【技术实现步骤摘要】
本申请涉及激光器性能测试，特别涉及一种激光器相对强度噪声的测试系统及方法。
技术介绍
1、相关技术中，由于总噪声中热噪声与光电信号强度无关，散粒噪声与产生的电流成正比，光源的相对强度噪声与产生的电流成二次关系，因此运用二次拟合中一次项与二次项系数计算得到光源相对强度噪声，
2、然而，相关技术中针对低相对强度噪声、小输入光功率的情况，造成相对强度噪声项远小于散粒噪声项，增加了二次拟合系数的不确定性，导致测试的精度较低，降低测试系统的精确性，且测试步骤较为繁琐，降低了测试的简洁性，亟待解决。
技术实现思路
1、本申请是基于专利技术人对以下问题和认识作出的：
2、大功率激光器在数字光纤通信、微波光子学、原子钟等领域有着广泛应用，在模拟光子链路中对激光器的相对强度噪声特性提出了更高要求，链路中激光器的相对强度噪声越低，则链路的无杂散动态范围越大，噪声系数越低，因此，高性能模拟光链路的构建离不开具有低相对强度噪声特性的激光器，准确测量出激光器的相对噪声特性对评估光链路的性能具
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1.一种激光器相对强度噪声的测试系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，还包括：
3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，还包括：
4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述光电探测器为PIN型探测器、波导型探测器和光电导型探测器中的任一项。
5.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述信号处理电路包含滤波器、直流偏置器和低噪声信号放大器中的至少一项。
6.一种激光器相对强度噪声的测试方法，其特征在于，采用如权利要求1-5任一项所述的激光器相对强度噪声的测试系统，其中，所述...
【技术特征摘要】
1.一种激光器相对强度噪声的测试系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，还包括：
3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，还包括：
4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述光电探测器为pin型探测器、波导型探测器和光电导型探测器中的任一项。
5.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述信号处理电路包含滤波器、直流偏置器和低噪声信号放大器中的至少一项。
6.一种激光器相对强度噪声的测试方法，其特征在于，采用如权利要求1-5任一项所述的激光器相对强度...
【专利技术属性】
技术研发人员：罗毅，王孔嘉，孙长征，韩彦军，李洪涛，
申请(专利权)人：清华大学，
类型：发明
国别省市：
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