一种用于芯片的trim方法技术

本发明专利技术公开了一种用于芯片的trim方法。本发明专利技术利用芯片自带的电源引脚VDD、地引脚GND和输出引脚OUT控制芯片进行trim，其中利用输出引脚OUT作为trim过程的数据输入输出引脚，电源引脚VDD作为trim过程的时钟信号输入引脚，控制trim过程中对EFUSE的Trimming_Data的烧写，从而通过利用芯片已有的引脚进行trim，简化了trim方法，并且不会引入额外的引脚，节约成本。成本。成本。

【技术实现步骤摘要】
一种用于芯片的trim方法


[0001]本专利技术属于芯片trim
，具体涉及一种用于芯片的trim方法。

技术介绍

[0002]一个芯片的研发流程包括电路设计，生产封装，测试。在芯片生产完成后，需对大量生产的芯片进行测试检验功能，保证客户拿到的芯片具有高质量，高可靠性的特点。在生产过程中，由于工艺的偏差，同一种设计的芯片依旧在性能上依旧可能存在很大的差异，因此需要经过测试和修正，这对提高产品的可靠性和良品率有很大的帮助。
[0003]测试阶段可分为一下几种测设：1.特性测试：适合于芯片研发阶段的测试，是验证芯片准确性的测试，通过特性测试保证芯片的电学特性符合客户需求。2.生产测试：芯片在量产阶段的测试，需要特性测试程序，保证进入符合要求的的芯片进入下一阶段。3.可靠性测试：芯片通过了特性测试之后，也不能完全肯定其质量。因为特性测试只是验证了芯片的电学参数。但是不能确定在长时间使用中是否能满足客户需求。因此需要在不同外界条件和时间下对芯片功能进行测试。4.成品测试：这个阶段的测试主要由用户来进行。因为芯片经过运输或贮存，可能会产生本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于芯片的trim方法，其特征在于，利用芯片自带的电源引脚VDD、地引脚GND和输出引脚OUT控制芯片进行trim，定义trim过程芯片包括三种工作模式，分别为按照设定方式进行工作的正常工作模式、控制芯片进入确定trimming_data的debug模式、将trimming_data烧写到存储器的trim模式，其中trimming_data是指trim过程获取的修调数据；具体trim过程包括：S1、在芯片上电进入正常工作模式后，读取芯片内部NVM中存储的Trimming_Data，NVM为一次性可编程存储器，在未烧写前，NVM中的数据全部为0，根据读取的数据判断NVM是否烧写，若未烧写，则将输出引脚OUT设置为输入端口，并检测输出引脚OUT接收到的信号，如果在芯片完成正常上电流程后的时间T1内，输出引脚OUT的接收信号为高电平且输入高电平的时间Tp大于设定的阈值时间T1，Tp>T1，...

【专利技术属性】
技术研发人员：张仁辉，叶约汉，刘毅成，
申请(专利权)人：成都能海昇芯科技有限责任公司，
类型：发明
国别省市：