System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 检测电路、接收电路以及半导体集成电路制造技术_技高网

检测电路、接收电路以及半导体集成电路制造技术

技术编号:40031867 阅读:7 留言:0更新日期:2024-01-16 18:22
本发明专利技术涉及检测电路、接收电路以及半导体集成电路。检测电路具有:差分输入电路(230、231),接受差分输入电压,生成与上述差分输入电压相应的第一差分检测电流;检测电流生成电路(232),该检测电流生成电路与上述差分输入电路构成电流镜电路,生成与上述第一差分检测电流相应的第二差分检测电流;检测电压生成电路(225、233),接受上述第二差分检测电流,生成具有与上述第二差分检测电流相应的电压的检测电压;以及比较电路(229),比较上述检测电压和基准电压,并输出表示上述差分输入电压是否为表示规定空闲模式的电压状态的信号。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本专利技术涉及检测电路、接收电路以及半导体集成电路


技术介绍

1、在专利文献1中,记载了一种基于通过对光信号进行光电转换而得到的差分信号,来检测有无光信号输入的光信号检测电路。差分放大电路对经由耦合电容器输入的差分信号进行差分放大,并作为放大输出信号输出。差分电流加法电路通过对放大输出信号的正相信号以及反向信号加上与输入的偏移调整电压相应的直流电流,来调整这些正相信号以及反向信号的直流偏移电压,并作为电流加法输出信号输出。比较器对电流加法输出信号的正相信号与反向信号的电压值进行比较,并输出其比较结果作为比较输出信号。保持电路对比较输出信号进行整流并通过保持电容器进行充电,并且通过放电电阻对通过充电得到的直流的保持电压进行放电。磁滞比较器电路将保持电压与由输入的灵敏度调节电压决定的相互不同的两个判定阈值电压进行比较,输出其比较结果作为表示有无光信号输入的光信号检测信号。

2、在非专利文献1中,记载有使用包含源极跟随器的峰值检测器来检测电空闲(ei)信号的电空闲检测器。

3、专利文献1:日本特开2013-255056号公报

4、非专利文献1:nawathe et al.,"implementation of an 8-core,64-thread,power-efficient sparc server on a chip",ieee journal of solid-state circuits,vol.43,no.1,january 2008

5、专利文献1使用差分放大电路。差分放大电路因需要较高电源电压下的工作而使功耗增大,因需要使用尺寸较大的晶体管而使电路面积增大。

6、非专利文献1使用源极跟随器。源极跟随器由于电压增益为1以下而信号衰减,因此需要较高的电压增益,功耗增大,因需要使用尺寸较大的晶体管而电路面积增大。


技术实现思路

1、本专利技术的目的在于,提供在基于差分输入电压来检测空闲模式时,能够降低功耗以及电路面积的检测电路。

2、检测电路具有:差分输入电路,接受差分输入电压,生成与上述差分输入电压相应的第一差分检测电流;检测电流生成电路,该检测电流生成电路与上述差分输入电路构成电流镜电路,生成与上述第一差分检测电流相应的第二差分检测电流;检测电压生成电路,接受上述第二差分检测电流,生成具有与上述第二差分检测电流相应的电压的检测电压;以及比较电路,比较上述检测电压和基准电压,并输出表示上述差分输入电压是否为表示规定空闲模式的电压状态的信号。

3、在基于差分输入电压来检测空闲模式时,能够降低功耗和电路面积。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种检测电路,具有:

2.根据权利要求1所述的检测电路,其中,

3.根据权利要求2所述的检测电路,其中,

4.根据权利要求1~3中任一项所述的检测电路,其中,

5.根据权利要求4所述的检测电路,其中,

6.根据权利要求1~5中任一项所述的检测电路,其中,

7.根据权利要求1~6中任一项所述的检测电路,其中,

8.一种接收电路,具有:

9.根据权利要求8所述的接收电路,其中,具有:

10.根据权利要求8或9所述的接收电路,其中,

11.根据权利要求10所述的接收电路,其中,

12.根据权利要求8~11中任一项所述的接收电路,其中,

13.根据权利要求8~12中任一项所述的接收电路,其中,

14.一种半导体集成电路,具有:

15.根据权利要求14所述的半导体集成电路,其中,

16.根据权利要求14或15所述的半导体集成电路,其中,

17.根据权利要求16所述的半导体集成电路,其中,

<p>18.根据权利要求14~17中任一项所述的半导体集成电路,其中,

19.根据权利要求14~18中任一项所述的半导体集成电路,其中,

...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种检测电路,具有:

2.根据权利要求1所述的检测电路,其中,

3.根据权利要求2所述的检测电路,其中,

4.根据权利要求1~3中任一项所述的检测电路,其中,

5.根据权利要求4所述的检测电路,其中,

6.根据权利要求1~5中任一项所述的检测电路,其中,

7.根据权利要求1~6中任一项所述的检测电路,其中,

8.一种接收电路,具有:

9.根据权利要求8所述的接收电路,其中,具有:

10.根据权利要求8或9所述的接收电路,其中,

11.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员:中村辽一郎加纳英树
申请(专利权)人:株式会社索思未来
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1