测试装置制造方法及图纸

本申请公开了一种测试装置，涉及存储设备领域，所述测试装置用于测试存储设备，所述测试装置包括转接板

【技术实现步骤摘要】
测试装置


[0001]本申请涉及存储设备领域，尤其涉及一种测试装置
。

技术介绍

[0002]PCI
‑
Express(peripheral component interconnect express
，以下简称
PCIE)
技术属于高速串行点对点双通道高带宽传输，信号传输速率快
。PCIE
存储设备在出厂前需要进行测试，常规的测试方式是直接将
PCIE
存储设备批量插接在
PC
主板上进行测试
。
[0003]目前，由于
PC
主板上的卡槽数量少，且卡槽的位置固定，导致取放产品操作不方便，不利于批量测试
。

技术实现思路

[0004]本申请的目的是提供一种测试装置，可便于存储设备进行批量测试
。
[0005]本申请公开了一种测试装置，所述测试装置用于测试存储设备，所述测试装置包括转接板
、
测试线组和至少一个测试组件，所述转接板的输入端与
PC
主板上的卡槽连接，所述转接板的输出端与所述测试组件通过所述测试线组连接，所述测试组件包括测试板和设置在所述测试板上的至少一个测试口，所述测试口与所述测试线组中的测试线一一对应连通，所述测试口用于安装待测存储设备；其中，所述测试线组为柔性件，所述测试组件通过所述测试线组可与所述转接板相对移动
。
[0006]可选的，所述测试线组为柔性线路板，所述柔性线路板包括多条测试线和柔性基底，多条所述测试线并列设置在柔性基底上
。
[0007]可选的，所述测试线组包括多条并列的测试线，多条所述测试线之间彼此独立设置
。
[0008]可选的，所述测试线的两端分别设有连接头，所述测试线通过连接头分别与所述转接板和所述测试组件插接
。
[0009]可选的，所述测试装置包括多个测试组件，多个所述测试组件上下堆叠设置，且相邻所述测试组件通过一支撑件隔开
。
[0010]可选的，所述测试装置只包括一个测试组件，所述测试装置中的所有所述测试口都设置在一个所述测试板上
。
[0011]可选的，所述测试组件还包括至少一个驱动芯片，所述驱动芯片设置在所述测试板上，与所述测试线一一对应设置，所述驱动芯片用于增加所述经过所述测试线的检测信号
。
[0012]可选的，所述转接板上设有多个输入端和多个输出端，多个所述输入端与所述
PC
主板上的卡槽一一对应连接，多个所述输出端与所述测试线组中的测试线一一对应连接；所述输出端的数量大于所述输入端的数量
。
[0013]可选的，所述测试组件中相邻所述测试口之间的间距，大于相邻所述输出端之间的间距
。
[0014]可选的，所述
PC
主板上的卡槽为
PCIE
卡槽，所述待测存储设备为
PCIE
固态硬盘
。
[0015]相对于目前直接将存储设备插接到
PC
主板上进行测试的方案来说，本申请通过增设转接板
、
测试线组和测试组件，且测试线组为柔性件，测试组件可通过所述测试线组移动，从而不限定测试组件的摆放，使得测试组件不受空间限制，取放存储设备操作方便，方便进行测试，提高测试效率
。
附图说明
[0016]所包括的附图用来提供对本申请实施例的进一步的理解，其构成了说明书的一部分，用于例示本申请的实施方式，并与文字描述一起来阐释本申请的原理
。
显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图
。
在附图中：
[0017]图1是本申请实施例提供的一种测试装置的示意图；
[0018]图2是本申请实施例中测试线组的一种实施方式的示意图；
[0019]图3是本申请实施例中测试线组的另一种实施方式的示意图；
[0020]图4是本申请实施例中测试组件的一种实施方式的示意图；
[0021]图5是本申请实施例中测试组件的另一种实施方式的示意图；
[0022]图6是本申请实施例中测试组件的另一种实施方式的示意图
。
[0023]其中，
10、
测试装置；
100、
转接板；
200、
测试线组；
210、
测试线；
220、
柔性基底；
300、
测试组件；
310、
测试板；
320、
测试口；
330、
驱动芯片；
400、
支撑件
。
具体实施方式
[0024]需要理解的是，这里所使用的术语
、
公开的具体结构和功能细节，仅仅是为了描述具体实施例，是代表性的，但是本申请可以通过许多替换形式来具体实现，不应被解释成仅受限于这里所阐述的实施例
。
[0025]在本申请的描述中，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示相对重要性，或者隐含指明所指示的技术特征的数量
。
另外，“中心”、“横向”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系的术语，是基于附图所示的方位或相对位置关系描述的，仅是为了便于描述本申请的简化描述，而不是指示所指的装置或元件必须具有特定的方位
、
以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制
。
[0026]如图1所示，本申请实施例公开了一种用于测试存储设备的测试装置，所述测试装置
10
包括转接板
100、
测试线组
200
和至少一个测试组件
300
，所述转接板
100
上有多个输入端和多个输出端，所述转接板
100
的输入端与
PC
主板上的卡槽一一对应连接，具体通过金手指连接；所述转接板
100
的输出端与所述测试组件
300
通过所述测试线组
200
连接，具体的，所述测试线组
200
包括多条测试线
210
，所述测试线
210
与所述转接板
100
的输出端一一对应连接
。
所述测试组件
300
包括测试板
310
和设置在所述测试板
310
上的至少一个测试口
320
，所述测试口
320
与所述测试线组
200
中的测试线
210
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种测试装置，用于测试存储设备，其特征在于，所述测试装置包括转接板
、
测试线组和至少一个测试组件，所述转接板的输入端与
PC
主板上的卡槽连接，所述转接板的输出端与所述测试组件通过所述测试线组连接，所述测试组件包括测试板和设置在所述测试板上的至少一个测试口，所述测试口与所述测试线组中的测试线一一对应连通，所述测试口用于安装待测存储设备；其中，所述测试线组为柔性件，所述测试组件通过所述测试线组可与所述转接板相对移动
。2.
如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试线组为柔性线路板，所述柔性线路板包括多条测试线和柔性基底，多条所述测试线并列设置在柔性基底上
。3.
如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试线组包括多条并列的测试线，多条所述测试线之间彼此独立设置
。4.
如权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述测试线的两端分别设有连接头，所述测试线通过连接头分别与所述转接板和所述测试组件插接
。5.
如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置包括多个测试组件，多个所述测试组件上下堆叠设置，...

【专利技术属性】
技术研发人员：李华星，俞文全，贺杨鑫，
申请(专利权)人：深圳市时创意电子有限公司，
类型：新型
国别省市：