一种晶圆转速测量装置制造方法及图纸

技术编号:40159612 阅读:7 留言:0更新日期:2024-01-26 23:34
本技术公开了一种晶圆转速测量装置,包括固定座和晶圆,晶圆转速测量装置还包括磁感侦测器,磁感侦测器套设在一支撑轴上,支撑轴连接在固定座上,磁感侦测器的前端连接有封盖,封盖与磁感侦测器之间设有卡槽;固定座上连接有若干旋转轴,旋转轴的前端设有凹槽,晶圆架设在凹槽上,旋转轴驱动晶圆旋转,旋转轴连接在固定座上;磁感侦测器设于晶圆的下方,磁感侦测器的卡槽与晶圆的下边缘相接触,晶圆转动时带动磁感侦测器旋转。通过磁感侦测器的设置可实时监测晶圆转速,确保设备以期望的速度运行,从而提高生产效率、优化晶圆生产质量和确保安全性。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及晶圆转速侦测设备,尤其涉及一种晶圆转速测量装置


技术介绍

1、晶圆是指硅半导体集成电路制作所用的硅晶片,由于其形状为圆形,故称为晶圆。在硅晶片上可加工制作成各种电路元件结构,而成为有特定电性功能的ic产品。晶圆的原始材料是硅,而地壳表面有用之不竭的二氧化硅。二氧化硅矿石经由电弧炉提炼,盐酸氯化,并经蒸馏后,可制成高纯度的多晶硅。

2、晶圆在加工进行包装前,需要进行清洗处理,保证晶圆的清洁及正常使用,晶圆在清洗时进行旋转运动,同时,需要测量晶圆的转速,来判断是否需要调整晶圆转速以及其他操作,目前的晶圆转速测量装置还存在不足,晶圆与转轴接触的地方容易打滑,导致晶圆一般打不到设计的转速要求,降低了晶圆转速测量的准确度,影响工作人员对晶圆操作的判断,因此需要进一步改进。


技术实现思路

1、鉴于目前晶圆测速装置存在的上述不足,本技术提供一种晶圆转速测量装置,能够提高晶圆转速测量的准确度。

2、为达到上述目的,本技术的实施例采用如下技术方案:

3、一种晶圆转速测量装置,包括固定座和晶圆,所述晶圆转速测量装置还包括磁感侦测器,所述磁感侦测器套设在一支撑轴上,所述支撑轴连接在固定座上,所述磁感侦测器的前端连接有封盖,所述封盖与磁感侦测器之间设有卡槽;所述固定座上连接有若干旋转轴,所述旋转轴的前端设有凹槽,晶圆架设在凹槽上,所述旋转轴驱动晶圆旋转,所述旋转轴连接在固定座上;所述磁感侦测器设于晶圆的下方,所述磁感侦测器的卡槽与晶圆的下边缘相接触,所述晶圆转动时带动磁感侦测器旋转。

4、依照本技术的一个方面,所述旋转轴包括第一旋转轴、第二旋转轴和第三旋转轴,所述第三旋转轴设置在第一旋转轴和第二旋转轴之间,所述晶圆刚好架设在第一旋转轴、第二旋转轴和第三旋转轴的凹槽上。

