生成测试向量的方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本公开涉及芯片测试技术领域，提供一种生成测试向量的方法、装置、电子设备及存储介质，旨在提高测试向量的生成效率。其中，生成测试向量的方法包括：接收对寄存器指令集的修改；其中，原始的寄存器指令集是根据待测电路的仿真波形生成的；再根据修改后的寄存器指令集生成测试向量，所述测试向量用于测试所述待测电路。本公开中，当需要生成新的测试向量时，只需要对已有的寄存器指令集进行修改，再根据修改后的寄存器指令集生成新的测试向量，而不需要重新生成仿真波形和根据新的仿真波形生成新的测试向量。本公开可以提高测试向量的生成效率，进而有利于缩短芯片测试周期。进而有利于缩短芯片测试周期。进而有利于缩短芯片测试周期。

【技术实现步骤摘要】
生成测试向量的方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本公开涉及芯片测试
，尤其涉及一种生成测试向量的方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]在芯片量产前的阶段，传统的芯片测试流程通常是：首先通过仿真生成VCD（Value Change Dump）波形，然后将VCD波形转换成测试向量pattern，从而在测试机平台ATE上基于测试向量pattern进行在线调试，并判断调试结果是否符合预期；如果调试结果不符合预期，则需要调整寄存器的值和/或等待时间，接着再次通过仿真生成新的VCD波形，然后将新的VCD波形转换成新的测试向量pattern，从而再次在测试机平台ATE上基于新的测试向量pattern进行在线调试，并判断调试结果是否符合预期；如果调试结果仍然不符合预期，则需要再次重复上述过程。可见，传统方案中测试向量的迭代效率低，导致测试周期较长。

技术实现思路

[0003]本公开的目的是提供一种生成测试向量的方法、装置、电子设备及存储介质，旨在提高测试向量的生成效率。
[0004]根据本公开的一个方面本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种生成测试向量的方法，所述方法包括：接收对寄存器指令集的修改；其中，原始的寄存器指令集是根据待测电路的仿真波形生成的；根据修改后的寄存器指令集生成测试向量，所述测试向量用于测试所述待测电路。2.根据权利要求1所述的方法，所述修改后的寄存器指令集中包括一个或多个目标指令组，所述目标指令组是本次修改后的寄存器指令所在的指令组；所述根据修改后的寄存器指令集生成测试向量，包括：根据每个目标指令组对应的操作类型和指令相关信息，将所述指令相关信息填充至所述操作类型对应的测试向量模板，生成每个目标指令组各自对应的子测试向量；根据每个目标指令组各自对应的子测试向量，生成测试向量。3.根据权利要求2所述的方法，寄存器指令集中包括M个寄存器指令，所述M个寄存器指令分为N个指令组，每个指令组中包括多个连续的寄存器指令，每个指令组对应一次操作；相同操作类型的多次操作对应的多个指令组之间，具有彼此相同的第一寄存器指令和不全部相同的第二寄存器指令；每种操作类型对应一种测试向量模板，每种测试向量模板中包括固定向量信息和填充槽位，所述固定向量信息对应于相应操作类型对应的第一寄存器指令，所述填充槽位用于填充指令相关信息，所述指令相关信息对应于相应操作类型对应的第二寄存器指令。4.根据权利要求2所述的方法，每个目标指令组对应的操作类型是以下多种操作类型中的一种：读、写、等待。5.根据权利要求2所述的方法，每个目标指令组对应的指令相关信息包括地址和数据。6.根据权利要求1所述的方法，所述方法还包括：根据所述待测电路的仿真波形生成原始的寄存器指令集。7.根据权利要求6所述的方法，所述根据所述待测电路的仿真波形生成原始的寄存器指令集，包括：根据所述待测电路的仿真波形，获得测试向量相关信息；其中，所述测试向量相关信息包括多路与状态机协议相关的信号信息；按照时钟周期的顺序...

【专利技术属性】
技术研发人员：张亚运，
申请(专利权)人：北京象帝先计算技术有限公司，
类型：发明
国别省市：