【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及模拟电路，尤其涉及一种基于参考通道的时间交织adc采样时间失配校正方法及系统。
技术介绍
1、模数转换器(adc)作为连接模拟电路与数字电路的桥梁，被广泛应用于电子通信和仪器仪表等领域。随着社会信息技术的发展，各领域对模数转换器的精度和采样速率要求越来越高，但精度和采样速率会相互制约，且基于现有工艺的限制，模数转换器的性能指标已接近极限。这时，时间交织架构被提出来实现在保持模数转换器精度的前提下提高模数转换器采样速率。
2、时间交织adc的工作原理是采用m个完全相同的子通道adc，以第一个子通道时钟为基准，其他子通道的时钟按子通道顺序依次往后延时(i-1)*(t/m)(i表示第i个子通道，i∈(2,m)，t表示时钟周期)，各子通道在原来的一个时间周期内依次按t/m时间间隔采样，可在一个时钟周期内采得m个点。这样与单个子通道相比，在保持精度的前提下，模拟转换器采样速率提升了m倍。
3、但时间交织架构严重受制于子通道间的失配。失配主要分为增益失配，失调失配和采样时间失配。其中采样时间失配对时间交织adc性能指标影响最大，最难校正，且失配大小与输入信号频率相关，频率越高，失配越大。现有的采样时间失配校正算法存在收敛速度慢的问题。收敛速度快是衡量采样时间失配校正算法的一个重要指标。
技术实现思路
1、本专利技术通过提供一种基于参考通道的时间交织adc采样时间失配校正方法及系统，解决了现有技术中采样时间失配校正过程中收敛速度慢的问题，实现了根据输入信号在
2、第一方面，本专利技术提供了一种基于参考通道的时间交织adc采样时间失配校正方法，该方法包括：
3、获取输入信号经过子通道后输出的子通道采样信号、以及经过参考通道后输出的参考通道采样信号；
4、提取与所述子通道采样信号对应的第一特征值以及与所述参考通道采样信号对应的第二特征值；
5、根据所述第一特征值与所述第二特征值计算校正步长，并判断所述校正步长方向，得到带方向校正步长；
6、根据所述带方向校正步长对所述校正步长的系数进行修改，并根据所述带方向校正步长对所述输入信号的采样时钟进行调节，完成采样时间失配校正。
7、结合第一方面，在一种可能的实现方式中，所述计算校正步长，具体包括：
8、分别获取所述子通道采样信号以及所述参考通道采样信号中的多个采样点的值；
9、将所述子通道采样信号的采样点的值与所述参考通道采样信号的采样点的值进行计算，得到对应各采样点的差值；
10、将对应各采样点的差值进行累加，得到总差值，并根据所述总差值计算校正步长。
11、结合第一方面，在一种可能的实现方式中，所述将对应各采样点的差值进行累加，得到总差值，并根据所述总差值计算校正步长，具体包括：
12、将所述参考通道的采样点与所述子通道单元的采样点的差值的绝对值进行累加，得到初始总差值；
13、对所述初始总差值求均值，若所述均值变化小于等于第一阈值，则确定当前的初始总差值为所述总差值，若所述均值变化大于第一阈值，则继续将所述参考通道的采样点与所述子通道单元的采样点的差值的绝对值进行累加，直至得到所述总差值。
14、结合第一方面，在一种可能的实现方式中，所述判断所述校正步长方向，具体包括：
15、确定当前时刻下的第一输出误差，以及前一时刻下的第二输出误差，以及前一时刻下的所述校正误差；
16、根据校正步长方向计算公式，计算当前时刻下的所述校正步长方向。
17、结合第一方面，在一种可能的实现方式中，所述校正步长方向计算公式，具体表示为：
18、
19、其中，dsum2表示第一输出误差；dsum1表示第二输出误差；δti表示校正步长。
20、第二方面，本专利技术提供了一种基于参考通道的时间交织adc采样时间失配校正系统，该系统包括：子通道模块、参考通道模块、特征提取模块、校正步长产生模块、校正方向判断模块以及可变延时线模块；
21、所述子通道模块用于对输入的信号进行不同频率的采样，得到多个子通道采样信号；
22、所述参考通道模块用于对输入信号进行采样，得到参考通道采样信号；
23、所述特征提取模块用于分别提取多个所述子通道采样信号的特征以及提取参考通道采样信号的特征，分别得到多个子通道信号特征以及参考通道信号特征；
24、所述校正步长产生模块用于计算校正步长以及确定校正步长系数；
25、所述校正方向判断模块用于判断所述校正步长方向，得到带方向校正步长，并将所述带方向校正步长反馈至所述校正步长产生模块；
26、所述可变延时线模块用于根据所述带方向校正步长对采样信号进行修改，并将修改后的采样时钟输入至所述子通道模块中。
27、结合第二方面，在一种可能的实现方式中，所述子通道模块包括多个并联的子通道单元，所述子通道模块的输入端与所述输入信号以及所述可变延时线模块的输出端连接。
