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一种动态测量高分子薄片高阻的方法技术

技术编号:3998843 阅读:201 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开了一种动态测量高分子薄片高阻的方法,具体包括如下步骤,步骤一:在高分子薄片的两端面分别镀上铜层;步骤二:将镀铜层的高分子薄片两端面分别通过强力胶水层胶住金属板;步骤三:在两块金属板上分别固定金属杆;步骤四:每侧金属杆分别与霍普金森拉杆中的其中一根拉杆固定;其优点在霍普金森拉杆实验中,其两根拉杆分别与金属杆固定连接,对高分子薄片进行瞬间拉伸,此时动态测量高阻仪记录下高分子薄片产生的连续电阻值,达到动态测量高分子薄片高阻的目的。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测量电阻的方法,尤其是涉及一种动态测量高分子薄片高阻的方 法。
技术介绍
目前根据体积电阻率P的不同,测量电阻的办法分为两种一种是当P < IO8Ω .cm 时,使用一般的智能数字万用表即可;另一种是当P > IO8 Ω · cm时,需要使用高阻仪来测试。随着航天航空事业的飞速发展,对轻质且具有屏蔽功能的新型材料的研究不断深 入,科研工作人员把目光投入到聚丙烯、聚苯胺等高聚物身上,它们是高分子材料,像这样 具有极高电阻的材料,它们的电学性能对研究材料导电性能内在机理有很重要的意义,为 了测得这些材料的电阻通常会用到高阻仪。然而,在高分子材料受到拉伸力作用时,而且这 个拉伸力是在一个较短时间内完成,此时高分子材料的电阻值会出现一个较快的变化量, 但目前常规的测量方法根本无法得到高该分子材料阻值的变化量。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是提供,可以得 到在很短时间段内,当作用力外加在被测物体上,待测高分子薄片会出现一个极快的电阻变化值。本专利技术解决上述技术问题所采用的技术方案为一种动态测量高分子薄片高阻的 方法,其特征在于具体包括如下步骤步骤一本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种动态测量高分子薄片高阻的方法,其特征在于具体包括如下步骤,步骤一:在高分子薄片的两端面分别镀上铜层;步骤二:将镀铜层的高分子薄片两端面分别通过强力胶水层胶住金属板;步骤三:在两块金属板上分别固定金属杆;步骤四:每侧金属杆分别与霍普金森拉杆中的其中一根拉杆固定;步骤五:在每侧铜层的外侧上分别引出导线与动态测量高阻仪的输入端连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:陈建康雷金涛张明华孙超郑维钰张鹏
申请(专利权)人:宁波大学
类型:发明
国别省市:97[中国|宁波]

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