芯片性能自动化测试方法、装置、计算机设备及存储介质制造方法及图纸

本申请实施例公开了一种芯片性能自动化测试方法，包括获取目标芯片的测试预期信息，将测试预期信息中的各项参数配置于预设的测试用例参数库；将测试环境参数配置于预设的测试环境参数库；建立基于测试用例参数库以及测试环境参数库的运行库并生成与测试预期信息及测试环境参数对应的测试脚本配置于运行库；建立自动化测试模型；根据自动化测试模型获取与目标芯片相匹配的测试程序并连接；通过测试程序获取目标芯片的运行状态参数配置于运行库并生成对应的运行脚本，将运行脚本与测试脚本进行对比验证，以生成与对比验证结果对应的评估结果信息。通过实施本申请实施例的方法可实现智能设备跑分软件UFS/EMMC性能测试的自动化运行，提高测试效率和准确性。提高测试效率和准确性。提高测试效率和准确性。

【技术实现步骤摘要】
芯片性能自动化测试方法、装置、计算机设备及存储介质


[0001]本申请涉及设备智能检测
，尤其涉及一种芯片性能自动化测试方法、装置、计算机设备及存储介质。

技术介绍

[0002]目前对于Android手机的跑分软件(如Androbench、安兔兔、鲁大师等)进行闪存芯片UFS/EMMC性能测试存在以下问题：需要手工下载安装测试应用程序，并手动控制手机屏幕进行测试。随着测试应用程序数量的增加，人力和时间成本也随之增加，严重影响了测试效率。目前针对Android手机的跑分软件进行闪存芯片UFS/EMMC性能测试，目前，用户需要手动从应用商店或其他渠道下载和安装相关的跑分软件。这需要用户自己进行搜索、选择和下载，增加了操作的复杂性和时间成本。在安装完成后，用户需要手动打开跑分软件，并按照软件的指引进行测试。这需要用户自己控制测试的开始和结束，并进行必要的操作，如点击、滑动等。由于需要人工干预进行下载和测试，测试过程耗费了大量的人力资源。特别是在大规模测试或频繁重复测试的情况下，增加了人力成本和劳动力投入。手动下载和控制测试不仅耗费人力，还会增加测试的时间成本。每次手动操作都需要一定的时间，尤其是当需要执行大量的测试时，效率低下。手动操作容易出现疏忽或错误，可能会导致测试结果不准确或无法重现。人为因素引入的错误可能会影响测试的可靠性和准确性。手动下载安装和控制Android跑分软件进行测试的现况存在人力成本高、时间成本高和容易出错等缺陷。因此，需要寻求自动化的解决方案来提高测试效率和准确性。

