本发明专利技术涉及硅棒测量技术领域，具体为一种硅棒长度测量器，包括硅棒端头限位靠板，硅棒端头限位靠板的外侧设置固定板，硅棒端头限位靠板与固定板之间安装硅棒推送装置，硅棒推送装置与固定板固定连接，硅棒推送装置的一侧设置第一刻度承载杆，硅棒推送装置的另一侧设置第二刻度承载杆，第二刻度承载杆的外侧设置第三刻度承载杆，第一刻度承载杆的外侧设置防护杆，第三刻度承载杆的外侧设置固定杆。本发明专利技术机器的长度缩短，将硅棒端头限位靠板与杆体端部固定板之间的区间空出，减少机器整体的成本，能测量粗长硅棒的长度，设计第三刻度承载杆测量细短硅棒的长度，可以满足多种硅棒的长度测量需求，而且还能方便硅棒的上料和下料。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及硅棒测量，具体为一种硅棒长度测量器。
技术介绍
1、单晶硅棒的制造过程是单晶硅从熔炉里出来后，被挤压成圆柱体，在挤压的过程中，其外部形成了不规则的波纹状的结构。为了便于制造、运输，挤压成型的单晶硅棒要被切割机床切割成小段，由于单晶硅棒比较重，在切割的过程中，单晶硅棒的两个端面都会有一定程度的斜度。为了减少浪费，一般都需要把每根单晶硅棒的具体尺寸测量出来，方便下一道工序根据单晶硅棒的尺寸情况，制定相应的加工方案，以求最大限度多生产出芯片基材来。
2、硅棒有长有短、有粗有细，现有的硅棒长度测量装置，主要是针对较为粗长的硅棒测量使用，而在测量这类型的硅棒的时候，机器设计的长度很长，因为只有设计的长，才能容纳较长的硅棒，这样使得测量装置成本增加，且测量硅棒的种类单一。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种硅棒长度测量器，以解决上述
技术介绍
中提出测量装置成本增加，且测量硅棒的种类单一的问题。
2、为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：
>3、一种硅棒长度测本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种硅棒长度测量器，包括硅棒端头限位靠板(1)，其特征在于：所述硅棒端头限位靠板(1)的外侧设置固定板(2)，所述硅棒端头限位靠板(1)与固定板(2)之间安装硅棒推送装置(3)，所述硅棒推送装置(3)与固定板(2)固定连接，所述硅棒推送装置(3)的一侧设置第一刻度承载杆(4)，硅棒推送装置(3)的另一侧设置第二刻度承载杆(5)，所述第二刻度承载杆(5)的外侧设置第三刻度承载杆(6)，所述第一刻度承载杆(4)的外侧设置防护杆(7)，所述第三刻度承载杆(6)的外侧设置固定杆(8)，固定杆(8)上活动套设安装导向斜板(9)，所述第一刻度承载杆(4)、防护杆(7)的端部和第二刻度承载杆(5)...
【技术特征摘要】
1.一种硅棒长度测量器，包括硅棒端头限位靠板(1)，其特征在于：所述硅棒端头限位靠板(1)的外侧设置固定板(2)，所述硅棒端头限位靠板(1)与固定板(2)之间安装硅棒推送装置(3)，所述硅棒推送装置(3)与固定板(2)固定连接，所述硅棒推送装置(3)的一侧设置第一刻度承载杆(4)，硅棒推送装置(3)的另一侧设置第二刻度承载杆(5)，所述第二刻度承载杆(5)的外侧设置第三刻度承载杆(6)，所述第一刻度承载杆(4)的外侧设置防护杆(7)，所述第三刻度承载杆(6)的外侧设置固定杆(8)，固定杆(8)上活动套设安装导向斜板(9)，所述第一刻度承载杆(4)、防护杆(7)的端部和第二刻度承载杆(5)、第三刻度承载杆(6)、固定杆(8)的端部固定安装杆体端部固定板(11)，所述固定板(2)和杆体端部固定板(11)之间设置硅棒推出装置(10)，所述硅棒推出装置(10)位于第一刻度承载杆(4)、防护杆(7)的下方，所述杆体端部固定板(11)与硅棒端头限位靠板(1)之间留有间距。
2.根据权利要求1所述的一种硅棒长度测量器，其特征在于：所述第一刻度承载杆(4)、第二刻度承载杆(5)、第三刻度承载杆(6)齐平设置。
3.根据权利要求1所述的一种硅棒长度测量器，其特征在于：所述防护杆(7)、固定杆(8)齐平设置。
4.根据权利要求1所述的一种硅棒长度测量器，其特征在于：所述第一刻度承载杆(4)、第二刻度承载杆(5)的刻度起始值为硅棒端头限位靠板(1)至第一刻度承载杆(4)、第二刻度承载杆(5)端部的间距长度值。
5.根据权利要求1所述的一种硅棒长度测量器，其特征在于：所述硅棒推送装置(3)包括导向框槽(30...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨定勇，张力峰，邹文龙，
申请(专利权)人：扬州晶樱光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。