本发明专利技术提供一种总光通量测量装置以及总光通量测量方法。在按照本实施方式的总光通量测量装置（１００）中，根据在使对象物（ＯＢＪ）和积分部（１０）相对移动以使对象物（ＯＢＪ）实质上全部的发光面暴露于积分部（１０）的内部空间的情况下由测量部（２１）测量照度的测量结果，来算出对象物（ＯＢＪ）所放射出的总光通量。即，在将对象物（ＯＢＪ）配置为从一个试样孔到另一个试样孔贯穿积分部（１０）之后，测量对象物（ＯＢＪ）位于积分部（１０）的内部空间的部分的光通量，接着，使积分部（１０）相对于对象物（ＯＢＪ）相对移动，同样地测量对象物（ＯＢＪ）位于积分部（１０）的内部空间的部分的光通量。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种用于测量从对象物放射出的总光通量的总光通量测量装置以及 总光通量测量方法，特别涉及一种适用于测量棒状发光体所放射出的总光通量的结构。
技术介绍
以往，使用总光通量(Im 流明(lumen))作为评价使用于照明器具等的光源的性 能的指标。作为以更高的精确度测量该总光通量的装置，已知使用了积分球的球形光通量 计。在该球形光通量计中，将点亮的光源配置于积分球内，利用涂敷在积分球内壁的漫反射 材料(例如，硫酸钡、PTFE (polytetraf luoroethylene 聚四氟乙烯)等)使来自该光源的 光束反复反射。通过该反复反射，积分球内壁面的照度变得均勻。基于该积分球内壁面的 照度与光源的总光通量成比例，通过测量积分球内壁面的照度并且将该测量值与预先获取 到的利用标准光源测量出的照度进行比较，来算出来自测量对象的光源的总光通量。作为与这种球形光通量计有关的先行技术，日本特开平07-146175号公报公开了 一种具备积分球和积分球冷却装置的总光通量测量装置。该总光通量测量装置的目的在 于，通过在使所要测量的灯以恒定功率点亮时将积分球冷却在特定温度，来进行稳定且精 确度高的测量。另外，在日本特开平06-167388号公报中公开了一种使用半球型的积分球的光通 量计，该半球型的积分球由积分半球和平面镜构成，该积分半球在半球状的内壁上涂敷有 光漫射材料，该平面镜通过上述积分半球的内部半球的曲率中心，覆盖上述积分半球的开 口部。通过使用上述的球形光通量计，对于直管荧光灯那样的棒状光源也能够测量总光 通量。但是，在这种情况下，需要将积分球的内侧直径设为光源长度的1.2倍以上。这是由 于光源的发光部越接近积分球壁面，在壁面反射的反射光越会重新入射到光源本身而形成 影子，其结果是测量值产生误差。例如，当想要测量一般在学校、办公室等处使用的40W(瓦特)的直管荧光灯的总 光通量时，由于该直管荧光灯的纵长方向的长度约为1. 2m,因此需要内侧直径为1. 5m以上 的积分球。进一步地，一般在车站等处使用的IlOW的直管荧光灯的纵长方向的长度达到约 2. 4m，因此为了测量这种直管荧光灯的总光通量，需要内侧直径为3m以上的大型积分球。因而，在评价荧光灯这种棒状光源的总光通量时存在如下情况，需要相对大型的 积分球，在制作、搬运等方面费时费力且需要成本，并且难以确保用于设置该积分球的足够 空间。
技术实现思路
本专利技术是为了解决这种问题而完成的，其目的在于提供一种能够利用更小型的结 构来更准确地测量总光通量的。按照本专利技术的一个方面的总光通量测量装置包含主体，其构成为能够安装作为棒状发光体的对象物；积分部，其具有用于使对象物沿纵长方向贯通该积分部的第一孔和 第二孔；相对移动机构，其用于在对象物贯通积分部的状态下使对象物和积分部相对移动； 测量部，其用于通过观测窗来测量积分部内的照度，该观测窗被设置于积分部的与第一孔 和第二孔不同的位置处；以及处理部，其用于根据由测量部在如下情况下测量出的照度来 算出对象物所放射出的总光通量，该情况是使对象物和积分部相对移动以使对象物全部的 发光面都曾暴露于积分部的内部空间。优选积分部包括半球部，其在内壁面具有光漫反射层；以及平面镜，其被配置成 封住半球部的开口。更优选第一孔被设置于平面镜上的半球部的实际曲率中心处，第二孔被设置于平 面镜的法线与半球部的交点处，该法线通过设置有第一孔的位置。更优选本总光通量测量装置还包括筒状的限制部，该限制部用于限制对象物要暴 露于积分部的内部空间的发光面，限制部与第二孔连通，并且在暴露于积分部的内部空间 的面上具有反射层。更优选限制部构成为使暴露于积分部的内部空间的对象物的发光面的纵长方向 上的长度为半球部的半径的5/6以下。或者，优选积分部包括球体部，其在内壁面具有光漫反射层；以及挡板，其被设 置于对象物的发光面与观测窗之间。