28、结合第二方面，在一种可能的实现方式中，所述可变延时线模块包括多个并联的延时线单元，所述可变延时线模块的输入端与采样时钟以及所述校正方向判断模块的输出端连接。
29、结合第二方面，在一种可能的实现方式中，所述校正步长产生模块的输入端与所述子通道模块的输出端、参考通道模块的输出端以及特征提取模块的输入端连接。
30、结合第二方面，在一种可能的实现方式中，所述特征包括：所述采样信号的幅值和采样信号的频率。
31、本专利技术中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：
32、本专利技术通过一种基于参考通道的时间交织adc采样时间失配校正方法及系统，该方法包括：获取输入信号经过子通道后输出的子通道采样信号、以及经过参考通道后输出的参考通道采样信号，根据输入信号经过子通道的输出信号以及经过参考通道的输出信号，确定两个输出信号之间的误差；提取与子通道采样信号对应的第一特征值以及与参考通道采样信号对应的第二特征值，根据已经提取到的第一特征值和第二特征值得出每个采样点上存在的延时误差；根据第一特征值与第二特征值计算校正步长，并判断校正步长方向，得到带方向校正步长，防止了出现持续改变校正方向导致的收敛速度变慢的影响；根据带方向校正步长对校正步长的系数进行修改，并根据带方向校正步长对输入信号的采样时钟进行调节，完成采样时间失配校正，利用对校正步长的系数的修改解决了现有技术中采样时间失配校正过程中收敛速度慢的问题，实现了根据输入信号在子通道与参考通道的输出误差估算出与采样时间失配大小相近的校正步长，使采样时间失配校正能够快速收敛。
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1.一种基于参考通道的时间交织ADC采样时间失配校正方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的基于参考通道的时间交织ADC采样时间失配校正方法，其特征在于，所述计算校正步长，具体包括：
3.根据权利要求2所述的基于参考通道的时间交织ADC采样时间失配校正方法，其特征在于，所述将对应各采样点的差值进行累加，得到总差值，并根据所述总差值计算校正步长，具体包括：
4.根据权利要求1所述的基于参考通道的时间交织ADC采样时间失配校正方法，其特征在于，所述判断所述校正步长方向，具体包括：
5.根据权利要求4所述的基于参考通道的时间交织ADC采样时间失配校正方法，其特征在于，所述校正步长方向计算公式，具体表示为：
6.一种基于参考通道的时间交织ADC采样时间失配校正系统，其特征在于，包括：子通道模块、参考通道模块、特征提取模块、校正步长产生模块、校正方向判断模块以及可变延时线模块；
7.根据权利要求6所述的基于参考通道的时间交织ADC采样时间失配校正系统，其特征在于，所述子通道模块包括多个并联的子通道单元，所述子
8.根据权利要求6所述的基于参考通道的时间交织ADC采样时间失配校正系统，其特征在于，所述可变延时线模块包括多个并联的延时线单元，所述可变延时线模块的输入端与采样时钟以及所述校正方向判断模块的输出端连接。
9.根据权利要求6所述的基于参考通道的时间交织ADC采样时间失配校正系统，其特征在于，所述校正步长产生模块的输入端与所述子通道模块的输出端、参考通道模块的输出端以及特征提取模块的输入端连接。
10.根据权利要求6所述的基于参考通道的时间交织ADC采样时间失配校正系统，其特征在于，所述特征包括：所述采样信号的幅值和采样信号的频率。
...【技术特征摘要】
1.一种基于参考通道的时间交织adc采样时间失配校正方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的基于参考通道的时间交织adc采样时间失配校正方法，其特征在于，所述计算校正步长，具体包括：
3.根据权利要求2所述的基于参考通道的时间交织adc采样时间失配校正方法，其特征在于，所述将对应各采样点的差值进行累加，得到总差值，并根据所述总差值计算校正步长，具体包括：
4.根据权利要求1所述的基于参考通道的时间交织adc采样时间失配校正方法，其特征在于，所述判断所述校正步长方向，具体包括：
5.根据权利要求4所述的基于参考通道的时间交织adc采样时间失配校正方法，其特征在于，所述校正步长方向计算公式，具体表示为：
6.一种基于参考通道的时间交织adc采样时间失配校正系统，其特征在于，包括：子通道模块、参考通道模块、特征提取模块、校正步长产生模块、校正方...
【专利技术属性】
技术研发人员：陶舰航，王文强，
申请(专利权)人：西安电子科技大学芜湖研究院，
类型：发明
国别省市：
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