一种ＲＦＩＤ标签介质影响的基准测试系统及方法技术方案

本发明专利技术公开了一种ＲＦＩＤ标签介质影响的基准测试系统及方法，由测试控制器、频谱分析仪、矢量信号发生器、发射天线、接收天线、发射天线支架、接收天线支架、基底介质材料、基底板支架，以及用来确定待测标签与基底介质材料之间间距的聚苯乙烯块组成，在输入能量相同的情况下，通过测量待测标签与不同基底介质材料间距若干确定距离时标签反向散射信号的变化来评价该测试标签对于不同基底材料和不同间距下的工作状态。利用该测试系统与方法，可以指导使用者在ＲＦＩＤ部署前即根据应用环境中介质材料的特点选择更加友好和能量转换效率更高的ＲＦＩＤ标签，进而为使用者提供一种简单、明确、有效的ＲＦＩＤ自动化测试工具和基准测试方法。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及射频识别技术的测试领域
，尤其涉及一种对RFID标签介质 影响进行测试的系统及方法。
技术介绍
RFID全称为射频识别(Radio Frequency Identif ication)，是一种利用射频技 术实现的非接触式自动识别技术。RFID标签具有体积小、读写速度快、形状多样、使用寿命 长、可重复使用、存储容量大、能穿透非导电性材料等特点，结合RFID读写器可以实现多目 标识别和移动目标识别，进一步通过与互联网技术的结合还可以实现全球范围内物品的跟 踪与信息的共享。RFID技术应用于物流、制造、公共信息服务等行业，可大幅提高管理与运 作效率，降低成本。RFID技术目前已经成为IT领域的热点，众多机构和企业都在大力推广这种技术。 随着RFID技术飞速发展，相关产品的生产厂家逐渐增多，RFID标签的品种也已经上升到数 百种，并且还在不断推出新的产品。为了在繁多的RFID标签中选择最能够满足使用者需求 的产品，就需要对RFID产品的性能指标进行专门的测试，由于不同RFID应用的场景不同， 标签介质也会有很大变化，因此RFID标签介质影响是RFID标签产品的重要性能指本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量ＲＦＩＤ标签介质影响的基准测试系统，其特征在于：包括测试控制器、频谱分析仪、矢量信号发生器、发射天线、接收天线、发射天线支架、接收天线支架、统一尺寸的基底介质材料、基底板支架，以及用来确定待测标签与基底介质材料之间间距的聚苯乙烯块，其中发射天线、接收天线、发射天线支架、接收天线支架、基底板支架置于标准测试环境中，发射天线固定于发射天线支架上，发射天线与矢量信号发生器通过射频馈线连接，用于感应待测标签；接收天线固定于接收天线支架上，接收天线与频谱分析仪通过射频馈线连接，用于接收待测标签响应；基底介质材料固定于基底板支架上；待测标签通过聚苯乙烯块与基底介质材料相连，聚苯乙烯块用来确定待测标...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：关强，刘禹，
申请(专利权)人：中国科学院自动化研究所，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]