本总光通量测量装置还包括筒状的第一限制部和第 二限制部，该第一限制部和第二限制部用于限制对象物要暴露于积分部的内部空间的发光 面，第一限制部与第一孔连通，并且在暴露于积分部的内部空间的面上具有反射层，第二限 制部与第二孔连通，并且在暴露于积分部的内部空间的面上具有反射层。优选本总光通量测量装置还包括至少一个受光部，该至少一个受光部用于测量从 存在于积分部的外部的对象物的发光面放射出的光的亮度，处理部根据至少一个受光部的 亮度测量结果校正对象物的发光特性变动来算出总光通量。优选相对移动机构逐步改变对象物与积分部的相对位置，每次改变与暴露于积分 部的内部空间的对象物的发光面的纵长方向上的长度相同的距离，处理部通过对在对象物 与积分部的各相对位置处测量出的照度进行累计来算出总光通量。按照本专利技术的其它方面的总光通量测量方法具有将作为棒状发光体的对象物安 装在测量装置上的步骤。测量装置包含积分部，其具有用于使对象物沿纵长方向贯通该积 分部的第一孔和第二孔；以及测量部，其用于通过观测窗来测量积分部内的照度，该观测窗 被设置于积分部的与第一孔和第二孔不同位置处。本总光通量测量方法还具有以下步骤 在对象物贯通积分部的状态下，使对象物和积分部相对移动以使对象物全部的发光面都会 暴露于积分部的内部空间；在多个相对位置处使用测量部来测量照度；以及根据在上述多 个相对位置处测量出的多个照度来算出对象物所放射出的总光通量。以与附图相关联来进行理解的、与本专利技术有关的下面的详细说明来明确本专利技术的 上述以及其它目的、特征、方面以及优点。附图说明图1是表示按照本专利技术的实施方式1的总光通量测量装置的概要结构的示意图。图2是表示图1所示的积分部和测量器的更详细的结构的示意图。图3是用于说明图2所示的限制部所起到的降低测量误差的效果的示意图。图4和图5是用于说明按照本专利技术的实施方式1的总光通量测量装置中的测量过 程的图。图6是表示按照本专利技术的实施方式1的处理部中的控制结构的示意图。图7是表示按照本专利技术的实施方式1的总光通量测量方法的处理过程的流程图。图8是表示按照本专利技术的实施方式2的积分部和测量器的更详细的结构的示意 图。附图标记说明1 半球部；la、31a 光漫反射层；2 平面镜；3、4、27、28 试样孔；5、29 观测窗； 6、6A、6B 遮光筒；10,30 积分部；11,12 点亮夹具；13 移动轨道；20 主体；21 测量器； 22 驱动台；32 挡板；23 光纤；24 导出耦合器；25、26 受光部；31 整球部；40 框架； 50 处理部；100 总光通量测量装置；500 指令生成部；501 乘法器；502 累积器；503 加 法器；504 寄存器；505 乘法器；506 校正系数算出部；507 选择器；508 除法器；509 寄 存器；OBJ 对象物。具体实施例方式参照附图来详细说明本专利技术的实施方式。此外，对图中的同一或相应的部分附加 同一附图标记，不重复其说明。参照图1，按照本实施方式的总光通量测量装置100包含配置于框架40上的主 体20。主体20构成为能够安装作为棒状发光体的测量对象的光源(以下也称为“对象物 0BJ")。此外，在下面的说明中，例示了直管荧光灯作为棒状发光体的典型例，但是利用本发 明所涉及的总光通量测量装置100来测量总光本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种总光通量测量装置，具备：主体，其构成为能够安装作为棒状发光体的对象物；积分部，其具有用于使上述对象物沿纵长方向贯通该积分部的第一孔和第二孔；相对移动机构，其用于在上述对象物贯通上述积分部的状态下使上述对象物和上述积分部相对移动；测量部，其用于通过观测窗来测量上述积分部内的照度，该观测窗被设置于上述积分部的与上述第一孔和上述第二孔不同的位置处；以及处理部，其用于根据由上述测量部在如下情况下测量出的照度，算出上述对象物所放射出的总光通量，该情况是使上述对象物和上述积分部相对移动而使上述对象物全部的发光面都曾暴露于上述积分部的内部空间。
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：大久保和明，三岛俊介，
申请(专利权)人：大电子株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
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