【技术实现步骤摘要】
本申请涉及电子电路及半导体领域，尤其涉及一种电源管理芯片测试系统。
技术介绍
1、随着科技的进步，各个行业对于服务器(sv)的稳定性要求越来越高。服务器(sv)内部所使用的电源管理模块决定了整个服务器(sv)的稳定性，反应速度快、输出稳定的电源管理模块可以为整个服务器(sv)提供持续稳定的电源输出，这样在遇到突发状况时，也能保证服务器(sv)的性能平稳。
2、电源管理芯片是电源管理模块中的重要组成，而电源管理芯片的性能关系到服务器的性能，性能较强的电源管理芯片，既可以加强服务器的工作性能，又可提高服务器在市场上的竞争力，因此，如何筛选出性能较强的电源管理芯片至关重要。
3、基于上述原因，亟需一种能筛选较强性能电源管理芯片的测试系统。
技术实现思路
1、本申请提供一种电源管理芯片测试系统，用以解决如何筛选性能较强的电源管理芯片的问题。
2、本申请提供一种电源管理芯片测试系统，该系统包括：待测电源管理芯片、检测电路和测试平台，待测电源管理芯片包括多个引脚，测试平台通过检测电路与待测电源管理芯片的引脚连接，测试平台用于输出测试信号通过检测电路对待测电源管理芯片进行功能测试，功能测试包括开短路测试、输出电压稳定性测试、使能测试、复位测试、静态功耗测试和输入电流测试。
3、在其中一个实施例中，当功能测试为开短路测试时，该测试平台用于
4、向待测电源管理芯片引脚提供第一预设电流，并通过检测引脚的输出电压；
5、若引脚的输出
6、若引脚的输出电压超出第一电压阈值，确定引脚存在开路或短路。
7、在其中一个实施例中，待测电源管理芯片的引脚包括输入引脚、使能引脚、接地引脚和输出引脚；
8、检测电路包括第一开关、第二开关、第三开关及第一电容，其中第一开关一端与测试平台连接，另一端连接输入引脚和第一电容的一端，第一电容的另一端接地，第二开关一端连接测试平台连接，另一端连接使能引脚，接地引脚接地，第三开关一端连接测试平台，另一端连接输出引脚。
9、在其中一个实施例中，当功能测试为输出电压稳定性测试时，第一开关、第二开关和第三开关均处于闭合状态，测试平台还用于向输入引脚提供第一预设电压、向使能引脚提供零电压，向输出引脚提供第一预设电流并检测输出引脚的第一输出电压，以确定待测电源管理芯片的输出电压功能是否正常。
10、在其中一个实施例中，测试平台还用于向输入引脚提供第二预设电压，向使能引脚提供零电压，向输出引脚提供第一预设电流并检测输出引脚的第二输出电压，计算第二输出电压和第一输出电压的差及第二预设电压和第一预设电压的差，
11、若检测输出电压差与输入电压差的比值在第一预设阈值内，确定待测电源管理芯片输出电压稳定。
12、在其中一个实施例中，测试平台还用于向输出引脚提供第二预设电流并检测输出引脚的第三输出电压，若第三输出电压和第一输出电压的差值在第二预设预支范围内，确定待测电源管理芯片在不同负载的输出电压正常。
13、在其中一个实施例中，当功能测试为使能测试时，第一开关、第二开关和第三开关均处于闭合状态，测试平台还用于向输入引脚提供第一预设电压，向使能引脚依次提供第三电压，其中，第三电压为以第三预设电压以预设步进值递减的电压，
14、并检测输出引脚的输出电压，当输出引脚的输出电压大于正常输出电压值时，检测使能引脚的电压，若使能引脚的电压与第三预设电压的差值在预设范围内，则确定使能引脚正常。
15、在其中一个实施例中，当功能测试为输入电流测试时，第一开关和第二开关处于闭合状态，测试平台还用于向输入引脚提供第四预设电压，向使能引脚提供零电压，并检测输入引脚的电流；
16、若输入引脚的电流小于第四预设电流值，确定待测电源管理芯片合格。
17、在其中一个实施例中，当功能测试为静态功耗测试时，第一开关和第二开关处于闭合状态，测试平台还用于向输入引脚和使能引脚分别提供第一预设电压，并检测输入引脚的电流；
18、若输入引脚的电流接近零电流，确定待测电源管理芯片静态功耗正常。
19、在其中一个实施例中，待测电源管理芯片的引脚还包括复位引脚，检测电路还包括第二电容、第四开关和第五开关，第二电容的第二端与输出引脚连接，第二电容的第一端与第四开关的第二端连接，第四开关的第一端接地，第五开关的第一端与测试平台连接，第五开关的第二端与复位引脚和输出引脚连接；
20、当功能测试为复位测试时，第一开关、第二开关、第三开关及第四开关处于闭合状态，
21、测试平台用于向使能引脚提供零电压，向输入引脚提供依次减小的输入电压，向复位引脚提供零电流检测复位引脚的电压，
22、当复位引脚的电压小于预设值时，检测输出引脚的输出电压；
23、若输出引脚的输出电压小于欠压值时，确定待测电源管理芯片的复位引脚功能正常。
