一种颗粒硅产品线监控方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种颗粒硅产品线监控方法及系统，涉及颗粒硅产品线的技术领域，包括：基于颗粒硅产品线上的多个磁性颗粒检测装置的位置，分别记录多个检测装置检测到的磁性物质粒径

【技术实现步骤摘要】
一种颗粒硅产品线监控方法及系统


[0001]本专利技术属于颗粒硅产品线
，具体涉及一种颗粒硅产品线监控方法及系统
。

技术介绍

[0002]在流化床颗粒硅生产过程中，颗粒硅从流化床反应器中产出，连续不断的进入颗粒硅储罐，在颗粒硅储罐装满后，切换至另一储罐继续接收从流化床生产的颗粒硅
。
装满颗粒硅的储罐通过拆装转运至颗粒硅后处理工序进行包装
。
颗粒硅产品在后处理工序需要进行进一步处理，对颗粒硅进行分级和除尘，颗粒硅在此过程中需要经过各种设备
、
管道和阀门，当颗粒硅经过设备
、
管道和阀门时，会发生磨损，这个过程中也需要人工进行拆装，因此可能导致杂质的引入
。
[0003]中国专利
CN108884943B
中至少涉及一个夹紧配件的用途，所述夹紧配件包括用于控制或终止粒状多晶硅流动的夹紧配件套筒，涉及用于生产颗粒多晶硅的流化床反应器设备，其中在所述设备中使用了至少一个这种夹紧配件
(1、3、5、10、14)
，并且涉及使用此类夹紧配件生产颗粒多晶硅的方法；尤其是，已经显示了由乙烯
‑
丙烯
‑
二烯橡胶和
/
或氟化弹性体制成的夹紧配件适合用于控制和
/
或终止粒状多晶硅的流动，尤其适合用于生产颗粒多晶硅的流化床反应器设备中
。
所述夹紧配件以恒久气密方式并低污染地控制或终止粒状多晶硅流动
。
所述夹紧配件套筒具有长工作寿命，是耐化学和耐热的，并且适于多晶硅的硬度和磨损；在一些其他的专利中，也有采用其他耐磨材料，来避免金属和颗粒硅直接接触引入金属杂质
。
[0004]但上述方案中采用的措施失效时间
、
失效位置无法及时获知，导致在拆修过程中，工作量加大，影响装置使用效率，同时由于人工拆修作业，还会在没有发生破损的地方引入杂质
。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于克服现有技术中的不足，提供一种颗粒硅产品线监控方法及系统，能够对颗粒硅生产线上出现的破损，及时发现并确定位置
。
[0006]本专利技术提供了如下的技术方案：
[0007]第一方面，提供了一种颗粒硅产品线监控方法，包括：
[0008]基于颗粒硅产品线上的用于检测磁性物质的多个检测装置的位置，分别记录多个检测装置检测到的磁性物质粒径和数量，以及划分多个检测区域；
[0009]基于设定的粒径等级，以及检测到的磁性物质粒径和数量，确定每一个磁性物质的等级序号，并统计出每一检测装置对应的每一等级的磁性物质数量；
[0010]基于划分出的多个检测区域，以及统计出的所述每一检测装置对应的每一等级的磁性物质数量，分析确定每一所述检测区域是否为磁性物质的变化区域；当所述检测区域为磁性物质的变化区域时，将该检测区域标号和该检测区域的变化信息推送至监控者
。
[0011]优选地，一个所述检测区域内包括有两个检测装置；相邻的两个检测区域中，其中一个检测装置为共有的检测装置；所述分析确定每一所述检测区域是否为磁性物质的变化区域包括：
[0012]根据一个检测区域内两个检测装置对应的每一等级的磁性物质数量，分析两个检测装置对应的每一等级的磁性物质数量是否均一致；
[0013]若不一致，则计算得出该等级的磁性物质数量变化量，并确定该检测区域为磁性物质的变化区域；
[0014]若完全一致，则分析确定下一检测区域是否为磁性物质的变化区域，直至分析确定出所有的磁性物质的变化区域
。
[0015]优选地，所述检测区域的变化信息为磁性物质数量发生改变的等级序号，以及该等级的磁性物质数量变化量
。
[0016]优选地，当检测区域中有磁性物质的变化区域时，发出报警；当统计出的每一检测装置对应的至少一个等级的磁性物质数量超过设定值时，发出报警
。
[0017]优选地，每一检测区域的每一等级的磁性物质数量均推送至监控者；所述检测区域的每一等级的磁性物质数量为在该检测区域内，靠近产品线传递前侧的一个检测装置所对应的每一等级的磁性物质数量
。
[0018]优选地，所述方法还包括：
[0019]基于颗粒硅产品线上的颗粒硅称重装置的位置，获取颗粒硅的重量值；
[0020]基于记录的多个检测装置检测到的磁性物质粒径
、
数量，获取位于监控末端的所述检测装置检测到的磁性物质数量；
