一种光耦的测试电路制造技术

本实用新型专利技术涉及光耦的测试电路技术领域，具体为一种光耦的测试电路，本实用新型专利技术可以在于不利用机台和电路板就可以直接测试光耦的好坏；本电路测试采用

【技术实现步骤摘要】
一种光耦的测试电路


[0001]本技术涉及光耦的测试电路
，具体为一种光耦的测试电路
。

技术介绍

[0002]针对多种的
、
不同的空间位置的情况，需要方便的对其进行扫描与检测，仅是固定点位的显然不能满足不同的需求
。
[0003]在相关技术中，将每一光耦检测点排列成行列工整的矩阵形式，然后通过红外反射对这一矩阵点位上的物体进行检测，其中每行统一供电，每列的输出点通过二极管并联到一起，则可以通过单行通电，并检测每一列的信号测得这一行上每一点的检测情况；然后更换下一行通电，循环扫描来实现整个矩阵的检测的方式，然而针对电路测试
HCPL
‑
2231
光耦时，需要利用专门的机台和电路板进行测试，存在测试麻烦和不方便维护的问题
。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种光耦的测试电路，以解决上述
技术介绍
中提出的问题
。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种光耦的测试电路，包括光耦
U1、
限流电阻
R1、
限流电阻
R2、
按钮开关
S1、
按钮开关
S2、
发光二极管
D1、
发光二极管
D2、
电源
VCC
和电源
VCC1
，所述光耦
U1
的引脚1串联连接有限流电阻
R1
，所述限流电阻
R1
通过按钮开关
S1
与电源
VCC
相连接，所述光耦
U1
的引脚4串联连接有限流电阻
R2
，所述限流电阻
R2
通过按钮开关
S2
与电源
VCC
相连接，所述光耦
U1
的引脚
2、
引脚3和引脚5接地，所述光耦
U1
的引脚8连接电源
VCC1
，所述光耦
U1
的引脚6串联连接有发光二极管
D2
，所述光耦
U1
的引脚7串联连接有发光二极管
D1
，所述发光二极管
D1
和发光二极管
D2
的一端接地
。
[0006]优选的，所述光耦
U1
的采用的型号为
HCPL
‑
2231
光耦
。
[0007]优选的，所述限流电阻
R1
和限流电阻
R2
采用电阻为
200
欧的直插色环电阻
。
[0008]优选的，所述电源
VCC
和电源
VCC1
提供
5V/1A
的直流电
。
[0009]优选的，所述光耦
U1
采用8脚直插光耦底座与电路板相连接
。
[0010]与现有技术相比，本技术的有益效果是：本技术可以在于不利用机台和电路板就可以直接测试光耦的好坏；本电路测试采用
HCPL
‑
2231
光耦，专一性强，操作简单灵活；本测试电路质量轻，便于携带，只需配对一台电源即可测试此光耦的好坏；通过光耦
U1
采用8脚直插光耦底座与电路板相连接，从而方便后续光耦
U1
的插拔；本测试电路输入端串了
200
欧姆的电阻，对光耦
U1
起到限流，保护的作用
。
附图说明
[0011]图1为本技术的电路结构示意图；
[0012]图2为本技术的光耦
U1
的结构示意图
。
具体实施方式
[0013]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚
、
完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例
。
基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围
。
[0014]在本技术的描述中，需要说明的是，术语“竖直”、“上”、“下”、“水平”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位
、
以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制
。
[0015]在本技术的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通
。
对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义
。
[0016]请参阅图1‑2，本技术提供一种技术方案：一种光耦的测试电路，包括光耦
U1、
限流电阻
R1、
限流电阻
R2、
按钮开关
S1、
按钮开关
S2、
发光二极管
D1、
发光二极管
D2、
电源
VCC
和电源
VCC1
，光耦
U1
的引脚1串联连接有限流电阻
R1
，限流电阻
R1
通过按钮开关
S1
与电源
VCC
相连接，光耦
U1
的引脚4串联连接有限流电阻
R2
，限流电阻
R2
通过按钮开关
S2
与电源
VCC
相连接，光耦
U1
的引脚
2、
引脚3和引脚5接地，光耦
U1
的引脚8连接电源
VCC1
，光耦
U1
的引脚6串联连接有发光二极管
D2
，光耦
U1
的引脚7串联连接有发光二极管
D1
，发光二极管
D1
和发光二极管
D2
的一端接地
。
[0017]进一步的，光耦
U1
的采用的型号为
HCPL
‑
2231
光耦
。
[0018]进一步的，限流电阻
R1
和限流电阻
R2
采用电阻为
200
欧的直插色环电阻
。
[00本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种光耦的测试电路，包括光耦
U1、
限流电阻
R1、
限流电阻
R2、
按钮开关
S1、
按钮开关
S2、
发光二极管
D1、
发光二极管
D2、
电源
VCC
和电源
VCC1
，其特征在于：所述光耦
U1
的引脚1串联连接有限流电阻
R1
，所述限流电阻
R1
通过按钮开关
S1
与电源
VCC
相连接，所述光耦
U1
的引脚4串联连接有限流电阻
R2
，所述限流电阻
R2
通过按钮开关
S2
与电源
VCC
相连接，所述光耦
U1
的引脚
2、
引脚3和引脚5接地，所述光耦
U1
的引脚8连接电源
VCC1
，所述光耦
U1

【专利技术属性】
技术研发人员：毛世成，王坡，桑鑫，薛磊，
申请(专利权)人：亦亨电子上海有限公司，
类型：新型
国别省市：