一种快速测定偏光片高温发红的测试方法技术

本发明专利技术提供了一种快速测定偏光片高温发红的测试方法，包括：步骤

【技术实现步骤摘要】
一种快速测定偏光片高温发红的测试方法


[0001]本专利技术涉及偏光片生产
，尤其涉及一种快速测定偏光片高温发红的测试方法
。

技术介绍

[0002]偏光片的全称是偏振光片，是液晶显示
(LCD)
关键材料，通过将其贴附于液晶显示面板上，实现光路的通过与关闭，起到开关作用
。
目前，液晶显示技术已趋于成熟，其应用已由室内显示如电视
、PC
显示器
、
笔记本电脑等扩大到室外移动显示器如智能手机
、
平板电脑等
。
近年来，车载显示
、
智能穿戴
、
电子标签等领域已在逐渐推广，其市场需求越来越大，对于液晶显示器所用偏光片耐热性能要求更高
。
因此，偏光片需要具备优异的耐高温性能
。
[0003]偏光片的主要结构包括保护偏光片的保护膜，保护偏光子的第一层保护膜，偏光子与保护层粘剂的接着剂，偏光子，保护偏光子的第二层保护膜，压敏胶层，剥离膜层
。
[0004]各偏光片生产厂家生产工艺大体相同，都是通过滚轮将卷状材料复合制备而成，但产出的偏光片产品的质量却参差不齐
。
比如说偏光片耐高温红变性能如何，是否会发生高温红变，导致显示效果不均
、
甚至失效等问题，就需要对偏光片耐高温性能进行测量，即偏光片高温耐久性测量
。
[0005]目前偏光片高温发红测试方法主要是通过耐久性测试，此方法是将偏光片按照要求制备，并投入高温
80℃
环境箱中，经过
500
小时后观察偏光片色相，并判定偏光片色相品味是否发生红变
。
此方法测试时间长，效率低
。

技术实现思路

[0006]为了解决现有技术中偏光片测试时间长，效率低的问题，本专利技术提供了一种快速测定偏光片高温发红的测试方法
。
[0007]本专利技术提供了一种快速测定偏光片高温发红的测试方法，包括以下步骤：
[0008]步骤
S1
，裁切偏光片：将偏光片裁切为适合的尺寸；
[0009]步骤
S2
，粘贴偏光片：先撕除偏光片上的离型膜，将偏光片贴在金属片上，再撕除偏光片保护膜；
[0010]步骤
S3
，老化偏光片：将经步骤
S2
处理的偏光片投入高温环境箱中按设置时间进行烘烤；
[0011]步骤
S4
，光学性能测试：将贴有偏光片的金属片从所述高温环境箱中取出，采用分光光度计测试偏光片老化后的光学性能，并记录数据，计算
A700
数值，
A700
数值表示波长在
700nm
处的吸光度
。
[0012]作为本专利技术的进一步改进，所述步骤
S2
中，用胶带粘在离型膜的端部，撕除离型膜，再将偏光板贴付在金属片中间位置
。
[0013]作为本专利技术的进一步改进，所述步骤
S3
中所述高温环境箱烘烤温度为
90
至
110℃
，烘烤时间为
20
至
40
分钟
。
[0014]作为本专利技术的进一步改进，所述高温环境箱为数显鼓风干燥箱
。
[0015]作为本专利技术的进一步改进，所述步骤
S4
中，光学性能的测试时间为：从所述高温环境箱取出后
15
分钟内完成测试
。
[0016]作为本专利技术的进一步改进，所述这步骤
S4
中，完成光学性能的测试后，记录
700nm
直交透过率，然后通过吸光度与透光率公式关系，吸光度
A
＝
‑
log10(
透光率
T)
，换算出
700nm
处吸光度
A 700
值，并做好记录
。
[0017]作为本专利技术的进一步改进，所述步骤
S1
中，所述偏光片裁切尺寸为宽
35mm
×
长
40mm。
[0018]作为本专利技术的进一步改进，所述步骤
S2
中，所述金属片为铁片
。
[0019]本专利技术的有益效果是：采用本专利技术测试方法能在一个小时内，快速测出偏光处的
A700
值，通过
A700
值大小可判定偏光片高温耐久性后是否会出现发红现象，能有效防止产品在客户端发生高温发红问题，提高了产品品质
。
附图说明
[0020]图1是本专利技术测试方法流程图
。
具体实施方式
[0021]如图1所示，本专利技术公开了一种快速测定偏光片高温发红的测试方法，将偏光片裁切合适的尺寸，撕除离型膜后偏贴在铁片中间位置，并撕除偏光片保护膜，将贴有偏光片的铁片置于数显鼓风干燥箱
GZX
‑
9420MBE
中高温烘烤后，使用
JASCO V
‑
7100
分光光度计测试高温烘烤后光学性能，如
700nm
直交透过率
(Luminous crossed Nicol transmittance
，
Tc700)
，然后通过吸光度与透光率公式关系，吸光度
A
＝
‑
log10(
透光率
T)
，换算出
700nm
处吸光度
A 700
值，此
A700
值大小可判定偏光片高温耐久性后是否会发生发红现象
。
此方法能在一小时内快速的测定出偏光片高温耐久性后是否会发红，提高测试效率
。
[0022]本专利技术公开的一种快速测定偏光片高温发红的测试方法，包括以下步骤：
[0023]步骤
S1
，裁切偏光片：将偏光片裁切为适合的尺寸，优选尺寸为宽
35mm
×
长
40mm。
[0024]步骤
S2
，粘贴偏光片：撕除偏光片上的离型膜，将偏光片贴在金属片上；偏光片去剥离膜，将准备好的偏光片，用美纹胶带从离型膜的端部粘起，撕除离型膜，将偏光板贴附在铁片中间位置
。
[0025]步骤
S3
，老化偏光片：将经步骤
S2
处理的偏光片投入高温环境箱中按设置时间进行烘烤；烘烤温度为
90
至
110℃
，优选的烘烤温度为
105℃
，静置放置一段时间，即烘烤时间，烘烤时间为
20
至
40
分钟，优选为
30
分钟
。...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种快速测定偏光片高温发红的测试方法，其特征在于
,
包括以下步骤：步骤
S1
，裁切偏光片：将偏光片裁切为适合的尺寸；步骤
S2
，粘贴偏光片：先撕除偏光片上的离型膜，将偏光片贴在金属片上，再撕除偏光片保护膜；步骤
S3
，老化偏光片：将经步骤
S2
处理的偏光片投入高温环境箱中按设置时间进行烘烤；步骤
S4
，光学性能测试：将贴有偏光片的金属片从所述高温环境箱中取出，采用分光光度计测试偏光片老化后的光学性能，并记录数据，计算
A700
数值，
A700
数值表示波长在
700nm
处的吸光度
。2.
根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于：所述步骤
S2
中，用胶带粘在离型膜的端部，撕除离型膜，再将偏光板贴付在金属片中间位置
。3.
根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于：所述步骤
S3
中所述高温环境箱烘烤温度为
90
至
110℃
，烘烤时间为
20
至
40
分钟
。4.
根据权利要求3所述的测试方法，其特征在于：所述高...

【专利技术属性】
技术研发人员：王金，陈学文，陈敏，曲晓腾，
申请(专利权)人：深圳市盛波光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：