【技术实现步骤摘要】
一种多通道数字隔离芯片的隔离测试方法
[0001]本专利技术涉及精密电子设备及集成电路数字隔离芯片输出信号隔离测试领域，适用于一种多通道数字隔离芯片的隔离测试方法。
技术介绍
[0002]随着集成电路技术的不断进步，多通道数字隔离芯片实现了更高的集成度。现代的多通道数字隔离芯片可以在一个单一芯片上实现多个输入通道和输出通道，降低了系统复杂性和成本，随着数字通信和数据处理的需求增加，多通道数字隔离芯片的传输速率也得到提升。现在的多通道数字隔离芯片支持更高的数据传输速率，满足了高速通信系统的需求，随着对能源效率要求的提高，多通道数字隔离芯片的功耗也逐渐降低。低功耗设计使得芯片适用于低能耗设备和便携式设备，延长了电池寿命，多通道数字隔离芯片在抵御外部干扰方面有了显著的改进。现代的芯片结构和设计使其能够有效地抑制电磁干扰和噪声，提供更可靠的数据隔离和传输，安全性：对于一些关键应用领域，如工业控制、医疗设备等，多通道数字隔离芯片的安全性要求越来越高。现代芯片通过采用安全隔离技术和防护措施来保护数据和系统的安全，它们被用于工业自动化、电...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种多通道数字隔离芯片的隔离测试方法，其特征在于：包括，S1、接收输入信号，并对输入信号进行处理得到处理后的输入信号；S2、通过编码处理后的输入信号生成脉冲信号；S3、通过消除脉冲信号电磁干扰信号，并恢复脉冲信号为上升沿信号和下降沿信号，上升沿信号和下降沿信号输入片上变压器，将数字信号转换为功率信号；S4、功率信号驱动片上变压器产生高质量信号，高质量信号传入副边；S5、副边输出输出信号并进行记录结果；S6、验证记录结果。2.根据权利要求1所述的一种多通道数字隔离芯片的隔离测试方法，其特征在于：通过信号输入处理对输入信号进行消除滤波和整流处理。3.根据权利要求2所述的一种多通道数字隔离芯片的隔离测试方法，其特征在于：所述脉冲信号包括双脉冲信号和单脉冲信号；通过编码器接收消除滤波和整流处理后的信号，通过对消除滤波和整流处理后的信号的上升沿和下降沿分别产生双脉冲信号和单脉冲信号。4.根据权利要求1所述的一种多通道数字隔离芯片的隔离测试方法，其特征在于：消除脉冲信号中的电磁干扰信号，并恢复脉冲信号为上升沿信号和下降沿信号，通过刷新电路对脉冲信号进行延时调整，通过延时电路来调整延时时间，通过偏置电流电路对上升沿信号和下降沿信号进行温度调整。5.根据权利要求4所述的一种多通道数字隔离芯片的隔离测试方法，其特征在于：功率信号驱动片上变压器产生高质量信号，高质量信号传入副边接收模块，包括以下内容：通过变压器中的电感线圈将数字信号进行转化得到所述功率信号；所述高质量信号即通将含有外界电磁信号干扰产生的额外脉冲信号进行宽度限制，进而进行消除外界电磁信号的干扰。6.根据权利要求5所述的一种多通道数字隔离芯片的隔离测试方法，其特征在于：所述记录结果包括，输入通道测试结果、输出通道测试结果、隔离性测试结果、响应时间测试结果、抗干扰性测试结果、温度变化测试结果、可靠性测试结果；所述输入通道测试：确定多通道数字隔离芯片的输入通道数量，并测试每个输入通道的功能和性能，输入通道测试内容包括输入电压范围、输入电流、功耗；所述输出通道测试：确定多通道数字隔离芯片的输出通道数量，并测试每个输出通道的功能和性能，输出通道测试内容包括输出电压范围、输出电流、驱动能力；所述隔离性测试：测试多通道数字隔离芯片的输入通道之间的隔离性能，确保输入信号不会相互干扰，通过发送不同信号到各个输入通道并检测输出的信号是否有受到干扰；所述响应时间测试：测试多通道数字隔离芯片的输出通道的响应时间，即输入信号变化后，输出信号的变化时间；所述抗干扰性测试：测试多通道数字隔离芯片对于外部干扰的抗干扰能力，确保在干扰环境下芯片的正常工作；所述温度变化测试：测试多通道数字隔离芯片在不同温度下的工作性能和稳定性，通道测试内容包括输入输出通道的温度漂移、温度影响；所述可靠性测试：测试多通道数字隔离芯片在长时间运行、高负载条件下的可靠性和
稳定性，通道测试内容包括持续性测试、高负载测试。7.一种多通道数字隔离芯片的隔离测试系统，其特征在于：发送模块，包括用于接收输入信号并对输入信号进行处理的信号输入处理单元；根据输入信号生成上升沿和下降沿对应的脉冲信号的编码器；用于解决长时间输入信号为高电平或者低电平导致片上变压器的两端会长时间保持为低/高电平的刷新电路单元；用于产生零温电流的偏置电流单元；副边接收模块，包括用于对产生电磁信号干扰产生额外脉冲进行宽度限制的单稳态单元；脉冲恢复单元用于...
【专利技术属性】
技术研发人员：王婕，张革远，李浪标，王风华，邢万荣，
申请(专利权)人：苏州四方杰芯电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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