【技术实现步骤摘要】
本技术涉及低压电器，具体涉及一种大电流塑壳断路器延时校验台触头结构。
技术介绍
1、塑壳断路器出厂前需模拟实际使用时在过流条件下自动跳闸情况，即延时校验，由于大电流塑壳断路器延时动作时间较长，一般多工位同时进行校验，即产品边安装边校验。
2、断路器下面各相连触头平面很难做到水平，两者接触面积很难统一，个别仅为一点接触，各相发热明显不一致，各相双金属片弯曲明显存在快慢，影响延时校验的准确性。
技术实现思路
1、本技术主要解决现有技术中存在的不足，提供了一种大电流塑壳断路器延时校验台触头结构，解决了大电流塑壳断路器在延时校验过程中各相发热不均匀的问题。使各相发热基本均匀，提高塑壳断路器的校验精度。
2、本技术的上述技术问题主要是通过下述技术方案得以解决的：
3、一种大电流塑壳断路器延时校验台触头结构，包括支架，所述的支架前端设有塑壳断路器，所述的支架上部设有若干与塑壳断路器相活动式触接的上触头，所述的上触头与支架间设有上导向板，所述的支架下部设有若干与塑壳断路器相活动式触接的校验台下触头组件，所述的校验台下触头组件与支架间设有下导向板，所述的支架后端设有浮动板，所述的浮动板与支架间设有前后伸缩气缸，所述的前后伸缩气缸与支架间设有与塑壳断路器相螺钉连接固定的上下伸缩气缸。
4、作为优选，所述的校验台下触头组件包括下触头本体，所述的下触头本体上端设有一对与下触头本体相弹性卡嵌且延时至下触头本体前端面的动触头，所述的动触头前端设有与动触头相压接
5、作为优选，所述的下触头本体上部侧端设有与动触头相插嵌式固定的销，所述的下触头本体上端与动触头间设有与下触头本体相沉孔式嵌套固定的弹簧ⅱ。
6、作为优选，所述的动触头包括与销相套接的铜触头，所述的铜触头一侧与压板间设有一体化电阻焊连接固定的软联接条，所述的铜触头另一侧下端设有与铜触头一体化焊接固定的银触点。
7、作为优选，所述的螺栓与压板间设有与螺栓相套接的平垫圈，所述的平垫圈与压板间设有与螺栓相套接的弹簧垫圈。
8、作为优选，所述的前后伸缩气缸外围设有若干与浮动板相套接的螺杆，所述的浮动板两侧均设有一对与螺杆相螺纹式套接的螺母，所述的浮动板后端与螺母间设有与螺杆相套接的弹簧ⅰ。
9、作为优选，所述的螺杆与支架间设有滑移板，所述的滑移板与螺杆间设有软连接。
10、作为优选，所述的上下伸缩气缸与前后伸缩气缸间设有垫板，所述的垫板前端外围与支架间设有若干等高块。
11、作为优选，所述的前后伸缩气缸后端外围设有若干与浮动板相活动式套接的导向杆。
12、本技术能够达到如下效果：
13、本技术提供了一种大电流塑壳断路器延时校验台触头结构，与现有技术相比较，解决了大电流塑壳断路器在延时校验过程中各相发热不均匀的问题。使各相发热基本均匀，提高塑壳断路器的校验精度。
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1.一种大电流塑壳断路器延时校验台触头结构，其特征在于：包括支架（6），所述的支架（6）前端设有塑壳断路器（9），所述的支架（6）上部设有若干与塑壳断路器（9）相活动式触接的上触头（8），所述的上触头（8）与支架（6）间设有上导向板（7），所述的支架（6）下部设有若干与塑壳断路器（9）相活动式触接的校验台下触头组件（11），所述的校验台下触头组件（11）与支架（6）间设有下导向板（12），所述的支架（6）后端设有浮动板（16），所述的浮动板（16）与支架（6）间设有前后伸缩气缸（15），所述的前后伸缩气缸（15）与支架（6）间设有与塑壳断路器（9）相螺钉连接固定的上下伸缩气缸（10）。
2.根据权利要求1所述的一种大电流塑壳断路器延时校验台触头结构，其特征在于：所述的校验台下触头组件（11）包括下触头本体（21），所述的下触头本体（21）上端设有一对与下触头本体（21）相弹性卡嵌且延时至下触头本体（21）前端面的动触头（18），所述的动触头（18）前端设有与动触头（18）相压接固定的压板（20），所述的压板（20）上设有与下触头本体（21）相螺纹式套接固定的螺栓（19
