等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测方法及检测设备技术

本发明专利技术提供了一种等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测方法及检测设备，该检测方法包括以下步骤：获取等离子显示屏基板上涂布的荧光粉发光的图像；在所获取的图像中将第一图像区与相邻的第二图像区进行图像参数的比较；根据比较结果判断与第一和第二图像区相对应的等离子显示屏的第一和第二像素区是否存在荧光粉涂布缺陷，并进而根据存在荧光粉涂布缺陷的像素区的数量和位置判断整个等离子体显示屏是否存在荧光粉涂布缺陷。其中，在所获取的图像中将第一图像区与相邻的第二图像区进行图像参数的比较的步骤避开了现有技术中使用标准模板的发光图像与被测模板的发光图像比对判断的方法。这样，就避开了由于标准模板上具有缺陷而导致误判断的情况。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及等离子显示屏荧光粉涂布，更具体地，涉及等离子显示屏荧光粉涂布 缺陷的检测方法及检测设备。
技术介绍
在对等离子显示屏基板进行荧光粉涂布的生产中，需要对等离子显示屏基板上涂 布的荧光粉进行缺陷检测。现有的技术多采用紫外灯照射涂布有荧光粉的等离子显示屏基 板，激发荧光粉发光，并在摄像部内部安装红、绿和蓝色的滤色片，从而分别对不同颜色的 荧光粉摄影。然后，摄像部将分别拍摄到的红、绿和蓝色荧光粉发光图像进行图像处理。例 如，针对红色的荧光粉发光图像，可以在其上设立坐标，定义零点坐标位置，然后将其上的 每个坐标位置的被测像素区对应的图像区与一个标准模板的发光图像上的相应坐标位置 的像素区对应的图像区进行例如色谱图的比对。对于某一个坐标位置的像素区对应的图像 区，其与标准模板上相应位置的像素区对应的图像区在色谱图上的坐标距离差的大小决定 了是否该像素区被判断为存在缺陷。这种检测技术需要在摄像部内部安装滤色片，而且需要分别对不同颜色的荧光粉 进行摄影。此外，在图像处理部中，需要分别对每种颜色的荧光粉图像的参数进行运算处 理，运算过程繁琐，且相应设备复杂。尤其是，现有技术中所进行的比对计算都是将被测基 板和一个标准模板的发光图像进行比对。然而，存在对于标准模板如何选择界定的问题。也 就是说，在实际检测中，并没有完全可靠的方法来选择真正没有缺陷的标准模板。虽然出现 了使用用多个模板的图像参数的平均值来做为比对标准的方法，但由于所用的多个模板是 在一个母板上印刷出的，若母板上某处有不为人所知的缺陷，则所用的多个模板上的缺陷 会在同一位置，仍然无法形成真正意义上的无缺陷的比对标准，容易造成误判断。
技术实现思路
本专利技术所要解决的一个技术问题是提供一种简单方便，避免使用标准模板进行比 较时产生的误判断的等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测方法。本专利技术所要解决的另一个技术问题是提供一种使用简单方便，避免使用标准模板 进行比较时产生的误判断的等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测设备。根据本专利技术的一个方面，提供了一种等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测方法， 包括以下步骤获取等离子显示屏基板上涂布的荧光粉发光的图像；在所获取的图像中将 第一图像区与相邻的第二图像区进行图像参数的比较；根据比较结果判断与第一和第二图 像区相对应的等离子显示屏的第一和第二像素区是否存在荧光粉涂布缺陷。进一步地，在判断的步骤后还包括，根据存在荧光粉涂布缺陷的像素区的数量和 位置判断是否需要对等离子体显示屏进行缺陷处理，以及在需要进行缺陷处理的情况下， 选择缺陷处理的方式。进一步地，该图像参数为灰度值。进一步地，在该比较步骤中，将第一图像区的灰度值与相邻的一个第二图像区的 灰度值进行比较。进一步地，在该比较步骤中，将第一图像区的灰度值与相邻的多个第二图像区的 平均灰度值进行比较。进一步地，该判断步骤包括判断比较结果是否超过预定阈值；若超过预定阈值， 则判断当前图像区相对应的等离子显示屏的像素区存在荧光粉涂布缺陷。进一步地，预定阈值和/或图像区的大小是可调整的。进一步地，获取等离子显示屏基板上涂布的荧光粉发光的图像之前，还包括在等 离子显示屏基板上涂布所需涂布的多层荧光粉中的一层或部分层；或者在等离子显示屏基 板上涂布所需涂布的多层荧光粉。根据本专利技术的另一个方面，提供了一种等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测设 备，其包括图像获取部件，用于获取等离子显示屏基板上涂布的荧光粉发光的图像；以及 图像处理部件，用于在所获取的图像中将第一图像区与相邻的第二图像区进行图像参数的 比较，并根据比较结果判断与第一和第二图像区相对应的等离子显示屏的第一和第二像素 区是否存在荧光粉涂布缺陷，并进而根据存在荧光粉涂布缺陷的像素区的数量和位置判断 是否需要对所述等离子体显示屏进行缺陷处理，以及在需要进行缺陷处理的情况下，选择 缺陷处理的方式。