一种高效检测射频部分上芯片电性能的检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种高效检测射频部分上芯片电性能的检测装置，本实用新型专利技术涉及检测射频部分上芯片电性能的技术领域，多级伸缩气缸的活塞杆贯穿立板设置，且延伸端上固设有连接板，连接板的顶表面上固设有电性能检测设备和垂向气缸，升降板的左右侧均固设有探头，导线与电性能检测设备的接口相连接；所述升降板的底表面上固设有位于两个探头之间的进给气缸，进给气缸活塞杆的作用端上固设有延伸于进给气缸右侧的活动板，旋转气缸的旋转轴向下贯穿活动板设置，且延伸端上固设有旋转板，旋转板上固设有垂向设置的

【技术实现步骤摘要】
一种高效检测射频部分上芯片电性能的检测装置


[0001]本技术涉及检测射频部分上芯片电性能的
，特别是一种高效检测射频部分上芯片电性能的检测装置
。

技术介绍

[0002]射频部分主要负责对基带设备产生的基带数字信号进行处理，得到射频信号，通过天线对外发射，或是接收外部射频信号，进行处理后得到基带数字信号传输给基带设备
。
某射频部分的结构如图
1~
图2所示，它包括芯片1和金属基板2，芯片1经焊接料焊接于金属基板2的顶表面上，芯片1上设置有两个左右对称的支脚
3。
[0003]在车间内，当一批量的射频部分生产出来后，工人需采用电性能检测设备来检测焊接后各个射频部分的芯片1的电性能，即芯片的电阻值，其具体的检测方法是：
[0004]S1、
工人从料筐内取出一个待检测的射频部分，并且将射频部分的金属基板2平放在工作台上；
[0005]S2、
工人将电性能检测设备的两个探头
13
分别接触位于芯片1左右侧的支脚3，如图3所示，此时在电性能检本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种高效检测射频部分上芯片电性能的检测装置，其特征在于：它包括固设于垫板（4）上的立板（5）和定位座（6），定位座（6）的顶表面上开设有贯穿其前端面上的止口（7），立板（5）上固设有多级伸缩气缸（8），多级伸缩气缸（8）的活塞杆贯穿立板（5）设置，且延伸端上固设有连接板（9），连接板（9）的顶表面上固设有电性能检测设备（
10
）和垂向气缸（
11
），垂向气缸（
11
）的活塞杆向下贯穿连接板（9）设置，且延伸端上固设有升降板（
12
），升降板（
12
）的左右侧均固设有探头（
13
），两个探头（
13
）的顶端接头处均连接有导线（
14
），导线（
14
）与电性能检测设备（
10
）的接口相连接；所述升降板（
12
）的底表面上固设有位于两个探头（
13
）之间的进给气缸（
15
），进给气缸（
15
）活塞杆的作用端上固设有延伸于进给气缸（
15
）右侧的活动板（
16
），活动板（
16
）延伸端的顶表面上固设有旋转气缸（
17
），旋转气缸（
17<...

【专利技术属性】
技术研发人员：何丹，
申请(专利权)人：成都湛艺电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：