[0021]基于获取的颗粒硅重量值以及获取的位于监控末端的所述检测装置检测到的磁性物质数量，计算获得颗粒硅单位质量中磁性物质的数量，并推送至监控人员
。
[0022]优选地，当获得的颗粒硅单位质量中磁性物质质的数量大于设定值时，发出报警
。
[0023]优选地，所述方法还包括：
[0024]基于颗粒硅产品线上的颗粒硅称重装置的位置，获取颗粒硅的重量值；
[0025]基于统计出每一检测装置对应的每一等级的磁性物质数量，获取位于监控末端的所述检测装置的每一等级的磁性物质数量；
[0026]基于获取的位于监控末端的所述检测装置的每一等级的磁性物质数量以及获取的颗粒硅的重量值，计算获得颗粒硅单位质量中每一等级的磁性物质数量
。
[0027]第二方面，提供了一种颗粒硅产品线监控系统，包括，
[0028]获取单元，用于获取和记录多个检测装置检测到的磁性物质粒径
、
数量；
[0029]统计单元，用于根据设定的粒径等级，以及获取单元获得的磁性物质粒径
、
数量，确定每一个磁性物质的等级序号，并统计出每一检测装置对应的每一等级的磁性物质数量；
[0030]分析单元，用于根据划分出的多个检测区域，以及统计单元统计出的所述每一检测装置对应的每一等级的磁性物质数量，分析确定每一所述检测区域是否为磁性物质的变化区域；
[0031]推送单元，用于当所述检测区域为磁性物质的变化区域时，将该检测区域和该检测区域的变化信息推送至监控者
。
[0032]优选地，还包括报警单元，用于当检测区域中有磁性物质的变化区域时，发出报警，以及当统计出的每一检测装置对应的至少一个等级的磁性物质数量超过设定值时，发出报警
。
[0033]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：
[0034](1)
利用在颗粒硅产品线上安装多个磁性颗粒检测装置，来获取位于颗粒硅产品线上不同位置的磁性物质数量和直径，根据获取的不同位置的磁性物质数量和直径，以及划分的检测区域，分析确定每一个检测区域内，磁性物质的数量
、
粒径是否发生改变，若磁性物质的数量
、
粒径发生改变，则该检测区域出现破损，若未发生改变，则该检测区域并未出现破损，从而方便监控者准确的定位出颗粒硅产本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种颗粒硅产品线监控方法，其特征在于，包括：基于颗粒硅产品线上的用于检测磁性物质的多个检测装置的位置，分别记录多个检测装置检测到的磁性物质粒径和数量，以及划分多个检测区域；基于设定的粒径等级，以及检测到的磁性物质粒径和数量，确定每一个磁性物质的等级序号，并统计出每一检测装置对应的每一等级的磁性物质数量；基于划分出的多个检测区域，以及统计出的所述每一检测装置对应的每一等级的磁性物质数量，分析确定每一所述检测区域是否为磁性物质的变化区域；当所述检测区域为磁性物质的变化区域时，将该检测区域标号和该检测区域的变化信息推送至监控者
。2.
根据权利要求1所述的颗粒硅产品线监控方法，其特征在于，一个所述检测区域内包括有两个检测装置；相邻的两个检测区域中，其中一个检测装置为共有的检测装置；所述分析确定每一所述检测区域是否为磁性物质的变化区域包括：根据一个检测区域内两个检测装置对应的每一等级的磁性物质数量，分析两个检测装置对应的每一等级的磁性物质数量是否均一致；若不一致，则计算得出该等级的磁性物质数量变化量，并确定该检测区域为磁性物质的变化区域；若完全一致，则分析确定下一检测区域是否为磁性物质的变化区域，直至分析确定出所有的磁性物质的变化区域
。3.
根据权利要求2所述的颗粒硅产品线监控方法，其特征在于，所述检测区域的变化信息为磁性物质数量发生改变的等级序号，以及该等级的磁性物质数量变化量
。4.
根据权利要求1所述的颗粒硅产品线监控方法，其特征在于，当检测区域中有磁性物质的变化区域时，发出报警；当统计出的每一检测装置对应的至少一个等级的磁性物质数量超过设定值时，发出报警
。5.
根据权利要求1所述的颗粒硅产品线监控方法，其特征在于，每一检测区域的每一等级的磁性物质数量均推送至监控者；所述检测区域的每一等级的磁性物质数量为在该检测区域内，靠近产品线传递前侧的一个检测装置所对应的每一等级的磁性物质数量
。6.
根据权利要求1所述的颗粒硅产品线...

【专利技术属性】
技术研发人员：兰天石，陈辉，陈其国，孟坤，王彬，包正文，
申请(专利权)人：江苏中能硅业科技发展有限公司，
类型：发明
国别省市：