一种芯片单体品质测试设备制造技术

本实用新型专利技术涉及芯片测试技术领域，特别涉及一种芯片单体品质测试设备，包括测试母板，且所述测试母板上形成有供待测芯片弹压固定的限位槽；所述测试母板上还设置由单片机、电流表以及指示灯；所述单片机、电流表、指示灯与待测芯片分别电性连接；所述单片机上还叠设有散热片。本实用新型专利技术的提出解决了现有的工业产品的生产过程中芯片只能通过肉眼判断是否损坏，或者针对引脚较多的芯片，采用将其接入电路中进行检验的方式，但该检验方式效率较低，且容易由于芯片损坏的问题，进一步造成电路损坏的问题。坏的问题。坏的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片单体品质测试设备


[0001]本技术涉及芯片测试
，特别涉及一种芯片单体品质测试设备。

技术介绍

[0002]芯片作为工业产品的重要构成之一，但其容易由于以下问题造成损坏：(1)电子电路设计不佳，存在电压过高的情况，将芯片击穿损坏；(2)人工对产品进行测试包装过程中，由于静电的作用导致芯片被静电击穿损坏；(3)芯片来料本身的问题，在厂家送过来的时候就已经损坏。
[0003]因此在工业产品的生产过程中需要着重检验芯片是否损坏，但是目前对芯片的检验只能采取肉眼判断，或者针对引脚较多的芯片，会直接将其接入电路中进行检验，但该检验方式效率较低，且容易由于芯片损坏的问题，进一步造成电路损坏。

技术实现思路

[0004]本技术的
技术实现思路
在于提出一种芯片单体品质测试设备，主要解决了现有的工业产品的生产过程中芯片只能通过肉眼判断是否损坏，或者针对引脚较多的芯片，采用将其接入电路中进行检验的方式，但该检验方式效率较低，且容易由于芯片损坏的问题，进一步造成电路损坏的问题。
[0005]本技术提出了一种芯片单体品质测试设备，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片单体品质测试设备，其特征在于：包括测试母板，且所述测试母板上形成有供待测芯片弹压固定的限位槽；所述测试母板上还设置由单片机、电流表以及指示灯；所述单片机、电流表、指示灯与待测芯片分别电性连接；所述单片机上还叠设有散热片。2.根据权利要求1所述的一种芯片单体品质测试设备，其特征在于：所述指示灯包括两个颜色互异的指示灯。3.根据权利要求2所述的一种芯片单体品质测试设备，其特征在于：所述测试母板上还设置有多个通讯网口，且所有所述通讯网口分布于所述测试母板的上边沿。4.根据权利要求3所述的一种芯片单体品质测试设备，其特征在于：所述测试母板上还设置有用于连接外界电源的电源插座，且所述电源插座与所述通讯网口并列设置。5.根据权利要求1～4任一项所述的一种芯片单体品质测试设备，其特征在于：所述限位槽上设置有用于弹...

【专利技术属性】
技术研发人员：林榕，翟志伟，邓崇旺，罗中良，
申请(专利权)人：广东九联科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：