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本发明公开了一种ＲＦＩＤ标签介质影响的基准测试系统及方法，由测试控制器、频谱分析仪、矢量信号发生器、发射天线、接收天线、发射天线支架、接收天线支架、基底介质材料、基底板支架，以及用来确定待测标签与基底介质材料之间间距的聚苯乙烯块组成，在输入...
该专利属于中国科学院自动化研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院自动化研究所授权不得商用。

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