采用真空熔铸法制备铬靶的方法技术

技术编号:4003201 阅读:162 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术涉及一种采用真空熔铸法制备铬靶的方法,依下述步骤进行:a.Cr块的挑选:将有氧化皮、被污染的Cr块挑出;b.熔炼:将合格的Cr块装入中频真空感应炉中,升温速率为10-18℃/min,熔炼温度为1800~2000℃;c.浇注:以0.6~0.8m/s的浇注速度快速浇铸到水冷Cu模中,进行快速冷却,制得Cr靶。本发明专利技术通过感应加热方法,在高温下将材料熔化,快速浇铸,并辅以快速冷却,实现快速形核并且抑制核长大,本方法制得的Cr靶,具有成分均匀、致密性高、晶粒细小、纯度高、工艺简单、成本低等优良的综合性能。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种制备铬靶的方法,尤其涉及一种采用真空熔铸法制备铬靶的方 法,属于金属材料制备

技术介绍
Cr靶主要用于磁控溅射的真空镀膜。溅射Cr靶的纯度、致密度对溅射薄膜的性能 影响很大,靶材的纯度越高,溅射薄膜的性能越好。为此,应尽可能降低靶材中的杂质含量, 减少沉积薄膜的污染源,提高薄膜的均勻性。Cr靶的制备,按工艺可分为熔炼铸造和粉末 冶金两大类,采用粉末冶金的方法制备的Cr靶容易含有气孔,气孔的存在,会导致溅射时 产生不正常放电而产生杂质粒子。熔炼法与粉末法制备的靶材相比,熔炼靶材的杂质含量 低,特别足气体杂质含量,且高密度化、大型化;靶材的晶粒度大小可由um量级到mm量级, 同一成分的靶材,细小尺寸靶材的溅射速率要比粗晶粒者快,而晶粒尺寸相差较小的靶材, 沉积薄膜的厚度分布也比较均勻。而现有的熔炼法难以制备成分均勻、晶粒细小的靶材。
技术实现思路
为了解决已有技术的不足,本专利技术的目的在于,提供一种制备铬靶的新方法,细化 Cr颗粒,提高Cr靶的致密性。本专利技术采用真空熔铸法制备铬靶,包括下述方法、步骤a. Cr块的挑选将有氧化皮、被污染的Cr块挑出;b.熔炼本文档来自技高网...

【技术保护点】
采用真空熔铸法制备铬靶的方法,其特征在于,包括下述步骤:  a.Cr块的挑选:将有氧化皮、被污染的Cr块挑出;  b.熔炼:将合格的Cr块装入中频真空感应炉中,升温速率为10-18℃/min,熔炼温度为1800~2000℃,保温7-15分钟;  c.浇注:以0.6~0.8m/s的浇注速度快速浇铸到水冷Cu模中,进行快速冷却制得Cr靶。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:张红军王玲玲杨平
申请(专利权)人:陕西斯瑞工业有限责任公司
类型:发明
国别省市:87[中国|西安]

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