一种高效检测射频部分上芯片电性能的检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种高效检测射频部分上芯片电性能的检测装置，本实用新型专利技术涉及检测射频部分上芯片电性能的技术领域，多级伸缩气缸的活塞杆贯穿立板设置，且延伸端上固设有连接板，连接板的顶表面上固设有电性能检测设备和垂向气缸，升降板的左右侧均固设有探头，导线与电性能检测设备的接口相连接；所述升降板的底表面上固设有位于两个探头之间的进给气缸，进给气缸活塞杆的作用端上固设有延伸于进给气缸右侧的活动板，旋转气缸的旋转轴向下贯穿活动板设置，且延伸端上固设有旋转板，旋转板上固设有垂向设置的

【技术实现步骤摘要】
一种高效检测射频部分上芯片电性能的检测装置


[0001]本技术涉及检测射频部分上芯片电性能的
，特别是一种高效检测射频部分上芯片电性能的检测装置
。

技术介绍

[0002]射频部分主要负责对基带设备产生的基带数字信号进行处理，得到射频信号，通过天线对外发射，或是接收外部射频信号，进行处理后得到基带数字信号传输给基带设备
。
某射频部分的结构如图
1~
图2所示，它包括芯片1和金属基板2，芯片1经焊接料焊接于金属基板2的顶表面上，芯片1上设置有两个左右对称的支脚
3。
[0003]在车间内，当一批量的射频部分生产出来后，工人需采用电性能检测设备来检测焊接后各个射频部分的芯片1的电性能，即芯片的电阻值，其具体的检测方法是：
[0004]S1、
工人从料筐内取出一个待检测的射频部分，并且将射频部分的金属基板2平放在工作台上；
[0005]S2、
工人将电性能检测设备的两个探头
13
分别接触位于芯片1左右侧的支脚3，如图3所示，此时在电性能检测设备上显示出芯片的电阻值，若被检测的射频部分中的芯片1的电阻值不在设计的范围内，则判定其为不合格品，此时工人用
Mark
笔在芯片1顶表面上画上一圆圈，以方便后续工人对其进行返工，若被检测的射频部分中的芯片1的电阻值在设计范围内，则判定其为合格品，此时工人无需在芯片1上画一圆圈；
[0006]S3、
如此重复步骤
S1~S2
的操作，即可在工作台上完成一批量射频部分芯片的电性能的检测，最后工人根据各个射频部分芯片上的圆圈进行区分合格品和不合格品
。
[0007]然而，车间内的检测方法虽然能够检测芯片的电性能，但是仍然存在以下技术缺陷：
[0008]I、
在步骤
S2
中，工人每次对一个射频部分的芯片的电性能进行检测时，都需要手持两个探头分别接触芯片1的两个支脚3，从拿起探头到检测后再放下探头，无疑是耽误了后续射频部分芯片的电性能的检测时间，进而降低了芯片电性能的检测效率
。
[0009]II、
在步骤
S2
中，当检测出有不合格品时，需要工人用
Mark
笔在不合格品的芯片1上画上圆圈，这无疑是进一步的增加了后续射频部分芯片的电性能的检测时间，进一步的降低了芯片电性能的检测效率
。
因此，亟需一种缩短射频部分芯片的电性能的检测时间
、
极大提高芯片电性能的检测效率的检测装置
。