24、本申请提供一种电源管理芯片测试系统，该电源管理芯片测试系统包括：待测电源管理芯片、检测电路和测试平台，待测电源管理芯片包括多个引脚，测试平台通过检测电路与待测电源管理芯片的引脚连接，测试平台用于输出测试信号通过检测电路对待测电源管理芯片进行功能测试，功能测试包括开短路测试、输出电压稳定性测试、使能测试、复位测试、静态功耗测试和输入电流测试。本申请通过检测电路将测试平台和待测电源管理芯片的引脚连接进行各项功能测试，从而筛选出较强性能的电源管理芯片，进而提高服务器的工作性能和竞争力。
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1.一种电源管理芯片测试系统，其特征在于，所述系统包括：待测电源管理芯片、检测电路和测试平台，所述待测电源管理芯片包括多个引脚，所述测试平台通过所述检测电路与所述待测电源管理芯片的引脚连接，所述测试平台用于输出测试信号通过检测电路对所述待测电源管理芯片进行功能测试，所述功能测试包括开短路测试、输出电压稳定性测试、使能测试、复位测试、静态功耗测试和输入电流测试。
2.根据权利要求1所述的电源管理芯片测试系统，其特征在于，当所述功能测试为开短路测试时，所述测试平台用于
3.根据权利要求1所述的电源管理芯片测试系统，其特征在于，所述待测电源管理芯片的引脚包括输入引脚、使能引脚、接地引脚和输出引脚；
4.根据权利要求3所述的电源管理芯片测试系统，其特征在于，当所述功能测试为输出电压稳定性测试时，所述第一开关、所述第二开关和所述第三开关均处于闭合状态，所述测试平台还用于向所述输入引脚提供第一预设电压、向所述使能引脚提供零电压，向所述输出引脚提供第一预设电流并检测所述输出引脚的第一输出电压，以确定所述待测电源管理芯片的输出电压功能是否正常。
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6.根据权利要求4所述的电源管理芯片测试系统，其特征在于，
7.根据权利要求3所述的电源管理芯片测试系统，其特征在于，当所述功能测试为使能测试时，所述第一开关、所述第二开关和所述第三开关均处于闭合状态，所述测试平台还用于向所述输入引脚提供第一预设电压，向所述使能引脚依次提供第三电压，其中，所述第三电压为以第三预设电压以预设步进值递减的电压，
8.根据权利要求3所述的电源管理芯片测试系统，其特征在于，当所述功能测试为输入电流测试时，所述第一开关和所述第二开关处于闭合状态，所述测试平台还用于向所述输入引脚提供第四预设电压，向所述使能引脚提供零电压，并检测所述输入引脚的电流；
9.根据权利要求3所述的电源管理芯片测试系统，其特征在于，当所述功能测试为静态功耗测试时，所述第一开关和所述第二开关处于闭合状态，所述测试平台还用于向所述输入引脚和所述使能引脚分别提供第一预设电压，并检测所述输入引脚的电流；
10.根据权利要求3所述的电源管理芯片测试系统，其特征在于，所述待测电源管理芯片的引脚还包括复位引脚，所述检测电路还包括第二电容、第四开关和第五开关，所述第二电容的第二端与所述输出引脚连接，所述第二电容的第一端与所述第四开关的第二端连接，所述第四开关的第一端接地，所述第五开关的第一端与所述测试平台连接，所述第五开关的第二端与所述复位引脚和所述输出引脚连接；
...【技术特征摘要】
1.一种电源管理芯片测试系统，其特征在于，所述系统包括：待测电源管理芯片、检测电路和测试平台，所述待测电源管理芯片包括多个引脚，所述测试平台通过所述检测电路与所述待测电源管理芯片的引脚连接，所述测试平台用于输出测试信号通过检测电路对所述待测电源管理芯片进行功能测试，所述功能测试包括开短路测试、输出电压稳定性测试、使能测试、复位测试、静态功耗测试和输入电流测试。
2.根据权利要求1所述的电源管理芯片测试系统，其特征在于，当所述功能测试为开短路测试时，所述测试平台用于
3.根据权利要求1所述的电源管理芯片测试系统，其特征在于，所述待测电源管理芯片的引脚包括输入引脚、使能引脚、接地引脚和输出引脚；
4.根据权利要求3所述的电源管理芯片测试系统，其特征在于，当所述功能测试为输出电压稳定性测试时，所述第一开关、所述第二开关和所述第三开关均处于闭合状态，所述测试平台还用于向所述输入引脚提供第一预设电压、向所述使能引脚提供零电压，向所述输出引脚提供第一预设电流并检测所述输出引脚的第一输出电压，以确定所述待测电源管理芯片的输出电压功能是否正常。
5.根据权利要求4所述的电源管理芯片测试系统，其特征在于，
6.根据权利要求4所述的电源管理芯片测试系统，其特征在于，
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