一种多核芯片智能测试工具制造技术

本发明专利技术公开了一种多核芯片智能测试工具，涉及芯片测试技术领域，包括传送装置

【技术实现步骤摘要】
一种多核芯片智能测试工具


[0001]本专利技术涉及芯片测试
，特别涉及一种多核芯片智能测试工具
。

技术介绍

[0002]芯片，又称微电路
、
集成电路，是指内含集成电路的硅片，体积小，是计算机等电子设备的重要组成部分
。
芯片结构精细，工艺复杂，流程繁多，精确度要求极高，如果在生产过程中存在缺陷，会使制造完成的芯片无法达标，在芯片被使用后会增大故障概率
。
因此，为了保证芯片与后续电子产品的质量，通常会对芯片进行测试，芯片的测试一般包括引脚电路测试，端面光洁度测试等
。
[0003]如公告号为
CN104483517B
的中国专利技术专利提供了一种芯片测试工具，其包括基底
、
第一排导电触片与第二排导电触片等，第一排导电触片与第二排导电触片，其为多个平行排列的导电触片并设置在基座之上，第一排导电触片与第二排导电触片平行排列，第三排导电触片位于第一排导电触片与第二排导电触片之间，第一排导电触片与第二排导电触片用于连接待测芯片的引脚，第三排导电触片用于连接待测芯片底部外漏焊盘
。
其检测装置与预设检测线路固定，无法对多种芯片进行引脚电路检测，功能比较单一
。
[0004]进一步地，市面上的检测设备多为端面光洁度检测与电路引脚检测的独立设备，对于芯片的测试需要多个设备，综上所述，需设计一种多核芯片智能测试工具，可以同时进行端面光洁度检测与电路引脚检测，并可以检测不同型号与不同尺寸的芯片
。

