一种DDR5内存性能测试分析辅助系统技术方案

本发明专利技术提供一种DDR5内存性能测试分析辅助系统，包括测试数据库1接收测试设备中DDR5通电运行的测试结果，建立该编号DDR5的通道测试数据表，通道测试数据表2设置有上下两段分段对应DDR5中0与1两条通道；PC3通过数据传输装置读取并备份测试数据库中通道测试数据表，并在所有同批次的通道测试数据表上位建立批次产品分析表；数据解析模块提取批次产品分析表下位所有同批次的通道测试数据表收集并统计该批次产品从零件到成品的各项收率；查询模块通过数据传输装置远程读取测试数据库中通道测试数据表和批次产品分析表，PC自动建立批次产品分析表由数据解析模块自动提取数据，达到全自动化作业系统替代了人工操作。到全自动化作业系统替代了人工操作。到全自动化作业系统替代了人工操作。

【技术实现步骤摘要】
一种DDR5内存性能测试分析辅助系统


[0001]本专利技术涉及内存条参数统计分析领域，尤其是涉及内存性能测试分析辅助系统
，具体为一种DDR5内存性能测试分析辅助系统。

技术介绍

[0002]半导体模组测试的性能测试工序分析DDR5异常不良的时候需要先搜集大量的数据(Test Log&CHIPID LOG存于测试机本地，容易丢失实际不良资材；接着读取所有不良资材的SPDSerial Presence Detect信息，即是通过I2C串行接口的EEPROMElectrically Erasable Programmable Read
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Only Memory，电可擦可编程只读存储器对内存插槽中的模组存在的信息检查；最后根据SPD信息将所有数据手动汇总整理至EXCEL得出结论。由此可见，现有的分析过程冗长和繁琐缺乏直观的数据反映；测试机本地保存测试信息容易丢失，测试信息维护不便，并且DDR5中DIMM构架发生改变采用双通道设计，并且现使用的DDR4测试分析系统仅支持1个通道通信结构测试日志的解析，现需要针对本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种DDR5内存性能测试分析辅助系统，其特征在于，包括：测试数据库(1)，所述测试数据库(1)接收测试设备中DDR5通电运行的测试结果，建立该编号DDR5的通道测试数据表(2)，所述通道测试数据表(2)设置有上下两段分段对应DDR5中0与1两条通道；PC(3)，所述PC(3)通过数据传输装置(6)读取并备份测试数据库(1)中通道测试数据表(2)，并在所有同批次的通道测试数据表(2)上位建立批次产品分析表(7)；数据解析模块(4)，所述数据解析模块(4)提取批次产品分析表(7)下位所有同批次的通道测试数据表(2)收集并统计该批次产品从零件到成品的各项收率；查询模块(5)，所述查询模块(5)通过数据传输装置(6)远程读取测试数据库(1)中通道测试数据表(2)和批次产品分析表(7)。2.根据权利要求1所述的DDR5内存性能测试分析辅助系统，其特征在于，所述通道测试数据表(2)包括：Rank组(21)，所述Rank组(21)显示该内存颗粒被哪个DDR控制器控制；通道组(22)，所述通道组(22)显示该内存颗粒属于的通道编号；位置标号(23)，所述位置标号(23)显示该内存颗粒的位置编号；起始DQ(24)，所述起始DQ(24)显示该内存颗粒的所连接的DQ数据传输通道的起始数量。3.根据权利要求2所述的DDR5内存性能测试分析辅助系统，其特征在于，所述数据解析模块(4)包括：电特性项目的测试结果(41)，所述电特性项目的测试结果(41)收集该批次内存条的输入电压与AC与DC中信号电压等运行时的检测参数，统计不良项目类型及占比；量产...

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡燕，刘欣，唐奇胜，
申请(专利权)人：海太半导体无锡有限公司，
类型：发明
国别省市：