ADC芯片接触电阻测试方法、增益误差校准方法及校准电路技术

本发明专利技术公开了一种ADC芯片接触电阻测试方法、增益误差校准方法及校准电路，该接触电阻测试方法包括：给ADC芯片输入一个模拟电压Vin，按照正常的测试流程得到ADC芯片的输出第一转换结果Dout1；新增一路电流Ib从节点Vx流出，重新启动ADC转换，并读取ADC芯片输出第二转换结果Dout2；通过ADC芯片输出的第二转换结果Dout2、第一转换结果Dout1来判断测试座弹簧针与芯片管脚的接触电阻大小。该增益误差校准方法基于上述接触电阻测试方法来实施。该电路用来实施上述方法。本发明专利技术具有原理简单、实用方便、能够大幅提高检测精确度等优点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术主要涉及到芯片测试检测，特指一种基于adc的芯片接触电阻测试方法、adc增益误差校准方法及校准电路。

技术介绍

1、adc芯片是一种模拟数字转换器，它用来将模拟信号转换成数字信号，adc芯片是数字信号处理器的重要组成部分，它广泛应用于通信、电源管理、医疗设备、工业控制、汽车电子等领域。

2、adc芯片在制造过程中，在流片、封装工艺完成后，为了保证adc的精度，在测试阶段需要对adc芯片的增益误差进行校准，然后再提供给终端客户使用。

3、现有的芯片测试装置在对adc芯片进行校准时，由于测试座的弹簧针与芯片管脚接触时会因为灰尘、氧化等原因，容易出现接触不良的情况，从而导致芯片与测试座之间多出一个接触电阻。这个接触电阻的阻值不定，阻值范围通常是几欧姆到几十千欧姆不等。由于上述接触电阻的存在，使得从芯片外部输入到芯片内部的基准电压信号变小，从而给adc基准带来误差，最终就会导致adc增益误差校准存在偏差。

4、而产品在终端使用时通过焊接将芯片管脚与pcb板上焊盘进行连接，这种连接方式芯片管脚与pcb板焊盘之间的电阻一般本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种ADC芯片接触电阻测试方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的ADC芯片接触电阻测试方法，其特征在于，

3.根据权利要求1或2所述的ADC芯片接触电阻测试方法，其特征在于，在判断出存在接触电阻之后，通过第一转换结果Dout1与第二转换结果Dout2来计算接触电阻的大小。

4.根据权利要求3所述的ADC芯片接触电阻测试方法，其特征在于，如果Rx＝0，则Vx＝Vin；如果Rx≠0，Vx会变成：

5.一种ADC增益误差校准方法，其特征在于，包括：

6.根据权利要求5所述的ADC增益误差校准方法，其特征在于，所述寄存器...

【技术特征摘要】

1.一种adc芯片接触电阻测试方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的adc芯片接触电阻测试方法，其特征在于，

3.根据权利要求1或2所述的adc芯片接触电阻测试方法，其特征在于，在判断出存在接触电阻之后，通过第一转换结果dout1与第二转换结果dout2来计算接触电阻的大小。

4.根据权利要求3所述的adc芯片接触电阻测试方法，其特征在于，如果rx＝0，则vx＝vin；如果rx≠0，vx会变成：

5.一种adc增益误差校准方法，其特征在于，包括：

6.根据权利要求5所述的adc增益误差校准方法，其特征在于，所述寄存器通过控制tst_en开关来控制校准用电流关闭或开启。

7.根据权利要求5所述的adc增益误差校准方法，其特征在于，所述校准用电流送入参考电压输入芯片。

8.根据权利要求5所述的adc增益误差校准方法，其特征在于，当所述adc芯片为全差分adc芯片，所述参考电压输入芯片为两个，控制寄存器把两路校准用电流分别送入其中一个参考电压输入芯片。

9.根据权利要求5所述的adc增益误差校准方法，其特征在于，所述判断是否存...

【专利技术属性】
技术研发人员：邓欢，龙睿，唐金波，朱朝峰，罗杨贵，戴超雄，
申请(专利权)人：湖南毂梁微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：