测装置壳体1左上部设有触 摸屏液晶显示器8,壳体1的右上部设有微型打印机7,金标试纸条检测装置内设有嵌入式 控制板2,嵌入式控制板2位于壳体1的左下部,嵌入式控制板2由单片机、存储器、时钟、网 络接口及外设接口组成,壳体1右下侧设检测架3,检测架3下部设有滑道9,检测架3左右 侧上方各设一个面光源6,检测架3顶部设有图像传感器4和初级处理板5,图像传感器4 正下方设有带质控线11和检测线12的滑道9,滑道9内设有金标试纸条10。图像传感器 4选用CMOS图像传感器4或CXD图像传感器4中的一种。本技术与现有技术相比具有以下优点避免人为引入误差,有较高的采集精 度,可以进行半定量或定量检测。附图说明图1是本技术的结构示意图。图2是图1俯视图的剖视图。具体实施方式金标试纸条检测装置,包括壳体1,嵌入式控制板2,检测架3,CMOS图像传感器4, 初级处理板5,面光源6,微型打印机7,触摸屏液晶显示器8,滑道9,金标试纸条10,质控线 11,检测线12。壳体1左上部设有触摸屏液晶显示器8,壳体1的右上部装有微型打印机7。 金标试纸条检测装置内设有嵌入式控制板2,嵌入式控制板2位于壳体1的左下部,嵌入式 控制板2由单片机、存储器、时钟、网络接口及外设接口组成。壳体1右下侧设检测架3,检 测架3下部设有滑道9,检测架3左右侧上方各有一个面光源6,检测架3顶部设有CMOS图 像传感器4和初级处理板5。检测时金标试纸条10装入滑道9内,且位于CMOS图像传感器4正下方。CMOS图像传感器检测检测线12和质控线11信息,并输出信号输入到初级处 理板5,初级处理板5输出到嵌入式控制板2,嵌入式控制板2进行处理、修改、显示、存储、 查询及检测曲线显示,可在触摸屏显示和查询检测数据、查询和修改标定数据、查询和修改 时间数据,可将检测和标定数据存于存储器中,并可通过微型打印机7进行结果打印,并可 通过通讯口同上位机进行通讯。 将金标试纸条插入滑道,并确认插到检测位置,面光源发出的光照在金标试纸条 上反射到CMOS图像传感器上,经过初级处理板、采集进入嵌入式控制板,经计算显示、存 储,可快速、准确得到检测线断阴性还是阳性或显示检测数值。权利要求一种金标试纸条检测装置,包括壳体(1),嵌入式控制板(2),检测架(3),图像传感器(4),初级处理板(5),面光源(6),微型打印机(7),触摸屏液晶显示器(8),滑道(9),金标试纸条(10),质控线(11),检测线(12),其特征是壳体(1)左上部设有触摸屏液晶显示器(8),壳体(1)的右上部设有微型打印机(7),金标试纸条检测装置内设有嵌入式控制板(2),嵌入式控制板(2)位于金标试纸条检测装置的壳体(1)的左下部,嵌入式控制板(2)由单片机、存储器、时钟、网络接口及外设接口组成,壳体(1)右下侧设检测架(3),检测架(3)下部设有滑道(9),检测架(3)左右侧上方各设一个面光源(6),检测架(3)顶部设有图像传感器(4)和初级处理板(5),图像传感器(4)正下方设有带质控线(11)和检测线(12)的滑道(9),滑道(9)内设有金标试纸条(10)。2.据权利要求1所述的一种金标试纸条检测装置,其特征是图像传感器(4)选用 CMOS图像传感器⑷或CXD图像传感器⑷中的一种。专利摘要本技术公开了一种金标试纸条检测装置,包括壳体1,嵌入式控制板2,检测架3,图像传感器4,初级处理板5,面光源6,微型打印机7,触摸屏液晶显示器8,滑道9,金标试纸条10,质控线11,检测线12,壳体1左上部设有触摸屏液晶显示器8,壳体1的右上部设有微型打印机7,金标试纸条检测装置内设有嵌入式控制板2,嵌入式控制板2位于壳体1的左下部,壳体1右下侧设检测架3,检测架3下部设有滑道9,检测架3左右侧上方各设一个面光源6,检测架3顶部设有图像传感器4和初级处理板5。本技术在进行检测时可以避免人为引入误差,有较高的采集精度,可以进行半定量或定量检测。文档编号G01N33/52GK201697915SQ20102019620公开日2011年1月5日 申请日期2010年5月16日 优先权日2010年5月16日专利技术者张维彬, 王俊斌 申请人:山西亚森实业有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种金标试纸条检测装置,包括壳体(1),嵌入式控制板(2),检测架(3),图像传感器(4),初级处理板(5),面光源(6),微型打印机(7),触摸屏液晶显示器(8),滑道(9),金标试纸条(10),质控线(11),检测线(12),其特征是:壳体(1)左上部设有触摸屏液晶显示器(8),壳体(1)的右上部设有微型打印机(7),金标试纸条检测装置内设有嵌入式控制板(2),嵌入式控制板(2)位于金标试纸条检测装置的壳体(1)的左下部,嵌入式控制板(2)由单片机、存储器、时钟、网络接口及外设接口组成,壳体(1)右下侧设检测架(3),检测架(3)下部设有滑道(9),检测架(3)左右侧上方各设一个面光源(6),检测架(3)顶部设有图像传感器(4)和初级处理板(5),图像传感器(4)正下方设有带质控线(11)和检测线(12)的滑道(9),滑道(9)内设有金标试纸条(10)。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:张维彬王俊斌
申请(专利权)人:山西亚森实业有限公司
类型:实用新型
国别省市:14[中国|山西]

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