【技术实现步骤摘要】
基于UFS存储设备的多状态性能测试方法和装置
[0001]本专利技术涉及存储测试
，特别是涉及一种基于
UFS
存储设备的多状态性能测试提升方法
、
装置
、
计算机设备和存储介质
。
技术介绍
[0002]UFS
，全称是通用闪存存储
Universal Flash Storage
，而
UFS3.1
采用
HS
‑
G4
规范，单通道带宽可达
11.6Gbps
，性能为
UFS2.1
的两倍
。UFS3.1
标准在传输速度上更快，功耗更低，软件响应更快，程序运行更流畅，而省电效果更佳
。
[0003]当前，
UFS3.1
比较流行的测试方法是基于一些已有的性能测试
APP
，如
AndroidBench
等进行系统层级的性能测试，该种测试方法因系统进程优先级较高，
Soc
会优先处理系统相关指令，导致性能测试结果较实际结果偏低
。
此外，一般性能测试程序只会在
UFS3.1
设备当前状态下测试其性能，无法自主制造空卡，满卡，脏卡状态，且缺乏设备满卡
、
脏卡情况下的性能数据
。
技术实现思路
[0004]基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种基于
UFS
存储设备的多
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
一种基于
UFS
存储设备的多状态性能测试提升方法，所述方法包括：分别编写
UFS3.1
存储设备在空卡
、
满卡以及脏卡三个状态下各模块的性能测试用例；在
MTK6893
开发板上对性能测试环境进行配置；待测试环境配置完成后，在
MTK6893
开发板上运行已编写好的测试用例进行随机读写性能以及顺序读写性能测试；待所有测试项目完成后输出测试结果，并生成图形化统计分析报告
。2.
根据权利要求1所述的基于
UFS
存储设备的多状态性能测试提升方法，其特征在于，所述在
MTK6893
开发板上对性能测试环境进行配置的步骤包括：配置
lu0
为全卡容量，配置储存模式为
SLC
模式或
TLC
模式，配置读写状态模式为缓存打开或缓存关闭
。3.
根据权利要求2所述的基于
UFS
存储设备的多状态性能测试提升方法，其特征在于，所述在
MTK6893
开发板上对性能测试环境进行配置的步骤还包括：配置
UFS3.1
存储设备的初始状态，初始状态为空卡则不做任何操作，初始状态为满卡则进行两次顺序写全卡操作，初始状态为脏卡则进行一次顺序写全卡一次随机写全卡操作
。4.
根据权利要求3所述的基于
UFS
存储设备的多状态性能测试提升方法，其特征在于，所述在
MTK6893
开发板上运行已编写好的测试用例进行随机读写性能以及顺序读写性能测试的步骤包括：执行测试范围为
1GB
的顺序写测试，起始地址为0，
chunksize
为1～
48
，
64
，
96
，
128
，
256block
；执行测试范围为
1GB
的顺序读测试，起始地址为0，
chunksize
为1～
48
，
64
，
96
，
128
，
256block
；执行测试范围为
1GB
的随机写测试，起始地址为0，
chunksize
为1～
48
，
64
，
96
，
128
，
256block
；执行测试范围为
1GB
的随机读测试，起始地址为0，
chunksize
为1～
48
，
64
，
96
，
128
，
256block。5.
一种基于
UFS
存储设备的多状态性能测试提升装置，其特征在于，所述装置包括：编写模块，所述编写模块用于...
【专利技术属性】
技术研发人员：周佳胤，张业，魏桂芳，
申请(专利权)人：东莞忆联信息系统有限公司，
类型：发明
国别省市：
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