3.根据权利要求2所述的一种大电流塑壳断路器延时校验台触头结构，其特征在于：所述的下触头本体（21）上部侧端设有与动触头（18）相插嵌式固定的销（22），所述的下触头本体（21）上端与动触头（18）间设有与下触头本体（21）相沉孔式嵌套固定的弹簧Ⅱ（25）。
4.根据权利要求3所述的一种大电流塑壳断路器延时校验台触头结构，其特征在于：所述的动触头（18）包括与销（22）相套接的铜触头（27），所述的铜触头（27）一侧与压板（20）间设有一体化电阻焊连接固定的软联接条（28），所述的铜触头（27）另一侧下端设有与铜触头（27）一体化焊接固定的银触点（26）。
5.根据权利要求2所述的一种大电流塑壳断路器延时校验台触头结构，其特征在于：所述的螺栓（19）与压板（20）间设有与螺栓（19）相套接的平垫圈（24），所述的平垫圈（24）与压板（20）间设有与螺栓（19）相套接的弹簧垫圈（23）。
6.根据权利要求1所述的一种大电流塑壳断路器延时校验台触头结构，其特征在于：所述的前后伸缩气缸（15）外围设有若干与浮动板（16）相套接的螺杆（1），所述的浮动板（16）两侧均设有一对与螺杆（1）相螺纹式套接的螺母（3），所述的浮动板（16）后端与螺母（3）间设有与螺杆（1）相套接的弹簧Ⅰ（2）。
7.根据权利要求6所述的一种大电流塑壳断路器延时校验台触头结构，其特征在于：所述的螺杆（1）与支架（6）间设有滑移板（5），所述的滑移板（5）与螺杆（1）间设有软连接（4）。
8.根据权利要求1所述的一种大电流塑壳断路器延时校验台触头结构，其特征在于：所述的上下伸缩气缸（10）与前后伸缩气缸（15）间设有垫板（14），所述的垫板（14）前端外围与支架（6）间设有若干等高块（13）。
9.根据权利要求1所述的一种大电流塑壳断路器延时校验台触头结构，其特征在于：所述的前后伸缩气缸（15）后端外围设有若干与浮动板（16）相活动式套接的导向杆（17）。
...【技术特征摘要】
1.一种大电流塑壳断路器延时校验台触头结构，其特征在于：包括支架（6），所述的支架（6）前端设有塑壳断路器（9），所述的支架（6）上部设有若干与塑壳断路器（9）相活动式触接的上触头（8），所述的上触头（8）与支架（6）间设有上导向板（7），所述的支架（6）下部设有若干与塑壳断路器（9）相活动式触接的校验台下触头组件（11），所述的校验台下触头组件（11）与支架（6）间设有下导向板（12），所述的支架（6）后端设有浮动板（16），所述的浮动板（16）与支架（6）间设有前后伸缩气缸（15），所述的前后伸缩气缸（15）与支架（6）间设有与塑壳断路器（9）相螺钉连接固定的上下伸缩气缸（10）。
2.根据权利要求1所述的一种大电流塑壳断路器延时校验台触头结构，其特征在于：所述的校验台下触头组件（11）包括下触头本体（21），所述的下触头本体（21）上端设有一对与下触头本体（21）相弹性卡嵌且延时至下触头本体（21）前端面的动触头（18），所述的动触头（18）前端设有与动触头（18）相压接固定的压板（20），所述的压板（20）上设有与下触头本体（21）相螺纹式套接固定的螺栓（19）。
3.根据权利要求2所述的一种大电流塑壳断路器延时校验台触头结构，其特征在于：所述的下触头本体（21）上部侧端设有与动触头（18）相插嵌式固定的销（22），所述的下触头本体（21）上端与动触头（18）间设有与下触头本体（21）相沉孔式嵌套固定的弹簧ⅱ（25）。
4.根据权利要求3所述的一种大电流塑壳断路器延时校验台触头结构，其特征在于：所述的...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈佳成，王夫观，袁迪飞，
申请(专利权)人：杭州杰涵机械科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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