ICT制造技术

本申请提供一种

【技术实现步骤摘要】
ICT测试装置


[0001]本申请涉及电路板测试
，尤其涉及一种
ICT
测试装置
。

技术介绍

[0002]ICT(In Circuit Test
，在线测试
)
测试装置主要用于测试电路板的电路是否存在开路
、
短路等异常
。
[0003]相关技术中，
ICT
测试装置包括上模和下模，上模与下模可转动连接，上模上具有压钉，下模上具有定位柱
。
在对电路板进行测试时，将电路板放在下模上，电路板的第一表面与下模接触，并且使下模上的定位柱插设在电路板上的定位孔中；然后操作人员使上模相对于下模转动，使得上模上的压钉抵接在电路板的第二表面上，并在上模上施加压力，从而将电路板夹紧在上模与下模之间，以对电路板进行测试
。
[0004]定位柱与电路板上的定位孔未对准时，压钉和定位柱损伤电路板
。

技术实现思路

[0005]本申请提供了一种
ICT
测试装置，可以避免压钉和定位柱损伤电路板<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种
ICT
测试装置，其特征在于，包括下模
、
上模
、
触发组件和测试单元；所述上模与所述下模可转动连接；所述上模上具有压钉，所述下模上具有定位柱；所述下模用于放置电路板，所述定位柱用于定位所述电路板，所述压钉用于压紧所述电路板；所述触发组件包括触发件和动作件，所述触发件设置在所述下模上，所述动作件设置在所述上模上，所述动作件位于所述测试单元所在的回路中；所述测试单元用于与所述电路板电连接；在所述上模与所述下模处于盖合状态时，所述触发件触发所述动作件连通，从而使所述测试单元所在的回路导通；在所述上模与所述下模处于非盖合状态时，所述动作件断开
。2.
根据权利要求1所述的
ICT
测试装置，其特征在于，所述触发件包括磁铁，所述动作件包括两个磁簧片，两个所述磁簧片分别与所述测试单元的两端电连接；在所述上模与所述下模处于盖合状态时，两个所述磁簧片在所述磁铁的作用下吸合，从而使得测试单元所在的回路导通；在所述上模与所述下模处于非盖合状态时，两个所述磁簧片断开
。3.
根据权利要求2所述的
ICT
测试装置，其特征在于，所述触发件包括第一防护壳，所述第一防护壳与所述下模连接，并且与所述下模朝向所述上模的一端的边缘平齐，所述磁铁位于所述第一防护壳中；所述动作件包括第二防护壳，所述第二防护壳与所述上模连接，并且与所述上模朝向所述下模的一端边缘平齐，两个所述磁簧片均位于所述第二防护壳中
。4.
根据权利要求3所述的
ICT
测试装置，其特征在于，所述
ICT
测试装置还包括转轴，所述上模的一端和所述下模的一端通过所述转轴铰接；所述第一防护壳在所述下模上沿所述
ICT
测试装置的宽度方向位于远离所述转轴的一端；所述第二防护壳在所述上模上沿所述
ICT
测试装置的宽度方向位于远离所述转轴的一端
。5.
根据权利要求2至4任一项所述的
ICT
测试装置，其特征在于，所述上模包括上壳...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈飞鹏，何刚，
申请(专利权)人：上海芯希信息技术有限公司，
类型：新型
国别省市：