技术实现思路

[0005]针对上述技术问题，本专利技术采用的技术方案为：一种多核芯片智能测试工具，包括传送装置
、
驱动装置
、
振动送料装置
、
端面检测装置
、
翻转装置
、
引脚检测装置；其特征在于：传送装置与翻转装置固定安装，传送装置与引脚检测装置固定安装，传送装置与端面检测装置固定安装，端面检测装置与驱动装置固定安装，驱动装置与振动送料装置固定安装；传送装置通过电机驱动带轮传动，设置有左挡板与右挡板用于收集在端面检测装置上的芯片物料，驱动装置通过电机带轮传动带动振动送料装置与端面检测装置工作，振动送料装置通过球头杆在偏心位置转动，从而带动存料进行振动，进行物料供给，端面检测装置通过上相机与下相机对芯片端面进行检测，翻转装置通过直线电机驱动推杆在翻转滑道上移动，从而带动翻转板进行翻转运动
。
引脚检测装置通过两组电机使检测针可以到达平面任意位置，进而对芯片进行引脚检测
。
[0006]进一步地，振动送料装置包括振动圆盘
、
锁定块
、
下锁定盖
、
球头杆
、
纵向锁定
、
振动连
、
振动弹簧
、
存料口
、
振动板
、
第三支撑
、
振动螺栓
、
振动滑块
、
上锁定盖；振动圆盘与锁定块固定安装，锁定块与下锁定盖固定安装，锁定块与球头杆滑动安装，球头杆与振动滑块滑动安装，振动滑块与上锁定盖固定安装，振动滑块与振动螺栓形成螺纹副，振动螺栓与振动连板铰链安装，振动连板与纵向锁定滑动安装，纵向锁定与第三支撑固定安装，第三支撑与振动弹簧固定安装，振动弹簧与振动板固定安装，振动板与振动连板固定安装，振动板与
存料口固定安装
。
[0007]进一步地，传送装置包括第一支架
、
传动辊子
、
传送带
、
第一带轮
、
左挡板
、
右挡板
、
第一皮带
、
第二带轮
、
传送电机
、
第二支撑；第一支架与传动辊子铰链安装，传动辊子与传送带滑动安装，第一支撑与左挡板固定安装，第一支撑与右挡板固定安装，第一支撑与第二支撑固定安装，第二支撑与传送电机固定安装，传动电机与第二带轮铰链安装，第二带轮与第一皮带滑动安装，第一带轮与第一皮带滑动安装，第一带轮与第一支撑铰链安装，第一带轮与传送带滑动安装
。
[0008]进一步地，引脚检测装置包括第六支撑
、
检测推板
、
检测电机
、
横移电机
、
横移螺杆
、
横移滑块
、
检测针；第六支撑与横移电机固定安装，横移电机与横移螺杆铰链安装，横移螺杆与第六支撑铰链安装，横移螺杆与横移滑块形成螺纹副，横移滑块与检测针铰链安装，横移滑块与检测电机固定安装，检测电机与检测推板固定安装，检测推板与检测针铰链安装
。
[0009]进一步地，端面检测装置包括相机支撑
、
上相机
、
玻璃圆盘
、
第四支撑
、
圆盘连接
、
下相机；相机支撑与上相机固定安装，相机支撑与下相机固定安装，相机支撑与第四支撑固定安装，玻璃圆盘与圆盘连接固定安装，圆盘连接与第四支撑铰链安装
。
[0010]进一步地，翻转装置包括翻转支撑
、
翻转板
、
翻转电机
、
第五支撑
、
翻转推杆
、
翻转滑道；翻转支撑与翻转板铰链安装，翻转板与翻转滑道固定安装，翻转滑道与翻转推板铰链安装，翻转推杆与翻转电机固定安装，翻转电机与第五支撑固定安装
。
[0011]进一步地，驱动装置包括第三带轮
、
第二皮带
、
第四带轮
、
带轮轴
、
驱动电机；驱动电机与第三带轮铰链安装，第二皮带与第三带轮滑动安装，第二皮带与第四带轮滑动安装，第四带轮与带轮轴固定安装
。
[0012]进一步地，翻转支撑包括支撑桥
、
支撑板
、
支撑弹簧；支撑桥与支撑板滑动安装，支撑板与支撑弹簧固定安装
。
[0013]本专利技术与现有技术相比的有益效果是：
(1)
将芯片的引脚电路检测与端面光洁度整合在一个设备中，使芯片测试工作更简单便捷，降低测试成本
。(2)
进料装置采用振动式进料，可以更好的控制小型芯片的进料，同时可以改变振动幅度从而改变进料速度
。(3)
翻转装置可以将反面向上的芯片翻转过来，以适应下一步的引脚检测
。(4)
检测针可以测试到在平面上任意位置的引脚，可以添加更多的引脚检测装置来测试更复杂的芯片
。
附图说明
[0014]图1为本专利技术实施例的工作状态的总装结构示意图
。
[0015]图2为本专利技术传送装置的部件结构示意图
。...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种多核芯片智能测试工具，包括传送装置
(1)、
驱动装置
(2)、
振动送料装置
(3)、
端面检测装置
(4)、
翻转装置
(5)、
引脚检测装置
(6)
；其特征在于：传送装置
(1)
与翻转装置
(5)
固定安装，传送装置
(1)
与引脚检测装置
(6)
固定安装，传送装置
(1)
与端面检测装置
(4)
固定安装，端面检测装置
(4)
与驱动装置
(2)
固定安装，驱动装置
(2)
与振动送料装置
(3)
固定安装；传送装置
(1)
通过电机驱动带轮传动，设置有左挡板
(105)
与右挡板
(106)
，用于收集在端面检测装置
(4)
上的芯片物料，驱动装置
(2)
通过电机带轮传动带动振动送料装置
(3)
与端面检测装置
(4)
工作，振动送料装置
(3)
通过球头杆
(304)
在偏心位置转动，从而带动存料进行振动，进行物料供给，端面检测装置
(4)
通过上相机
(402)
与下相机
(406)
对芯片端面进行检测，翻转装置
(5)
通过直线电机驱动推杆在翻转滑道
(506)
上移动，从而带动翻转板
(502)
进行翻转运动，引脚检测装置
(6)
通过两组电机使检测针
(607)
可以到达平面任意位置，进而对芯片进行引脚检测
。2.
如权利要求1所述的一种多核芯片智能测试工具，其特征在于：振动送料装置
(3)
包括振动圆盘
(301)、
锁定块
(302)、
下锁定盖
(303)、
球头杆
(304)、
纵向锁定
(305)、
振动连板
(306)、
振动弹簧
(307)、
存料口
(308)、
振动板
(309)、
第三支撑
(310)、
振动螺栓
(311)、
振动滑块
(312)、
上锁定盖
(313)
；振动圆盘
(301)
与锁定块
(302)
固定安装，锁定块
(302)
与下锁定盖
(303)
固定安装，锁定块
(302)
与球头杆
(304)
滑动安装，球头杆
(304)
与振动滑块
(312)
滑动安装，振动滑块
(312)
与上锁定盖
(313)
固定安装，振动滑块
(312)
与振动螺栓
(311)
形成螺纹副，振动螺栓
(311)
与振动连板
(306)
铰链安装，振动连板
(306)
与纵向锁定
(305)
滑动安装，纵向锁定
(305)
与第三支撑
(310)
固定安装，第三支撑
(310)
与振动弹簧
(307)
固定安装，振动弹簧
(307)
与振动板
(309)
固定安装，振动板
(309)
与振动连板
(306)
固定安装，振动板
(309)
与存料口
(308)
固定安装
。3.
如权利要求2所述的一种多核芯片智能测试工具，其特征在于：传送装置
(1)
包括第一支架
(101)、
传动辊子
(102)、
传送带
(103)、
第一带轮
(104)、
左挡板
(105)、
右挡板
(106)、
第一皮带
(107)、
第二带轮
(108)、
传送电机
(109)、
第二支撑
(110)
；第一支架
(101)
与传动辊子
(102)
铰链安装，传动辊子
(102)
与传送带
(103)
滑动安装，第一支撑与左挡板
(105)
固定安装，第一支撑与右挡板
(106)
固定安装，第一支撑与第二支撑
(110)
固定安装，第二支撑
(11...

【专利技术属性】
技术研发人员：邹泽明，刘轶亮，徐泽霖，曾长春，廖海辉，
申请(专利权)人：深圳优晶微电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：