技术实现思路
/>[0003]本申请实施例提供了一种芯片性能自动化测试方法、装置、计算机设备及存储介质，旨在解决跑分软件进行测试存在的操作成本高的问题。
[0004]第一方面，本申请实施例提供了一种芯片性能自动化测试方法，其包括：获取所述目标芯片的测试预期信息，将所述测试预期信息中的各项参数配置于预设的测试用例参数库；所述测试预期信息包括预期运行参数、预期存储参数以及预期数据传输参数；获取测试环境参数，将所述测试环境参数配置于预设的测试环境参数库；建立基于所述测试用例参数库以及所述测试环境参数库的运行库并生成与所述测试预期信息及所述测试环境参数对应的测试脚本配置于所述运行库；根据所述测试用例参数库、所述环境信息参数库以及所述运行库建立自动化测试模型；根据所述自动化测试模型获取与所述目标芯片相匹配的测试程序并连接；通过所述测试程序获取所述目标芯片的运行状态参数配置于所述运行库并生成对应的运行脚本，所述运行状态参数包括当前运行参数、当前存储参数以及当前数据传输参数；将所述运行脚本与所述测试脚本进行对比验证，以生成与对比验证结果对应的评估结果信息。
[0005]第二方面，本申请实施例还提供了一种芯片性能自动化测试装置，其包括：第一参数配置单元，用于获取所述目标芯片的测试预期信息，将所述测试预期信息中的各项参数
配置于预设的测试用例参数库；第二参数配置单元，用于获取测试环境参数，将所述测试环境参数配置于预设的测试环境参数库；第一运行库配置单元，用于建立基于所述测试用例参数库以及所述测试环境参数库的运行库并生成与所述测试预期信息及所述测试环境参数对应的测试脚本配置于所述运行库；测试模型生成单元，用于根据所述测试用例参数库、所述环境信息参数库以及所述运行库建立自动化测试模型；测试程序接入单元，用于根据所述自动化测试模型获取与所述目标芯片相匹配的测试程序并连接；第二运行库配置单元，用于通过所述测试程序获取所述目标芯片的运行状态参数配置于所述运行库并生成对应的运行脚本；结果评估单元，用于将所述运行脚本与所述测试脚本进行对比验证，以生成与对比验证结果对应的评估结果信息。
[0006]第三方面，本申请实施例还提供了一种计算机设备，其包括存储器及处理器，所述存储器上存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述方法。
[0007]第四方面，本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，所述程序指令当被处理器执行时可实现上述方法。
[0008]本申请实施例提供了一种芯片性能自动化测试方法、芯片性能自动化测试装置、计算机设备及存储介质。其中，方法包括：获取目标芯片的测试预期信息，将测试预期信息中的各项参数配置于预设的测试用例参数库；测试预期信息包括预期运行参数、预期存储参数以及预期数据传输参数；获取测试环境参数，将测试环境参数配置于预设的测试环境参数库；建立基于测试用例参数库以及测试环境参数库的运行库并生成与测试预期信息及测试环境参数对应的测试脚本配置于运行库；根据测试用例参数库、环境信息参数库以及运行库建立自动化测试模型；根据自动化测试模型获取与目标芯片相匹配的测试程序并连接；通过测试程序获取目标芯片的运行状态参数配置于运行库并生成对应的运行脚本，运行状态参数包括当前运行参数、当前存储参数以及当前数据传输参数；将运行脚本与测试脚本进行对比验证，以生成与对比验证结果对应的评估结果信息。本申请实施例本技术方案的技术效果是通过UI自动化测试、自动化构建工具和脚本编写技巧等手段，实现了Android手机的跑分软件UFS/EMMC性能测试的自动化，提高了测试效率和准确性。
附图说明
[0009]为了更清楚地说明本申请实施例技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0010]图1为本申请实施例提供的芯片性能自动化测试方法的应用场景示意图；
[0011]图2为本申请实施例提供的芯片性能自动化测试方法的流程示意图；
[0012]图3为本申请实施例提供的芯片性能自动化测试方法的子流程示意图；
[0013]图4为本申请实施例提供的芯片性能自动化测试方法的另一子流程示意图；
[0014]图5为本申请实施例提供的芯片性能自动化测试方法的又一子流程示意图；
[0015]图6为本申请实施例提供的芯片性能自动化测试方法的再一子流程示意图；
[0016]图7为本申请实施例提供的芯片性能自动化测试方法的另一子流程示意图；
[0017]图8为本申请实施例提供的芯片性能自动化测试方法的又一子流程示意图；
[0018]图9为本申请实施例提供的芯片性能自动化测试装置的示意性框图；
[0019]图10为本申请实施例提供的计算机设备的示意性框图。
具体实施方式
[0020]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0021]应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片性能自动化测试方法，应用于智能终端中，所述智能终端中装配有待测试的目标芯片，其特征在于，包括：获取所述目标芯片的测试预期信息，将所述测试预期信息中的各项参数配置于预设的测试用例参数库；所述测试预期信息包括预期运行参数、预期存储参数以及预期数据传输参数；获取测试环境参数，将所述测试环境参数配置于预设的测试环境参数库；建立基于所述测试用例参数库以及所述测试环境参数库的运行库并生成与所述测试预期信息及所述测试环境参数对应的测试脚本配置于所述运行库；根据所述测试用例参数库、所述环境信息参数库以及所述运行库建立自动化测试模型；根据所述自动化测试模型获取与所述目标芯片相匹配的测试程序并连接；通过所述测试程序获取所述目标芯片的运行状态参数配置于所述运行库并生成对应的运行脚本，所述运行状态参数包括当前运行参数、当前存储参数以及当前数据传输参数；将所述运行脚本与所述测试脚本进行对比验证，以生成与对比验证结果对应的评估结果信息。2.根据权利要求1所述的芯片性能自动化测试方法，其特征在于，所述将所述测试预期信息中的各项参数配置于预设的测试用例参数库，包括：基于测试预期信息中预期运行参数、预期存储参数以及预期数据传输参数的多种组合关系生成对应的多个测试用例；将多个所述测试用例按优先级进行顺序排列；根据所述测试用例的排序结果分别生成对应的测试用例参数库；将各所述测试用例对应的预期运行参数、预期存储参数以及预期数据传输参数配置于与所述测试用例对应的测试用例参数库。3.根据权利要求2所述的芯片性能自动化测试方法，其特征在于，所述获取测试环境参数，将所述测试环境参数配置于预设的测试环境参数库，包括：获取测试环境信息并进行分类，得到多个基于测试环境预期的所述测试环境参数；基于多个所述测试环境参数的多种组合关系生成对应的多个环境评估用例；将多个所述环境评估用例按优先级进行顺序排列并得到对应序号；根据所述环境评估用例的排序结果分别生成对应的测试环境参数库；将各所述环境评估用例对应的测试环境参数配置于与所述环境评估用例对应的测试环境参数库。4.根据权利要求3所述的芯片性能自动化测试方法，其特征在于，所述建立基于所述测试用例参数库以及所述测试环境参数库的运行库并生成与所述测试预期信息及所述测试环境参数对应的测试脚本配置于所述运行库，包括：根据获取到的所述测试用例参数库的序号以及所述测试环境参数库的序号对所述测试用例参数库以及所述测试环境参数库进行配对组合，得到所述运行库；基于运行库中配对的测试用例参数库及测试环境参数库中配置的各项参数生成对应的测试脚本；将所生成各所述测试脚本配置于所述运行库中。
5.根据权利要求4所述的芯片性能自动化测试方法，其特征在于，所述根据所述自动化测试模型获取与所述目标芯片相匹配的测试程序并连接之后，还包括：根据所述运行库中配置...

【专利技术属性】
技术研发人员：张业，张松源，魏桂芳，
申请(专利权)人：东莞忆联信息系统有限公司，
类型：发明
国别省市：