一种芯片测试用负压转移装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种芯片测试用负压转移装置，涉及负压转移装置技术领域，包括底板，所述底板上表面固定安装有固定架，所述固定架上固定安装有电动推杆，所述电动推杆输出端固定连接有移动板，所述移动板内开设有第一安装槽，所述第一安装槽内设置有移动机构，所述移动机构包括驱动电机，所述移动机构上固定连接有连接板，所述连接板上设置有吸附组件，吸附组件的设置，一次性能吸附多个芯片，提高了移动效率的同时，也提高了本装置的实用性，其中吸附垫的设置，在吸附过程中，降低了对芯片损伤

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试用负压转移装置


[0001]本技术涉及负压转移装置
，具体而言，涉及一种芯片测试用负压转移装置
。

技术介绍

[0002]芯片测试过程中，往往需要对芯片进行转移，传统的转移方法，需要工作人员监控并进行转移，不仅增加了工作人员的工作量，同时也降低了转移效率，因此我们对此做出改进，提出一种芯片测试用负压转移装置
。

技术实现思路

[0003]本技术的主要目的在于提供一种芯片测试用负压转移装置，可以有效解决
技术介绍
中芯片测试过程中，往往需要对芯片进行转移，传统的转移方法，需要工作人员监控并进行转移，不仅增加了工作人员的工作量，同时也降低了转移效率的问题
。
[0004]为实现上述目的，本技术采取的技术方案为：
[0005]一种芯片测试用负压转移装置，包括底板，所述底板上表面固定安装有固定架，所述固定架上固定安装有电动推杆，所述电动推杆输出端固定连接有移动板，所述移动板内开设有第一安装槽，所述第一安装槽内设置有移动机构，所述移动机构包括驱动电机，所述移动机构上固定连接有连接板，所述连接板上设置有吸附组件
。
[0006]作为优选，所述固定架内壁两侧均开设有限位槽，所述移动板两端均固定连接有限位块，所述限位块在限位槽内壁滑动
。
[0007]作为优选，位于左侧的所述限位块上开设有第二安装槽，所述第二安装槽与第一安装槽相贯穿
。
[0008]作为优选，所述移动机构包括螺纹杆，所述螺纹杆转动安装在第一安装槽内，所述驱动电机固定安装在第二安装槽内，所述驱动电机输出轴与螺纹杆左端固定连接，所述螺纹杆上螺纹连接有螺纹块
。
[0009]作为优选，所述连接板与螺纹块下表面固定连接，所述连接板上表面四角处均固定连接有连接块，所述连接块内开设有放置槽
。
[0010]作为优选，所述吸附组件包括气泵，所述气泵设置在连接板与移动板之间，所述气泵下表面与四个连接块均固定连接
。
[0011]作为优选，所述气泵下表面固定连接有连接管，所述放置槽内设置有传输管，所述连接板上表面中部开设有安装孔，所述连接管穿过安装孔与传输管固定连接
。
[0012]作为优选，所述传输管下表面和连接板下表面均开设有若干相互对应的气孔，位于传输管的每个所述气孔上均固定连接有出气管，每个所述出气管端部均与连接板下表面齐平，每个所述出气管端部均固定连接有吸附垫
。
[0013]作为优选，与现有技术相比，本技术具有如下有益效果：
[0014](1)
吸附组件的设置，一次性能吸附多个芯片，提高了移动效率的同时，也提高了
本装置的实用性，其中吸附垫的设置，在吸附过程中，降低了对芯片损伤
。
[0015](2)
移动机构的设置，不仅实现了对吸附组件机械化移动的目的，而且提高了对芯片移动的精准度
。
附图说明
[0016]图1为本技术的整体结构立体示意图；
[0017]图2为本技术的俯视结构示意图；
[0018]图3为本技术的图2中
A
‑
A
剖面结构立体示意图；
[0019]图4为本技术的图3中
B
处放大图
。
[0020]图中：
1、
底板；
2、
固定架；
201、
限位槽；
3、
电动推杆；
4、
移动板；
401、
第一安装槽；
5、
限位块；
501、
第二安装槽；
6、
移动机构；
601、
