【技术实现步骤摘要】
本申请涉及半导体自动化测试领域，特别是涉及一种负压输出的使能电路、电源装置及自动测试设备。
技术介绍
1、半导体自动化测试，指的是利用自动测试设备(automatic test equipment，ate)对被测器件(device under test，dut)的各项参数指标进行检测，剔除残次品以控制半导体器件的出厂品质。半导体自动化测试设备的硬件电路通常较为复杂且涉及多种芯片，因此在对模拟ic的供电中，通常会涉及多种负压电源的供电设计。
2、现有技术中，能够用作负压电源的芯片规格通常是不同的，因此使能引脚的电平要求也不相同，通常要根据不同的电源芯片特性设计相应电路。负压电源使能引脚的电平计算是参照芯片的内部地，因此使能信号的电平不再是常规的电平，而是需要根据实际场景进行设计，甚至会出现负值，这时一般使用其他负压电源的电压进行分压得到负电压的使能信号。
技术实现思路
1、基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种负压输出的使能电路、负压电源、电源装置及自动测试设备。
...
【技术保护点】
1.一种负压输出的使能电路，与负电源芯片连接，所述负电源芯片的电压输入引脚连接正电源，其特征在于，所述电路包括：
2.根据权利要求1所述的负压输出的使能电路，其特征在于，所述使能控制电路包括：分压电路以及连接在所述分压电路中的开关电路，所述开关电路还与所述控制器连接。
3.根据权利要求2所述的负压输出的使能电路，其特征在于，所述分压电路包括：第一电阻以及第二电阻；
4.根据权利要求2所述的负压输出的使能电路，其特征在于，所述开关电路包括串联连接的第三电阻、第一控制开关以及第二控制开关；
5.根据权利要求4所述的负压输出的...
【技术特征摘要】
1.一种负压输出的使能电路，与负电源芯片连接，所述负电源芯片的电压输入引脚连接正电源，其特征在于，所述电路包括：
2.根据权利要求1所述的负压输出的使能电路，其特征在于，所述使能控制电路包括：分压电路以及连接在所述分压电路中的开关电路，所述开关电路还与所述控制器连接。
3.根据权利要求2所述的负压输出的使能电路，其特征在于，所述分压电路包括：第一电阻以及第二电阻；
4.根据权利要求2所述的负压输出的使能电路，其特征在于，所述开关电路包括串联连接的第三电阻、第一控制开关以及第二控制开关；
5.根据权利要求4所述的负压输出的使能电路，其特征在于，所述第一控制开关包括mos管，所述mos管的g极作为控制端连接所述控制器，s极连接公共地，d极连接所述第二控制开关。<...
【专利技术属性】
技术研发人员：姚琦，赵川，
申请(专利权)人：杭州长川科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
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