【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及偏光片，尤其涉及一种碘系偏光片碘单质浓度的测定方法。
技术介绍
1、偏光片在lcd显示终端应用中是必不可少的光学元件，其作为光学开关器件，决定着光路的透过与闭合。偏光片制造过程中最核心、难度系数最高的为偏光膜的制备工序。偏光片性能对显示效果有直接影响。通常，偏光膜是由聚乙烯醇或其衍生物的膜在一定温度的溶液中，被二色性色素染色，同时进行延伸配向制备而成。二色性色素主要有碘和染料两类，对应的偏光膜染色工艺分别称为碘染色法和染料染色法。染料染色法利用二色性染料进行染色，所生产的偏光片具有耐湿性和耐热性较好，但缺点是工业废水污染环境；透过率低，光学性能差。碘染色法使用碘和碘化钾作为二色性介质，其优点是光学特性优异，容易获得99.9％以上的高偏振度和42％以上的高透过率。现代显示工业对偏光片行业的环保性与透过率等光学特性提出了更高的要求，碘染色法是当前主流的偏光片制备方法。现有的测量碘单质浓度的方法为滴定法，需要人工从槽体中采集液体，进行外部测量，操作繁琐，不利于生产。
技术实现思路
1、针对以上技术问题，本专利技术公开了一种碘系偏光片碘单质浓度的测定方法，可做到实时在线监控，利于提高生产质量。
2、对此，本专利技术采用的技术方案为：
3、一种碘系偏光片碘单质浓度的测定方法，包括如下步骤：
4、步骤s1，配制系列已知ki浓度的碘溶液，测定各碘溶液的吸光度曲线，获得特征波长；
5、步骤s2，采用碘、碘化钾配制系列不同碘单质浓度的碘溶
6、其中，y为碘单质浓度，k、b为常数，通过拟合得到；
7、步骤s3，配制系列已知浓度的染色槽溶液，所述染色槽溶液含有碘、碘化钾、硼酸、pva，测定各染色槽溶液的吸光度，获得含杂质液体特征波长的吸光度、以及反应特征吸收峰波长的吸光度，结合已知碘、碘化钾、硼酸、pva的浓度，建立含杂质液体的特征波长的吸光度的校正模型y1；
8、步骤s4，取已知更换溶液时间的染色槽新溶液，和正常生产8h后的同染色槽溶液，测量两者的吸光度带入上述计算模型y1，得到pva膜溶解的时间校正常数δy；进一步地，pva膜匀速进染色槽染色后匀速离开，染色过程中所有长度的膜在染色槽内时间一样，且染色后光学数据相同；结合观察不同时间段溶出的pva导致的吸光度变化，可知变量与时间成线性关系；
9、步骤s5，结合模型y、含杂质液体的特征波长的吸光度的校正模型y1和pva膜溶解的时间校正常数δy，得到含杂质液体的碘单质浓度的计算公式：
10、
11、采用此技术方案，通过测定溶液的吸光度，得到当前溶液的碘单质浓度，可以实现在线随时监测，有利于提高产品质量。
12、作为本专利技术的进一步改进，所述含杂质液体的特征波长的吸光度的校正模型y1为：
13、其中，y1代表含杂质液体的特征波长的吸光度，硼酸浓度*100中的硼酸浓度为百分比浓度，如硼酸的百分比浓度为2％，则5.5-硼酸浓度*100＝5.5-2＝3.2。
14、作为本专利技术的进一步改进，所述特征波长为465nm。
15、作为本专利技术的进一步改进，所述反应特征吸收峰波长为660nm。
16、作为本专利技术的进一步改进，步骤s5中，含杂质液体的碘单质浓度的计算公式为：
17、
18、上述浓度为质量百分比浓度。
19、作为本专利技术的进一步改进，所述时间校正常数为δy＝mt，其中，t为染色槽溶液投入使用的时间，m为系数，所述m采用不同时间点的吸光度与时间进行线性拟合得到。
20、作为本专利技术的进一步改进，步骤s1中，配制不同ki浓度的碘溶液包括：
21、步骤s11，以去离子水为溶剂，按照n(i2)∶n(ki)＝1∶1.2，加入到去离子水中，溶解后得到母碘液；
22、步骤s12，取出部分母碘液，计算并添加补充的ki的质量，得到不同浓度的ki浓度的碘溶液。
23、作为本专利技术的进一步改进，步骤s2中配制系列不同碘浓度的碘溶液包括：
24、步骤s21，称量设定质量的碘单质、ki，充分研磨，加入清水中，得到已知浓度的母碘液；
25、步骤s22，取部分所述母碘液，计算并加入补充的水的体积，配制得到不同碘浓度的碘溶液。
26、与现有技术相比，本专利技术的有益效果为：
27、本专利技术的技术方案利用光在不同溶液浓度吸收数值产生的区别，通过吸光度测定溶液中有效离子浓度，建立了一种技术简易、操作方便、成本低廉、偏光片染色槽中碘单质浓度快速测算方法，可做到实时监控，利于提高生产质量。
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1.一种碘系偏光片碘单质浓度的测定方法，其特征在于：包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的碘系偏光片碘单质浓度的测定方法，其特征在于：所述含杂质液体的特征波长的吸光度的校正模型Y1为：
3.根据权利要求2所述的碘系偏光片碘单质浓度的测定方法，其特征在于：所述特征波长为465nm，所述反应特征吸收峰波长为660nm。
4.根据权利要求3所述的碘系偏光片碘单质浓度的测定方法，其特征在于：含杂质液体的碘单质浓度的计算公式为：
5.根据权利要求4所述的碘系偏光片碘单质浓度的测定方法，其特征在于：所述时间校正常数为ΔY＝mT，其中，T为染色槽溶液投入使用的时间，m为系数，所述m采用不同时间点的吸光度与时间进行线性拟合得到。
6.根据权利要求1～5任意一项所述的碘系偏光片碘单质浓度的测定方法，其特征在于：步骤S1中，配制不同KI浓度的碘溶液包括：
7.根据权利要求6所述的碘系偏光片碘单质浓度的测定方法，其特征在于：步骤S2中配制系列不同碘浓度的碘溶液包括：
【技术特征摘要】
1.一种碘系偏光片碘单质浓度的测定方法，其特征在于：包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的碘系偏光片碘单质浓度的测定方法，其特征在于：所述含杂质液体的特征波长的吸光度的校正模型y1为：
3.根据权利要求2所述的碘系偏光片碘单质浓度的测定方法，其特征在于：所述特征波长为465nm，所述反应特征吸收峰波长为660nm。
4.根据权利要求3所述的碘系偏光片碘单质浓度的测定方法，其特征在于：含杂质液体的碘单质浓度的计算公式为：
【专利技术属性】
技术研发人员：郭子慧，陈敏，孙海如，闫小龙，
申请(专利权)人：深圳市盛波光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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