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本发明公开了一种ADC芯片接触电阻测试方法、增益误差校准方法及校准电路，该接触电阻测试方法包括：给ADC芯片输入一个模拟电压Vin，按照正常的测试流程得到ADC芯片的输出第一转换结果Dout1；新增一路电流Ib从节点Vx流出，重新启动ADC...
该专利属于湖南毂梁微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过湖南毂梁微电子有限公司授权不得商用。

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