一种壁板通孔垂直度检测方法技术

本申请实施例公开了一种壁板通孔垂直度检测方法

【技术实现步骤摘要】
一种壁板通孔垂直度检测方法、装置、设备和介质


[0001]本申请涉及图像识别
，尤其涉及一种壁板通孔垂直度检测方法
、
装置
、
设备和介质
。

技术介绍

[0002]壁板通孔垂直度的检测是飞机装配质量检测任务中相当重要的一个环节
。
一般利用芯棒模拟孔的轴线，将芯棒插入被测孔中，这相当于向外延伸了孔的轴线
。
以芯棒轴线为基准，再由多台激光位移传感器测量得到孔周围表面的法线，进而得到孔垂直度
。
然而，采用芯棒拟合轴线的接触式测量方法不可避免地会受到接触力的影响，由此带来的孔垂直度检测误差很难通过技术手段消除
。

技术实现思路

[0003]本申请实施例提供了一种壁板通孔垂直度检测方法
、
装置
、
设备和介质，解决了现有技术无法在对壁板通孔进行垂直度检测时存在误差的技术问题
。
[0004]一方面，本申请实施例提供了一种壁板通孔垂直度检测方法，包括：
[0005]获取壁板通孔图像；
[0006]基于所述壁板图像，获取边缘点集；
[0007]将所述边缘点集进行椭圆拟合处理，获得通孔轮廓信息；其中，所述通孔轮廓信息包括通孔中心点值
、
短轴直径值
、
长轴直径值和长轴直径角度值；
[0008]基于所述通孔轮廓信息，获得壁板通孔的垂直度值
。
[0009]作为本申请一些可选实施方式，所述基于所述壁板图像，获取第一边缘点集，包括：
[0010]将所述壁板图像进行灰度处理，获得灰度图像；
[0011]将所述灰度图像进行去噪处理后，基于分割阈值，获取第一边缘点集
。
[0012]作为本申请一些可选实施方式，所述将所述灰度图像进行去噪处理后，基于分割阈值，获取第一边缘点集，包括：
[0013]将第一灰度图像进行去噪处理后，基于斑点检测算法进行斑点检测，获得斑点信息；其中，所述斑点信息包括斑点位置信息和斑点大小信息；
[0014]基于所述斑点信息，获得第二灰度图像；基于所述分割阈值，将所述第二灰度图像进行二值化处理，获得二值化图像；
[0015]将所述二值化图像采用闭运算做形态学处理后，进行边缘检测，获得第一边缘点集
。
[0016]作为本申请一些可选实施方式，所述将所述边缘点集进行椭圆拟合处理，获得通孔轮廓信息，包括：
[0017]基于第一边缘点集，获得第二边缘点集；
[0018]基于所述第二边缘点集，获得通孔上表面边缘点集和通孔下表面边缘点集；
[0040]其中，
x
表示边缘点的横坐标值，
x0表示中心点横坐标值，
y
表示边缘点的纵坐标值，
y0表示中心点纵坐标值，
α
表示长轴直径角度值，
d
表示预设距离值
。
[0041]作为本申请一些可选实施方式，所述基于所述通孔轮廓信息，获得壁板通孔的垂直度值，包括：
[0042]基于通孔上表面的中心坐标值和通孔下表面的中心坐标值，获得上下中心距离值；
[0043]将所述上下中心距离值和壁板厚度值进行相除，获得壁板通孔的垂直度值
。
[0044]再一方面，本申请实施例提供了一种壁板通孔垂直度检测装置，包括：
[0045]获取图像模块，用于获取壁板图像；
[0046]提取边缘点模块，用于基于所述壁板图像，获取边缘点集；
[0047]获取轮廓模块，用于将所述边缘点集进行椭圆拟合处理，获得通孔轮廓信息；其中，所述通孔轮廓信息包括通孔中心点值
、
短轴直径值
、
长轴直径值和长轴直径角度值；
[0048]计算模块，用于基于所述通孔轮廓信息，获得壁板通孔的垂直度值
。
[0049]再一方面，本申请实施例提供了一种电子设备，包括：存储器和处理器，所述存储器中存储有获取机程序，所述处理器执行所述获取机程序，实现前述方法
。
[0050]再一方面，本申请实施例提供了一种获取机可读存储介质，所述获取机可读存储介质上存储有获取机程序，所述处理器执行所述获取机程序，实现前述方法
。
[0051]现有技术中，通常采用芯棒模拟法进行孔垂直度的检测，但这种方法不可避免会受到接触力的影响，由此带来的孔垂直度检测误差很难通过技术手段消除
。
因此本申请实施例提出了一种壁板通孔垂直度检测方法，即通过获取壁板通孔图像；基于所述壁板图像，获取边缘点集；将所述边缘点集进行椭圆拟合处理，获得通孔轮廓信息；其中，所述通孔轮廓信息包括通孔中心点值
、
短轴直径值
、
长轴直径值和长轴直径角度值；基于所述通孔轮廓信息，获得壁板通孔的垂直度值
。
可以看出，本申请所述方法是先提取壁板通孔图像中的边缘点，再进行对边缘点进行椭圆拟合处理，以删除无效边缘点，再基于剩余的有效边缘点，获取通孔的轮廓信息，并基于通孔的轮廓信息和壁板本身厚度值，获得壁板通孔的垂直度值
。