螺纹杆；
602、
螺纹块；
603、
驱动电机；
7、
连接板；
701、
放置槽；
8、
连接块；
9、
吸附组件；
901、
气泵；
902、
连接管；
903、
传输管；
904、
出气管；
905、
吸附垫；
10、
安装孔；
11、
气孔
。
具体实施方式
[0021]下面将结合本技术实施例，对本技术实施例中的技术方案进行清楚
、
完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例
。
基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围
。
[0022]如图
1、
图
2、
图3所示，本技术实施例提出了一种芯片测试用负压转移装置，包括底板1，底板1上表面固定安装有固定架2，固定架2上固定安装有电动推杆3，电动推杆3输出端固定连接有移动板4，移动板4内开设有第一安装槽
401
，第一安装槽
401
内设置有移动机构6，移动机构6包括驱动电机
603
，移动机构6上固定连接有连接板7，连接板7上设置有吸附组件
9。
[0023]在本实施例中，通过设置电动推杆3带动移动板4上下移动，从而带动移动机构6和吸附组件9的移动
。
[0024]如图
1、
图3所示，本技术的另一实施例中，固定架2内壁两侧均开设有限位槽
201
，移动板4两端均固定连接有限位块5，限位块5在限位槽
201
内壁滑动
。
[0025]在本实施例中，限位块5的设置，提高了移动板4移动过程中的稳定性，避免移动板4在电动推杆3的带动下，出现位移偏差
。
[0026]如图1图3所示，本技术的另一实施例中，位于左侧的限位块5上开设有第二安装槽
501
，第二安装槽
501
与第一安装槽
401
相贯穿
。
[0027]如图
1、
图3所示，本技术的另一实施例中，移动机构6包括螺纹杆
601
，螺纹杆
601
转动安装在第一安装槽
401
内，驱动电机
603
固定安装在第二安装槽
501
内，驱动电机
603
输出轴与螺纹杆
601
左端固定连接，螺纹杆
601
上螺纹连接有螺纹块
602。
[0028]在本实施例中，通过设置驱动电机
603
带动螺纹杆
601
转动，从而带动螺纹块
602
沿着第一安装槽
401
的内壁向左或向右本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种芯片测试用负压转移装置，包括底板
(1)
，其特征在于：所述底板
(1)
上表面固定安装有固定架
(2)
，所述固定架
(2)
上固定安装有电动推杆
(3)
，所述电动推杆
(3)
输出端固定连接有移动板
(4)
，所述移动板
(4)
内开设有第一安装槽
(401)
，所述第一安装槽
(401)
内设置有移动机构
(6)
，所述移动机构
(6)
包括驱动电机
(603)
，所述移动机构
(6)
上固定连接有连接板
(7)
，所述连接板
(7)
上设置有吸附组件
(9)。2.
根据权利要求1所述的一种芯片测试用负压转移装置，其特征在于：所述固定架
(2)
内壁两侧均开设有限位槽
(201)
，所述移动板
(4)
两端均固定连接有限位块
(5)
，所述限位块
(5)
在限位槽
(201)
内壁滑动
。3.
根据权利要求2所述的一种芯片测试用负压转移装置，其特征在于：位于左侧的所述限位块
(5)
上开设有第二安装槽
(501)
，所述第二安装槽
(501)
与第一安装槽
(401)
相贯穿
。4.
根据权利要求3所述的一种芯片测试用负压转移装置，其特征在于：所述移动机构
(6)
包括螺纹杆
(601)
，所述螺纹杆
(601)
转动安装在第一安装槽
(401)
内，所述驱动电机
(603)
固定安装在第二安装槽
(501)
内，所述驱动电机
(603)
输出轴与螺纹杆
(601)
...

【专利技术属性】
技术研发人员：劳杰，黄金炎，
申请(专利权)人：道格特半导体科技江苏有限公司，
类型：新型
国别省市：