【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及运算放大器领域，尤其涉及一种高精度校准运算放大器电路。
技术介绍
1、随着cmos工艺电路集成度的不断提高，cmos集成电路受到越来越广泛的运用。目前主流的模拟芯片基本上都离不开cmos电路，而作为模拟芯片最基础也是最核心的电路—集成运算放大器也不例外，但是相比bjt工艺，使用cmos工艺实现集成运算放大器有一个比较大的缺点，就是运算放大器的输入端offset比较大，这在高精度、高精密领域使用中是十分不利的；传统校准放大器的技术auto zero和chopper，使用auto zero和chopper校准放大器后，放大器的输出端会产生毛刺；当用于驱动高采样速率adc的时候，由于在放大器输出端引入毛刺而导致高采样速率adc的精度下降。
技术实现思路
1、专利技术目的：为了克服现有技术中存在的不足，本专利技术提供一种用在高采样速率adc里面的高精度放大器校准电路，采用逐次逼近的思路来进行校准，进而实现上电之后的一次性校准，减小运算放大器的输入端offset；同时故意引入一个偏差，...
【技术保护点】
1.一种用在高采样速率ADC里面的高精度放大器校准电路，其特征在于：包括放大器AMP(1)、比较器COMP(2)、校准控制模块(3)和校准电流镜组(4)；所述放大器AMP(1)输入端输入共模；所述放大器AMP(1)输出的OUTP信号和OUTN信号输入到比较器COMP(2)，所述比较器COMP(2)比较OUTP信号和OUTN信号后，输出信号到校准控制模块(3)；所述校准电流镜组(4)包括若干电流镜，各所述电流镜上的IP开关和IN开关由校准控制模块(3)控制，所述校准电流镜组(4)中各电流镜的IP开关均与放大器AMP(1)的PM3管(13)的漏极电性连接，校准电流镜组(4...
【技术特征摘要】
1.一种用在高采样速率adc里面的高精度放大器校准电路，其特征在于：包括放大器amp(1)、比较器comp(2)、校准控制模块(3)和校准电流镜组(4)；所述放大器amp(1)输入端输入共模；所述放大器amp(1)输出的outp信号和outn信号输入到比较器comp(2)，所述比较器comp(2)比较outp信号和outn信号后，输出信号到校准控制模块(3)；所述校准电流镜组(4)包括若干电流镜，各所述电流镜上的ip开关和in开关由校准控制模块(3)控制，所述校准电流镜组(4)中各电流镜的ip开关均与放大器amp(1)的pm3管(13)的漏极电性连接，校准电流镜组(4)中各电流镜的in开关均与放大器amp(1)的pm2管(12)的漏极电性连接。
2.根据权利要求1所述的一种用在高采样速率adc里面的高精度放大器校准电路，其特征在于：所述放大器amp(1)的对管包括正相端输入对管和负相端输入对管；所述正相端输入对管尺寸相较于负相端输入对管尺寸偏小，所述放大器amp(1)由于正相端输入对管尺寸相较于负相端输入对管尺寸偏小，引入一个偏差offset。
3.根据权利要求1所述的一种用在高采样速率adc里面的高精度放大器校准电路，其特征在于：所述放大器amp(1)包括pn1管(11)、pn2管(12)、pn3管(13)、nm2管(14)和nm3管(15)；所述nm2管(15)和nm3管(16)的源极接地，所述pn1管(11)的源极输入vdd，pn1管(11)的栅极输入vb1信号；所述pn3管(13)的栅极输入共模的vinp，所述pn2管(12)的栅极输入共模的vinn。
4.根据权利要求1所述的一种用在高采样速率adc里面的高精度放大器校准电路，其特征在于：所述比较器comp(2)正输入端输入outn信号，所述比较器comp(2)负输入端输入outp信号；所述比较器comp(2)输入外部时钟clk；所述比较器comp(2)比较outp信号和outn信号，正输出端输出comp_n信号，负输出端输出comp_p信号，所述comp_n信号和comp_p信号输入到校准控制模块(3)的计数模块(31)。
5.根据权利要求1所述的一种用在高采样速率adc里面的高精度放大器校准电路，其特征在于：所述校准控制模块(3)包括计数模块(31)、锁存模块(32)和选通信号控制模块(33)；所述计数模块(31)将flag_p信...
【专利技术属性】
技术研发人员：胡伟波，邓新伟，秦克凡，燕翔，杨尚争，石方敏，
申请(专利权)人：江苏谷泰微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
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