通过本申请所述方法，可以保证所检测获得通孔垂直度值的准确度，避免因其他外力影响而导致检测存在误差
。
附图说明
[0052]为了更清楚地说明本申请实施例技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图
。
[0053]图1是本申请实施例提供的一种电子设备的结构示意图；
[0054]图2是本申请实施例提供的一种壁板通孔垂直度检测方法的流程示意图；
[0055]图3是本申请实施例提供的一种壁板通孔图像；
[0056]图4是本申请实施例提供的一种经过椭圆拟合处理后的图像；
[0057]图5是本申请实施例提供的一种删除在所述椭圆区域外的边缘点后获得的第二边缘点集示意图；
[0058]图6是本申请实施例提供的一种壁板通孔垂直度检测装置示意图
。
具体实施方式
[0059]应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请
。
[0060]本申请实施例的主要解决方案是：一种壁板通孔垂直度检测方法，包括：获取壁板通孔图像；基于所述壁板图像，获取边缘点集；将所述边缘点集进行椭圆拟合处理，获得通孔轮廓信息；其中，所述通孔轮廓信息包括通孔中心点值
、
短轴直径值
、
长轴直径值和长轴直径角度值；基于所述通孔轮廓信息，获得壁板通孔的垂直度值
。
[0061]制孔垂直度的检测是飞机装配质量检测任务中相当重要的一个环节，传统的深孔垂直度测量方法是利用本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种壁板通孔垂直度检测方法，其特征在于，包括：获取壁板通孔图像；基于所述壁板图像，获取边缘点集；将所述边缘点集进行椭圆拟合处理，获得通孔轮廓信息；其中，所述通孔轮廓信息包括通孔中心点值
、
短轴直径值
、
长轴直径值和长轴直径角度值；基于所述通孔轮廓信息，获得壁板通孔的垂直度值
。2.
根据权利要求1所述壁板通孔垂直度检测方法，其特征在于，所述基于所述壁板图像，获取第一边缘点集，包括：将所述壁板图像进行灰度处理，获得灰度图像；将所述灰度图像进行去噪处理后，基于分割阈值，获取第一边缘点集
。3.
根据权利要求2所述壁板通孔垂直度检测方法，其特征在于，所述将所述灰度图像进行去噪处理后，基于分割阈值，获取第一边缘点集，包括：将第一灰度图像进行去噪处理后，基于斑点检测算法进行斑点检测，获得斑点信息；其中，所述斑点信息包括斑点位置信息和斑点大小信息；基于所述斑点信息，获得第二灰度图像；基于所述分割阈值，将所述第二灰度图像进行二值化处理，获得二值化图像；将所述二值化图像采用闭运算做形态学处理后，进行边缘检测，获得第一边缘点集
。4.
根据权利要求1所述壁板通孔垂直度检测方法，其特征在于，所述将所述边缘点集进行椭圆拟合处理，获得通孔轮廓信息，包括：基于第一边缘点集，获得第二边缘点集；基于所述第二边缘点集，获得通孔上表面边缘点集和通孔下表面边缘点集；基于所述通孔上表面边缘点集和所述通孔下表面边缘点集，获得通孔上表面轮廓信息和通孔下表面轮廓信息
。5.
根据权利要求1所述壁板通孔垂直度检测方法，其特征在于，所述将所述边缘点集进行椭圆拟合处理，获得通孔轮廓信息，包括：对第一边缘点集进行椭圆拟合处理，获得椭圆区域及椭圆方程式；基于所述椭圆方程式，将所述第一边缘点集中位于所述椭圆区域外的边缘点进行删除处理，获得第二边缘点集；其中，所述第二边缘点集中的所有边缘点均位于所述椭圆区域内；基于所述第二边缘点集，获得通孔上表面边缘点集和通孔下表面边缘点集；基于所述通孔上表面边缘点集和所述通孔下表面边缘点集，获得通孔上表面轮廓信息和通孔下表面轮廓信息；其中所述通孔上表面轮廓信息包括通孔上表面的中心坐标值
、
短轴直径值
、
长轴直径值和长轴直径角度值；所述通孔下表面轮廓信息包括通孔下表面的中心坐标值
、
短轴直径值
、
长轴直径值和长轴直径角度值
。6.
根据权利要求5所述壁板通孔垂直度检测方法，其特征在于，所述椭圆方程式满足以下关系式：其中，
X
表示边缘点的横坐标与中心点横坐标的差值，
Y
表示边缘点的纵坐标与中心点
纵坐标的差值，
α
表示长轴直径角度值，
a
表示长轴直径的横坐标值，
b
表示长轴直径的纵坐标值
。7.
根据权利要求5所述壁板通孔垂直度检测方法，其特征在于，所述基于所述椭圆方程式，将所述第一边缘点集中位于所述椭圆区域外的边缘点进行删除处理，获得第二边缘点集，包括：基于所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：文洲，韩利亚，缑建杰，陈代鑫，周力，刘树铜，秦琪，刘磊，周纹康，陈俊佑，
申请(专利权)人：成都飞机工业集团有限责任公司，
类型：发明
国别省市：