技术实现思路

[0010]本技术的目的在于克服现有技术的缺点，提供一种结构紧凑
、
缩短射频部分芯片的电性能的检测时间
、
极大提高芯片电性能的高效检测射频部分上芯片电性能的检测装置
。
[0011]本技术的目的通过以下技术方案来实现：一种高效检测射频部分上芯片电性能的检测装置，它包括固设于垫板上的立板和定位座，定位座的顶表面上开设有贯穿其前
端面上的止口，立板上固设有多级伸缩气缸，多级伸缩气缸的活塞杆贯穿立板设置，且延伸端上固设有连接板，连接板的顶表面上固设有电性能检测设备和垂向气缸，垂向气缸的活塞杆向下贯穿连接板设置，且延伸端上固设有升降板，升降板的左右侧均固设有探头，两个探头的顶端接头处均连接有导线，导线与电性能检测设备的接口相连接；
[0012]所述升降板的底表面上固设有位于两个探头之间的进给气缸，进给气缸活塞杆的作用端上固设有延伸于进给气缸右侧的活动板，活动板延伸端的顶表面上固设有旋转气缸，旋转气缸的旋转轴向下贯穿活动板设置，且延伸端上固设有旋转板，旋转板上固设有垂向设置的
Mark
笔
。
[0013]所述升降板内且位于其左右侧均开设有安装孔，所述探头与安装孔过盈配合
。
[0014]所述旋转板内开设有通孔，所述
Mark
笔的外壳嵌入于通孔内，且其笔尖朝下设置
。
[0015]所述定位座的底表面上且位于其两侧均固设有连接架，连接架固设于垫板上
。
[0016]该检测装置还包括控制器，所述控制器与多级伸缩气缸的电磁阀
、
垂向气缸的电磁阀和旋转气缸的电磁阀经信号线连接
。
[0017]本技术具有以下优点：结构紧凑
、
缩短射频部分芯片的电性能的检测时间
、
极大提高芯片电性能
。
附图说明
[0018]图
1 为某射频部分的结构示意图；
[0019]图
2 为图1的俯视图；
[0020]图
3 为工人将两个探头分别接触芯片的两个支脚的示意图；
[0021]图
4 为本技术的结构示意图；
[0022]图
5 为定位座的结构示意图；
[0023]图
6 为进给气缸
、
旋转气缸和
Mark
笔的连接示意图；
[0024]图
7 为在定位座的止口内定位安装多个射频部分的示意图；
[0025]图
8 为检测射频部分
A
的芯片电性能的示意图；
[0026]图
9 为
Mark
的笔尖与射频部分
A
的芯片的顶表面相接触的示意图；
[0027]图
10
为探头进入到下一个检测工位的示意图；
[0028]图中，1‑
芯片，2‑
金属基板，3‑
支脚，4‑
垫板，5‑
立板，6‑
定位座，7‑
止口，8‑
多级伸缩气缸，9‑
连接板，
10
‑
电性能检测设备，
11
‑
垂向气缸，
12
‑
升降板，
13
‑
探头，
14
‑
导线，
15
‑
进给气缸，
16
‑
活动板，
17
‑
旋转气缸，
18
‑
旋转板，
19
‑
Mark
笔，
20
‑
射频部分，
21
‑
射频部分
A
，
22
‑
支脚
A。
具体实施方式
[0029]下面结合附图对本技术做进一步的描述，本技术的保护范围不局限于以下所述：
[0030]如图
4~
图6所示，一种高效检测射频部分上芯片电性能的检测装置，它包括固设于垫板4上的立板5和定位座6，定位座6的顶表面上开设有贯穿其前端面本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种高效检测射频部分上芯片电性能的检测装置，其特征在于：它包括固设于垫板（4）上的立板（5）和定位座（6），定位座（6）的顶表面上开设有贯穿其前端面上的止口（7），立板（5）上固设有多级伸缩气缸（8），多级伸缩气缸（8）的活塞杆贯穿立板（5）设置，且延伸端上固设有连接板（9），连接板（9）的顶表面上固设有电性能检测设备（
10
）和垂向气缸（
11
），垂向气缸（
11
）的活塞杆向下贯穿连接板（9）设置，且延伸端上固设有升降板（
12
），升降板（
12
）的左右侧均固设有探头（
13
），两个探头（
13
）的顶端接头处均连接有导线（
14
），导线（
14
）与电性能检测设备（
10
）的接口相连接；所述升降板（
12
）的底表面上固设有位于两个探头（
13
）之间的进给气缸（
15
），进给气缸（
15
）活塞杆的作用端上固设有延伸于进给气缸（
15
）右侧的活动板（
16
），活动板（
16
）延伸端的顶表面上固设有旋转气缸（
17
），旋转气缸（
17<...

【专利技术属性】
技术研发人员：何丹，
申请(专利权)人：成都湛艺电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：