5、依照本技术的一个方面,所述固定座上开设有若干开孔,所述开孔用于固定连接旋转轴。

6、依照本技术的一个方面,所述旋转轴通过端座连接在固定座上,所述端座上开设有若干螺栓孔,所述螺栓孔与所述开孔的位置相对应,所述端座通过螺栓连接固定在固定座上。

7、依照本技术的一个方面,所述旋转轴的凹槽上环绕连接有传动皮带,所述传动皮带的另一端环绕在马达上,所述马达带动传动皮带转动,进而带动旋转轴旋转。

8、依照本技术的一个方面,所述固定座内开设有内螺纹孔,所述支撑轴的一端设有外螺纹结构,所述支撑轴旋入内螺纹孔中,与固定座螺纹连接。

9、本技术实施的优点:本技术提供的一种晶圆转速测量装置,包括固定座、晶圆、磁感侦测器,其中磁感侦测器套设在一支撑轴上,支撑轴连接在固定座上,磁感侦测器的前端连接有封盖,封盖与磁感侦测器之间设有卡槽;磁感侦测器设于晶圆的下方,磁感侦测器的卡槽与晶圆的下边缘相接触,晶圆转动时带动磁感侦测器旋转;固定座上连接有若干旋转轴,旋转轴的前端设有凹槽,晶圆架设在凹槽上,由旋转轴驱动晶圆旋转,只有当晶圆转动的情况下才会带动磁感侦测器旋转,从而判断晶圆是否在旋转状态以及晶圆的旋转速度,通过磁感侦测器可实时监测晶圆转速,确保设备以期望的速度运行,从而提高生产效率、优化晶圆生产质量和确保安全性。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种晶圆转速测量装置,包括固定座(1)和晶圆(2),其特征在于,所述晶圆转速测量装置还包括磁感侦测器(3),所述磁感侦测器(3)套设在一支撑轴上,所述支撑轴连接在固定座(1)上,所述磁感侦测器(3)的前端连接有封盖(4),所述封盖(4)与磁感侦测器(3)之间设有卡槽(5);所述固定座(1)上连接有若干旋转轴,所述旋转轴的前端设有凹槽(9),晶圆(2)架设在凹槽(9)上,所述旋转轴驱动晶圆(2)旋转,所述旋转轴连接在固定座(1)上;所述磁感侦测器(3)设于晶圆(2)的下方,所述磁感侦测器(3)的卡槽(5)与晶圆(2)的下边缘相接触,所述晶圆(2)转动时带动磁感侦测器(3)旋转。

2.根据权利要求1所述的晶圆转速测量装置,其特征在于,所述旋转轴包括第一旋转轴(6)、第二旋转轴(7)和第三旋转轴(8),所述第三旋转轴(8)设置在第一旋转轴(6)和第二旋转轴(7)之间,所述晶圆(2)刚好架设在第一旋转轴(6)、第二旋转轴(7)和第三旋转轴(8)的凹槽(9)上。

3.根据权利要求1所述的晶圆转速测量装置,其特征在于,所述固定座(1)上开设有若干开孔,所述开孔用于固定连接旋转轴。

4.根据权利要求3所述的晶圆转速测量装置,其特征在于,所述旋转轴通过端座(10)连接在固定座(1)上,所述端座(10)上开设有若干螺栓孔(11),所述螺栓孔(11)与所述开孔的位置相对应,所述端座(10)通过螺栓连接固定在固定座(1)上。

5.根据权利要求1所述的晶圆转速测量装置,其特征在于,所述旋转轴的凹槽(9)上环绕连接有传动皮带,所述传动皮带的另一端环绕在马达上,所述马达带动传动皮带转动,进而带动旋转轴旋转。

6.根据权利要求1所述的晶圆转速测量装置,其特征在于,所述固定座(1)内开设有内螺纹孔,所述支撑轴的一端设有外螺纹结构,所述支撑轴旋入内螺纹孔中,与固定座(1)螺纹连接。

...

【技术特征摘要】

1.一种晶圆转速测量装置,包括固定座(1)和晶圆(2),其特征在于,所述晶圆转速测量装置还包括磁感侦测器(3),所述磁感侦测器(3)套设在一支撑轴上,所述支撑轴连接在固定座(1)上,所述磁感侦测器(3)的前端连接有封盖(4),所述封盖(4)与磁感侦测器(3)之间设有卡槽(5);所述固定座(1)上连接有若干旋转轴,所述旋转轴的前端设有凹槽(9),晶圆(2)架设在凹槽(9)上,所述旋转轴驱动晶圆(2)旋转,所述旋转轴连接在固定座(1)上;所述磁感侦测器(3)设于晶圆(2)的下方,所述磁感侦测器(3)的卡槽(5)与晶圆(2)的下边缘相接触,所述晶圆(2)转动时带动磁感侦测器(3)旋转。

2.根据权利要求1所述的晶圆转速测量装置,其特征在于,所述旋转轴包括第一旋转轴(6)、第二旋转轴(7)和第三旋转轴(8),所述第三旋转轴(8)设置在第一旋转轴(6)和第二旋转轴(7)之间,所述晶圆(2)刚好架设在第一旋转...

【专利技术属性】
技术研发人员:彭代全徐康褚书明潘家英周孝彭雅琴
申请(专利权)人:上海裕诗实业有限公司
类型:新型
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1