进一步地，该图像获取部件包括发光部，用于照射等离子显示屏基板；摄像部， 用对等离子显示屏基板上涂布的荧光粉发光图像进行拍摄。进一步地，该检测设备还包括滑台控制部，其中，滑台控制部控制摄像部沿等离 子显示屏表面移动。进一步地，摄像部包括并列排布的多台摄像机，该多台摄像机的视野范围总和覆 盖整个涂布有荧光粉的等离子显示屏基板。本专利技术具有以下有益效果1.由于等离子显示屏基板上涂布的荧光粉上具有缺陷的区域是少数的点，而大部 分区域都是无缺陷的，从而本专利技术基于等离子显示屏基板的这一特点，避开了现有技术中 使用标准模板的发光图像与被测模板的发光图像比对的方法，而是将被测模板上的像素区 所对应的发光图像上的图像区与同一被测模板上相邻的像素区所对应的发光图像上的图 像区进行灰度值进行比较，来判断各个像素区的缺陷。这样，就避开了由于标准模板上具有 缺陷而导致误判断的情况。2.由于采用了灰度值比较的方法进行判断，例如，将像素区对应的图像区的灰度 范围定为0-256，通过比较相邻两个图像区的灰度值差，根据该灰度值差是否超过预定阈值 来判断涂布缺陷，此种数值比较的方法非常简单方便。附图说明附图用来提供对本专利技术的进一步理解，构成本申请的一部分，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中图1示出了根据本专利技术的等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测方法的第一种检 查步骤流程图2示出了根据本专利技术的等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测方法的第二种检 查步骤流程图；图3示出了根据本专利技术的等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测设备的结构简图；图4示出了根据本专利技术的等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测方法中进行灰度 值比较时，当前的像素单元的灰度值与相邻的一个像素单元的灰度值进行比较的示意图；图5示出了根据本专利技术的等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测方法中进行灰度 值比较时，当前的像素单元的灰度值与相邻的多个像素单元的平均灰度值进行比较的示意 图。具体实施例方式下面将参考附图并结合实施例，来详细说明本专利技术。如图3所示，本专利技术的等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测设备包括图像获取 部件1，用于获取等离子显示屏基板上涂布的荧光粉发光的图像；以及图像处理部件2，用 于在所获取的图像中将第一图像区与相邻的第二图像区进行图像参数的比较，并根据比较 结果判断与第一和第二图像区相对应的等离子显示屏的第一和第二像素区是否存在荧光 粉涂布缺陷，并进而根据存在涂布缺陷的像素区的数量和位置判断是否需要对所述等离子 体显示屏进行缺陷处理，以及在需要进行缺陷处理的情况下，选择缺陷处理的方式。如图3所示，优选地，该图像获取部件1包括发光部11，用于照射等离子显示屏 基板3，在本实施例中，为紫外灯管，其发射的紫外线波长范围为100-380i!m，；摄像部12， 用于对等离子显示屏基板3上涂布的荧光粉发光图像进行拍摄。从图3中可以看到，在本 实施例中，将紫外灯管安装在摄像部12旁，使其在进行检测时随摄像部12共同移动。在实 践中，也可以将紫外灯管固定放置，此时，其辐照范围应覆盖整个检测范围。优选地，等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测设备可以包括滑台控制部(图中未 示出)，用于控制摄像部12沿等离子体显示屏基板3的表面移动，从而可以得到整个等离子 体显示屏基板的视野范围。可以想象，也可以采用摄像部12本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：获取等离子显示屏基板上涂布的荧光粉发光的图像；在所获取的图像中将第一图像区与相邻的第二图像区进行图像参数的比较；根据比较结果判断与所述第一和第二图像区相对应的所述等离子显示屏的第一和第二像素区是否存在荧光粉涂布缺陷。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈超，
申请(专利权)人：四川虹欧显示器件有限公司，
类型：发明
国别省市：51[中国|四川]